zhpsЖурнал прикладной спектроскопииZhurnal Prikladnoii Spektroskopii0514-7506B. I. Stepanov Institute of Physics of the National Academy of Scienceszhps-114Research ArticleКРАТКИЕ СООБЩЕНИЯBRIEF COMMUNICATIONSОПТИЧЕСКИЕ КОНСТАНТЫ СЕЛЕНИДА ЦИНКА В ВИДИМОМ И ИНФРАКРАСНОМ ДИПАЗОНАХ СПЕКТРАOPTICAL CONSTANTS OF ZINC SELENIDE IN VISIBLE AND INFRARED SPECTRAL RANGESQiH. .QiH. .noemail@neicon.ruZhangX. .ZhangX. .noemail@neicon.ruJiangM. .JiangM. .noemail@neicon.ruWangQ. .WangQ. .noemail@neicon.ruLiD. .LiD. .Lidonglvyan@126.comШкола архитектуры и гражданского строительства, Северо-Восточный нефтяной университет; Школа механических наук и инженерии, Северо-Восточный нефтяной университетSchool of Architecture and Civil Engineering, Northeast Petroleum University; School of Mechanical Science and Engineering, Northeast Petroleum UniversityШкола архитектуры и гражданского строительства, Северо-Восточный нефтяной университетSchool of Architecture and Civil Engineering, Northeast Petroleum UniversityШкола механических наук и инженерии, Северо-Восточный нефтяной университетSchool of Architecture and Civil Engineering, Northeast Petroleum University; School of Mechanical Science and Engineering, Northeast Petroleum University201710032020844660663Copyright © Qi H..., Zhang X..., Jiang M..., Wang Q..., Li D..., 20202020Qi H..., Zhang X..., Jiang M..., Wang Q..., Li D...Qi H..., Zhang X..., Jiang M..., Wang Q..., Li D...Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://zhps.ejournal.by/jour/article/view/114

Спектр пропускания ZnSe в ИК и видимом диапазонах при нормальном падении исследован с помощью спектрометра IR-Tracer-100 и двухлучевого спектрометра видимого диапазона TU-19. Оптические константы ZnSe получены на основе моделирования коэффициентов пропускания двух пластинок ZnSe. Получено, что пропускание пластинки ZnSe выше 0.7 в диапазоне 2.5-15 мкм, однако оно резко падает, когда длина волны >15 мкм. Показатель преломления ZnSe ~2.6-2.8 в диапазоне 0.55-0.85 мкм и ~2.2-2.4 в диапазоне 2.5-20 мкм. Коэффициент экстинкции ZnSe ~10-8-10-6 в диапазоне 0.55-0.85 мкм и ~10-5-10-4 в диапазоне 2.5-20 мкм.

Transmittance spectrum of ZnSe in the infrared and visible wavelength range at normal incidence was investigated by an IRTracer-100 spectrometer and a TU-19 Double-BeamVisible spectrophotometer, and the optical constants of ZnSe were obtained based on modelling transmittances of two ZnSe slabs. The results show that the transmittance values of the ZnSe slabs are higher than 0.7 in the wavelength range of 2.5-15 mm; however they decrease dramatically when the wavelength is larger than 15 mm. The refractive index of ZnSe varies within 2.6-2.8 in the wavelength range of 0.55-0.85 mm and 2.2-2.4 in the wavelength range of 2.5-20 mm. The extinction coefficient of ZnSe varies within 10-8-10-6 in the wavelength range of 0.55-0.85 mm and 10-5-10-4 in the wavelength range of 2.5-20 mm.

селенид цинкаоптические константыспектр пропусканияzinc selenideoptical constantstransmittance spectraReferencesH. Morkoc, S. Strite, G. B. Gao, M.E. Lin, B. Serdlov M. Burns, J. Appl. Phys., 76, 1363-1398 (1994).H. Morkoc, S. Strite, G. B. Gao, M.E. Lin, B. Serdlov M. Burns, J. Appl. Phys., 76, 1363-1398 (1994).R. M. Park, M. B. Troffer, C. M. Rouleau, J. M. DePuydt, M. A. Haase, Appl. Phys. Lett., 57, 2127-2129 (1990).R. M. Park, M. B. Troffer, C. M. Rouleau, J. M. DePuydt, M. A. Haase, Appl. Phys. Lett., 57, 2127-2129 (1990).H. Jeon, J. Ding, W. Patterson, A. V. Nurmikko, W. Xie, D. C. Grillo, M. Kobayashi, R. L. Gunshor, Appl. Phys. Lett., 59, 3619-3621 (1991).H. Jeon, J. Ding, W. Patterson, A. V. Nurmikko, W. Xie, D. C. Grillo, M. Kobayashi, R. L. Gunshor, Appl. Phys. Lett., 59, 3619-3621 (1991).P. Reiss, J. Bleuse, A. Pron, Nano Lett., 2, 781-784 (2002).P. Reiss, J. Bleuse, A. Pron, Nano Lett., 2, 781-784 (2002).Q. Peng, Y. Dong, Y. Li, Angew. Chem. Int. Ed., 42, 3027-3030 (2003).Q. Peng, Y. Dong, Y. Li, Angew. Chem. Int. Ed., 42, 3027-3030 (2003).J. Sharma, S. K. Tripathi, Phys. B: Condens. Matter, 406, 1757-1762 (2011).J. Sharma, S. K. Tripathi, Phys. B: Condens. Matter, 406, 1757-1762 (2011).M. A. Abdel-Rahim, M. M. Hafiz, A. E. B. Alwany, Opt. Laser Technol., 47, 88-941 (2013).M. A. Abdel-Rahim, M. M. Hafiz, A. E. B. Alwany, Opt. Laser Technol., 47, 88-941 (2013).K. V. Anikin, N. N. Melnik, A. V. Simakin, G. A. Shafeev, V. V. Voronov, A. G. Vitukhnovsky, Chem. Phys. Lett., 366, 357-360 (2002).K. V. Anikin, N. N. Melnik, A. V. Simakin, G. A. Shafeev, V. V. Voronov, A. G. Vitukhnovsky, Chem. Phys. Lett., 366, 357-360 (2002).G. N. Karanikolos, P. Alexandridis, R. Mallory, A. Petrou, T. J. Mountziaris, Nanotechnology, 16, 2372 (2005).G. N. Karanikolos, P. Alexandridis, R. Mallory, A. Petrou, T. J. Mountziaris, Nanotechnology, 16, 2372 (2005).D. Li, H. B. Qi, G. Z. Wu, Optik, 126, 834-837 (2015).D. Li, H. B. Qi, G. Z. Wu, Optik, 126, 834-837 (2015).S. Adachi, T. Taguchi, Phys. Rev. B, 43, 9569 (1991).S. Adachi, T. Taguchi, Phys. Rev. B, 43, 9569 (1991).M. Aven, D. T. F. Marple, B. Segall, J. Appl. Phys., 32, 2261-2265 (1961).M. Aven, D. T. F. Marple, B. Segall, J. Appl. Phys., 32, 2261-2265 (1961).C. C. Kim, S. Sivananthan, Phys. Rev. B, 53, 1475 (1996).C. C. Kim, S. Sivananthan, Phys. Rev. B, 53, 1475 (1996).J. L. Merz, H. Kukimoto, K. Nassau, J. W. Shiever, Phys. Rev. B, 6, 545 (1972).J. L. Merz, H. Kukimoto, K. Nassau, J. W. Shiever, Phys. Rev. B, 6, 545 (1972).N. Sankar, K. Ramachandran, J. Cryst. Growth, 247, 157-165 (2003).N. Sankar, K. Ramachandran, J. Cryst. Growth, 247, 157-165 (2003).D. Li, Q. Ai, X. L. Xia, Jpn. J. Appl. Phys., 52, 046602 (2013).D. Li, Q. Ai, X. L. Xia, Jpn. J. Appl. Phys., 52, 046602 (2013).D. Li, Q. Ai, X. L. Xia, Optik, 124, 5177-5180 (2013).D. Li, Q. Ai, X. L. Xia, Optik, 124, 5177-5180 (2013).R. Islam, D. R. Rat, Opt. Mater., 7, 47-50 (1997).R. Islam, D. R. Rat, Opt. Mater., 7, 47-50 (1997).M. A. Khashan, A. M. El-Naggar, Opt. Commun., 174, 445-453 (2000).M. A. Khashan, A. M. El-Naggar, Opt. Commun., 174, 445-453 (2000).M. S. Selim, E. Metwalli, Mater. Chem. Phys., 78, 94-98 (2002).M. S. Selim, E. Metwalli, Mater. Chem. Phys., 78, 94-98 (2002).S. Y. El-Zaiat, M. B. El-Den, S. U. El-Kameesy, Y. A. El-Gammam, Opt. Laser Technol., 44, 1270-1276 (2012).S. Y. El-Zaiat, M. B. El-Den, S. U. El-Kameesy, Y. A. El-Gammam, Opt. Laser Technol., 44, 1270-1276 (2012).J. M. Gonzalez-Leal, E. Marquez, A. M. Bernal-Oliva, J. J. Ruiz-Perez, R. Jimenez-Garay, Thin Solid Films, 317, 223-227 (1998).J. M. Gonzalez-Leal, E. Marquez, A. M. Bernal-Oliva, J. J. Ruiz-Perez, R. Jimenez-Garay, Thin Solid Films, 317, 223-227 (1998).A. P. Caricato, A. Fazzi, G. Leggieri, Appl. Surf. Sci., 248, 440-445 (2005).A. P. Caricato, A. Fazzi, G. Leggieri, Appl. Surf. Sci., 248, 440-445 (2005).V. Dhanasekaran, T. Mahalingam, J. K. Rhee, J. P. Chu, Optik, 124, 255-260 (2013).V. Dhanasekaran, T. Mahalingam, J. K. Rhee, J. P. Chu, Optik, 124, 255-260 (2013).C. M. I. Okoye, Phys. B: Condens. Matter, 337, 1-9 (2003).C. M. I. Okoye, Phys. B: Condens. Matter, 337, 1-9 (2003).J. Kvietkov, B. Daniel, M. Hetterich, M. Schubert, D. Spemann, Thin Solid Films, 455-456, 228-230 (2004).J. Kvietkov, B. Daniel, M. Hetterich, M. Schubert, D. Spemann, Thin Solid Films, 455-456, 228-230 (2004).O. S. Heavens, J. Mod. Opt., 39, 189-189 (1992).O. S. Heavens, J. Mod. Opt., 39, 189-189 (1992).

The authors declare that there are no conflicts of interest present.