zhpsЖурнал прикладной спектроскопииZhurnal Prikladnoii Spektroskopii0514-7506B. I. Stepanov Institute of Physics of the National Academy of Scienceszhps-1187Research ArticleАННОТАЦИИ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ СТАТЕЙABSTRACTS ENGLISH-LANGUAGE ARTICLESОптические и спектральные свойства наночастиц ZnO, диспергированных в жидкокристаллических соединениях пара-н-октилоксибензойной кислотыOptical and Spectral Properties of Dispersed ZnO p-n-Octyloxy Benzoic Acid Liquid Crystalline CompoundsSajiniK.SajiniK.

Мачилипатнам

Department of Chemistry, 

Machilipatnam

dachuru@gmail.comJayapradaP.JayapradaP.

Виджаявада

Department of Physics,

Vijayawada

PardhasaradhiP.PardhasaradhiP.

Гунтур

Guntur

MadhavB.T.P.MadhavB.T.P.

Гунтур

Guntur

RaoM. C.RaoM. C.

Виджаявада

Department of Physics, 

Vijayawada

ReddyD.R.S.ReddyD. R. S.

Мачилипатнам

Department of Chemistry, 

Machilipatnam

ManepalliR.K.N.R.ManepalliR. K. N. R.

Вишакхапатнам

Department of Physics, 

Visakhapatnam

manepalli.67@gmail.comУниверситет КришныKrishna UniversityКолледж Андхра ЛойолаAndhra Loyola CollegeLCRC-R&D, Образовательный фонд Конеру ЛакшмайяLCRC-R&D, Department of ECE, Koneru Lakshmaiah Education FoundationУниверситет АндхраAndhra University202202122022896900900Copyright © Sajini K., Jayaprada P., Pardhasaradhi P., Madhav B., Rao M.C., Reddy D., Manepalli R., 20222022Sajini K., Jayaprada P., Pardhasaradhi P., Madhav B., Rao M.C., Reddy D., Manepalli R.Sajini K., Jayaprada P., Pardhasaradhi P., Madhav B., Rao M.C., Reddy D., Manepalli R.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://zhps.ejournal.by/jour/article/view/1187

Рассмотрена гомогенная дисперсия наночастиц (НЧ) ZnO в концентрациях 1, 1.5, 2 и 2.5 мас.% в жидкокристаллических соединениях пара-н-октилоксибензойной кислоты (8oba). Сканирующая электронная микроскопия использована для определения морфологии дисперсных НЧ ZnO в жидкокристаллических соединениях, поляризационная оптическая микроскопия и дифференциальная сканирующая калориметрия — для вычисления температуры фазового перехода этих соединений. Клиновидный модифицированный спектрометр применен для определения показателей преломления на длинах волн 460, 500, 570 и 635 нм. Показано, что при увеличении концентрации НЧ ZnO возрастают значения двулучепреломления (δn) и параметра порядка (S). 

ZnO nanoparticles (NPs) are used in many electro-optical applications due to their special characteristic properties. NPs improve the optical parameters of liquid crystalline molecules. The main theme of this paper focuses on the homogeneous dispersion of ZnO NPs in small concentrations, i.e. 1, 1.5, 2, and 2.5 wt% in liquid crystal compounds of p-n-octyloxy benzoic acid (8oba). Scanning electron microscopy is used to ascertain the morphology of the dispersed ZnO NPs in liquid crystal compounds. Polarizing optical microscopy and differential scanning calorimetry are used to determine the phase transition temperatures of these compounds. The wedge-shaped modified spectrometer is used to determine the refractive indices at different wavelengths, visually 460, 500, 570, and 635 nm. The values of the birefringence (δn) and order parameter (S) are enhanced with the dispersion of increasing concentrations of ZnO NPs. 

соединение пара-н-октилоксибензойной кислотынаночастицы ZnOсканирующая электронная микроскопияполяризационная оптическая микроскопиядифференциальная сканирующая калориметриядвулучепреломлениепараметр порядка.p-n-octyloxy benzoic acid compoundZnO nanoparticlesscanning electron microscopypolarizing optical microscopydifferential scanning calorimetrybirefringenceorder parameterReferencesS. Grollau, N. L. Abbott, J. J. de Pablo, Phys. Rev., E67, 051703 (2003).S. Grollau, N. L. Abbott, J. J. de Pablo, Phys. Rev., E67, 051703 (2003).C. J. Loudet, P. Barois, P. Poulin, Nature, 407, 611–613 (2000).C. J. Loudet, P. Barois, P. Poulin, Nature, 407, 611–613 (2000).D. Andrienko, M. P. Allen, G. Skacej, S. Zumer, Phys. Rev., E65, 041702 (2000).D. Andrienko, M. P. Allen, G. Skacej, S. Zumer, Phys. Rev., E65, 041702 (2000).S. J. Woltmann, G. D. Jay, G. P. Crawford, Nature Mater., 6, 929–938 (2007).S. J. Woltmann, G. D. Jay, G. P. Crawford, Nature Mater., 6, 929–938 (2007).H. Eskalen, S. Ozgan, U. Alver, S. Kerli, Acta Phys. Pol. A, 127, 756–760 (2015).H. Eskalen, S. Ozgan, U. Alver, S. Kerli, Acta Phys. Pol. A, 127, 756–760 (2015).K. K. Vardanyan, E. D. Palazzo, R. D. Walton, Liq. Cryst., 38, 709–715 (2011).K. K. Vardanyan, E. D. Palazzo, R. D. Walton, Liq. Cryst., 38, 709–715 (2011).W. T. Chen, P. S. Chen, C. Y. Chao, Jpn. J. Appl. Phys., 48, 015006 (2009).W. T. Chen, P. S. Chen, C. Y. Chao, Jpn. J. Appl. Phys., 48, 015006 (2009).Y. Reznikov, O. Buchnev, O. Tereshchenko, V. Reshetnyak, A. Glushchenko, J. West, Appl. Phys. Lett., 82, 1917–1919 (2003).Y. Reznikov, O. Buchnev, O. Tereshchenko, V. Reshetnyak, A. Glushchenko, J. West, Appl. Phys. Lett., 82, 1917–1919 (2003).W. Lee, C. Y. Wang, Y. C. Shih, Appl. Phys. Lett., 85, 513–515 (2004).W. Lee, C. Y. Wang, Y. C. Shih, Appl. Phys. Lett., 85, 513–515 (2004).C. W. Lee, W. P. Shih, Mater. Lett., 64, 466–468 (2010).C. W. Lee, W. P. Shih, Mater. Lett., 64, 466–468 (2010).A. Maleki, M. H. M. Ara, F. Saboohi, Phase Transit., 90, 371–379 (2016).A. Maleki, M. H. M. Ara, F. Saboohi, Phase Transit., 90, 371–379 (2016).M. Rahman, W. Lee, J. Phys. D: Appl. Phys., 42, 063001 (2009).M. Rahman, W. Lee, J. Phys. D: Appl. Phys., 42, 063001 (2009).A. K. Misra, A. K. Srivastava, J. P. Shukla, R. Manohar, Phys. Scr., 78, 065602 (2008).A. K. Misra, A. K. Srivastava, J. P. Shukla, R. Manohar, Phys. Scr., 78, 065602 (2008).J. L. Gomez, O. Tigli, J. Mater. Sci., 48, No. 2, 612–624 (2013).J. L. Gomez, O. Tigli, J. Mater. Sci., 48, No. 2, 612–624 (2013).H. Jiang, N. Toshima, Chem. Lett., 38, 566–567 (2009).H. Jiang, N. Toshima, Chem. Lett., 38, 566–567 (2009).A. Malik, A. Choudhary, P. Silotia, A. M. Biradar, J. Appl. Phys., 110, 064111 (2011).A. Malik, A. Choudhary, P. Silotia, A. M. Biradar, J. Appl. Phys., 110, 064111 (2011).S. Supreet, S. Kumar, K. Raina, R. Pratibha, Liq. Cryst., 40, No. 2, 228–236 (2013).S. Supreet, S. Kumar, K. Raina, R. Pratibha, Liq. Cryst., 40, No. 2, 228–236 (2013).N. Pushpavathi, K.L. Sandhya, S. Krishna Prasad, J. Mol. Liq., 302, 112571 (2020).N. Pushpavathi, K.L. Sandhya, S. Krishna Prasad, J. Mol. Liq., 302, 112571 (2020).D. Jayoti, P. Malik, S. Krishna Prasad, J. Mol. Liq., 250, 381–387 (2018).D. Jayoti, P. Malik, S. Krishna Prasad, J. Mol. Liq., 250, 381–387 (2018).A. Sharma, P. Malik Ravindra Dhar, Pankaj Kumar, Bull. Mater. Sci., 42, 215–227 (2019).A. Sharma, P. Malik Ravindra Dhar, Pankaj Kumar, Bull. Mater. Sci., 42, 215–227 (2019).A. K. Misra, P. K. Tripathi, K. K. Pandey, B. P. Singh, R. Manohar, J. Dis. Sci. Tech., 41, 2136–2142 (2019).A. K. Misra, P. K. Tripathi, K. K. Pandey, B. P. Singh, R. Manohar, J. Dis. Sci. Tech., 41, 2136–2142 (2019).E. Mavrona, U. Chodorow, M. E. Barnes, J. Parka, N. Palka, S. Saitzek, J.-F. Blach, V. Apostolopoulos, AIP Adv., 5, 077143 (2015).E. Mavrona, U. Chodorow, M. E. Barnes, J. Parka, N. Palka, S. Saitzek, J.-F. Blach, V. Apostolopoulos, AIP Adv., 5, 077143 (2015).R. G. Pathak, A. Srivastava, J. Herman, R. Manohar, J. Mol. Liq., 255, 93–101 (2018).R. G. Pathak, A. Srivastava, J. Herman, R. Manohar, J. Mol. Liq., 255, 93–101 (2018).K. V. Surya Narayana Raju, S. Salma Begum, B. Dharma Sagar, Shaik Babu, Rasayan, J. Chem., 10, No. 1, 37–45 (2017).K. V. Surya Narayana Raju, S. Salma Begum, B. Dharma Sagar, Shaik Babu, Rasayan, J. Chem., 10, No. 1, 37–45 (2017).R. K. N. R. Manepalli, G. Giridhar, P. Pardhasaradhi, P. Jayaprada, M. Tejaswi, K. Sivaram, Ch. Mohan Kumara, V. G. K. M. Pisipati, Mater. Today Proc., 5, 2666–2676 (2018).R. K. N. R. Manepalli, G. Giridhar, P. Pardhasaradhi, P. Jayaprada, M. Tejaswi, K. Sivaram, Ch. Mohan Kumara, V. G. K. M. Pisipati, Mater. Today Proc., 5, 2666–2676 (2018).P. Jayaprada, P. Pardhasaradhi, B. T. P. Madhav, G. Giridher, M. C. Rao, R. K. N. R. Manepalli, V. G. K. M. Pisipati, Optics, 689, 10–33 (2019).P. Jayaprada, P. Pardhasaradhi, B. T. P. Madhav, G. Giridher, M. C. Rao, R. K. N. R. Manepalli, V. G. K. M. Pisipati, Optics, 689, 10–33 (2019).J. I. Goldstein, Dale E. Newbury, P. Echlin, D. C. Joy, C. Fiori, E. Lifshin, Plenum Press, New York (1981).J. I. Goldstein, Dale E. Newbury, P. Echlin, D. C. Joy, C. Fiori, E. Lifshin, Plenum Press, New York (1981).B. J. Zywucki, W. Kuczynski, IEEE Trans., 8, No. 3, 512–515 (2001).B. J. Zywucki, W. Kuczynski, IEEE Trans., 8, No. 3, 512–515 (2001).W. Kuczyński, B. Żywucki, J. Małecki, Mol. Crys. Liq. Cryst., 381, No. 1, 1–19 (2002).W. Kuczyński, B. Żywucki, J. Małecki, Mol. Crys. Liq. Cryst., 381, No. 1, 1–19 (2002).M. F. Vuks, Opt. Spectrosc., 20, 644–651 (1966).M. F. Vuks, Opt. Spectrosc., 20, 644–651 (1966).R. G. Horn, T. E. Faber, Proc. Royal Soc. Mat. Phys. Eng. Sci., 368, 199–223 (1733).R. G. Horn, T. E. Faber, Proc. Royal Soc. Mat. Phys. Eng. Sci., 368, 199–223 (1733).A. Kumar, Acta Phys. Polonica A, 112, No. 6, 1213–1221 (2007).A. Kumar, Acta Phys. Polonica A, 112, No. 6, 1213–1221 (2007).H. J. Kim, Y. G. Kang, H. G. Park, K. M. Lee, S. Yang, H. Y. Jung, D. S. Seo, Liq. Cryst., 38, 871–875 (2011).H. J. Kim, Y. G. Kang, H. G. Park, K. M. Lee, S. Yang, H. Y. Jung, D. S. Seo, Liq. Cryst., 38, 871–875 (2011).G. Pathaka, R. Katiyara, K. Agraharia, A. Srivastavaa, R. Dabrowskib, K. Garbatb, R. Manohara, OptoElectron. Rev., 26, 11–18 (2018).G. Pathaka, R. Katiyara, K. Agraharia, A. Srivastavaa, R. Dabrowskib, K. Garbatb, R. Manohara, OptoElectron. Rev., 26, 11–18 (2018).H. Eskalen Özgan, O. Alver, S. Kerli, Acta Phys. Polonica A, 127, 756–760 (2015).H. Eskalen Özgan, O. Alver, S. Kerli, Acta Phys. Polonica A, 127, 756–760 (2015).

The authors declare that there are no conflicts of interest present.