zhpsЖурнал прикладной спектроскопииZhurnal Prikladnoii Spektroskopii0514-7506B. I. Stepanov Institute of Physics of the National Academy of Sciences10.47612/0514-7506-2023-90-2-324-328zhps-1278Research ArticleНЕЛИНЕЙНАЯ СПЕКТРОСКОПИЯNONLINEAR SPECTROSCOPYОптическая анизотропия нанопористых пленок оксида алюминия как основа для создания ахроматических фазовых пластин с переменной разностью фаз ортогонально поляризованных компонент излучения, прошедшего пленкуNanoporous Alumina Films Optical Anisotropy as the Basis for Creation of Achromatic Phase Plates with a Variable Phase Difference of the Orthogonal PolarizedДлугуновичВ. А.DlugunovichV. A.

Минск

Minsk

ЖумарьА. Ю.ZhumarA. Yu.

Минск

Minsk

a.zhumar@ifanbel.bas-net.byМухуровН. И.MukhurovN. I.

Минск

Minsk,

mukhurov@oelt.basnet.byИнститут физики НАН БеларусиB. I. Stepanov Institute of Physics of the National Academy of Sciences of BelarusГНПО “Оптика, оптоэлектроника и лазерная техника”SSPA “Optics, Optoelectronics, and Laser Technology”202325032023902324328Copyright © Длугунович В.А., Жумарь А.Ю., Мухуров Н.И., 20232023Длугунович В.А., Жумарь А.Ю., Мухуров Н.И.Dlugunovich V.A., Zhumar A.Y., Mukhurov N.I.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://zhps.ejournal.by/jour/article/view/1278

Методом стокс-поляриметрии определены значения двулучепреломления нанопористых пленок оксида алюминия. Измерены коэффициенты пропускания пленки и степень поляризации прошедшего излучения для углов падения, при которых разность фаз ортогонально поляризованных компонент излучения, прошедшего пленку, составляет λ/4 или λ/2. С использованием модели Максвелла— Гарнета проведены оценки пористости и радиусов пор пленок. Показана возможность создания на основе нанопористой пленки оксида алюминия ахроматических фазовых пластин с переменной разностью фаз ортогонально поляризованных компонент излучения, прошедшего пленку, которые могут функционировать как четвертьволновая и полуволновая пластины.

Stokes polarimetry was used to evaluate the birefringence of nanoporous alumina films. The transmittance of the film and the degree of polarization of the transmitted radiation were measured for the angles of incidence at which the phase difference of the orthogonal polarized components of the transmitted radiation reach to λ/4 or λ/2. Using the Maxwell—Garnet model, the porosity and pore radii of the films were estimated. The possibility of creating achromatic phase plates with a variable phase difference of the orthogonal polarized components of the transmitted radiation, which can function as a quarter-wave and half-wave plates, based on a nanoporous alumina film, is shown.

нанопористая пленкаоксид алюминияпараметры Стоксадвулучепреломлениефазовая пластинатеория эффективной средыкоэффициент пропусканияnanoporous filmaluminaStokes parametersbirefringencephase plateeffective medium theorytransmittanceReferencesМ. Борн, Э. Вольф. Основы оптики, Москва, Наука (1973)М. Борн, Э. Вольф. Основы оптики, Москва, Наука (1973)Л. А. Головань, В. Ю. Тимошенко, П. К. Кашкаров. УФН, 177 (2007) 619––638Л. А. Головань, В. Ю. Тимошенко, П. К. Кашкаров. УФН, 177 (2007) 619––638T. Kikuchi, O. Nishinaga, Sh. Natsui, R. O. Suzuki. Electron. Acta, 156 (2015) 235––243T. Kikuchi, O. Nishinaga, Sh. Natsui, R. O. Suzuki. Electron. Acta, 156 (2015) 235––243L. Micheli, N. Sarmah, H. Luo, K. S. Reddy, T. Mallick. Renewable and Sustainable Energy Reviews, 20 (2013) 595––610L. Micheli, N. Sarmah, H. Luo, K. S. Reddy, T. Mallick. Renewable and Sustainable Energy Reviews, 20 (2013) 595––610D. H. Goldstein. Polarized Light, New York, Marcel Dekker (2003)D. H. Goldstein. Polarized Light, New York, Marcel Dekker (2003)F. Le Roy-Brehonnet, B. Le Jeune. Prog. Quant. Electron., 21 (1997) 109––151F. Le Roy-Brehonnet, B. Le Jeune. Prog. Quant. Electron., 21 (1997) 109––151R. A. Chipman. In: Handbook of Optics. Washington, D.C., Opt. Soc. Am. (1995) 22.1––22.36R. A. Chipman. In: Handbook of Optics. Washington, D.C., Opt. Soc. Am. (1995) 22.1––22.36B. J. DeBoo. Investigation of Polarization Properties Using Active Imaging Polarimetry, PhD dissertation, University of Arizona (2004)B. J. DeBoo. Investigation of Polarization Properties Using Active Imaging Polarimetry, PhD dissertation, University of Arizona (2004)В. Н. Снопко. Поляризационные характеристики оптического излучения, Минск, Навука i тэхнiка (1992)В. Н. Снопко. Поляризационные характеристики оптического излучения, Минск, Навука i тэхнiка (1992)А. Джеррард, Дж. М. Берч. Введение в матричную оптику, Москва, Мир (1978)А. Джеррард, Дж. М. Берч. Введение в матричную оптику, Москва, Мир (1978)H. Masuda, K. Fukuda. Science, 268 (1995) 1466––1468H. Masuda, K. Fukuda. Science, 268 (1995) 1466––1468N. I. Mukhurov, I. V. Gasenkova, I. M. Andrukhovich. J. Mater. Sci. Nanotechnol., 1 (2014) 110––116N. I. Mukhurov, I. V. Gasenkova, I. M. Andrukhovich. J. Mater. Sci. Nanotechnol., 1 (2014) 110––116В. Н. Снопко. Измерит. техника, № 12 (2008) 19––22В. Н. Снопко. Измерит. техника, № 12 (2008) 19––22В. А. Длугунович, А. Ю. Жумарь, Н. И. Мухуров. Журн. прикл. спектр., 85, № 5 (2018) 836––842 [V. A. Dlugunovich, A. Yu. Zhumar, N. I. Mukhurov. J. Appl. Spectr., 85 (2018) 936—941]В. А. Длугунович, А. Ю. Жумарь, Н. И. Мухуров. Журн. прикл. спектр., 85, № 5 (2018) 836––842 [V. A. Dlugunovich, A. Yu. Zhumar, N. I. Mukhurov. J. Appl. Spectr., 85 (2018) 936—941]M. Saito, M. Miyagi. J. Opt. Soc. Am., A6 (1989) 1895––1903M. Saito, M. Miyagi. J. Opt. Soc. Am., A6 (1989) 1895––1903A. A. Lutich, M. B. Danailov, S. Volchek, V. A. Yakovtseva, V. A. Sokol, S. V. Gaponenko. Appl. Phys. B84 (2006) 327––331A. A. Lutich, M. B. Danailov, S. Volchek, V. A. Yakovtseva, V. A. Sokol, S. V. Gaponenko. Appl. Phys. B84 (2006) 327––331К. Борен, Д. Хафмен. Поглощение и рассеяние света малыми частицами, Москва, Мир (1986)К. Борен, Д. Хафмен. Поглощение и рассеяние света малыми частицами, Москва, Мир (1986)R. Atkinson, W. R. Hendren, G. A. Wurtz, W. Dickson, A. V. Zayats, P. Evans, R. J. Pollard. Phys. Rev., B73 (2006) 235402R. Atkinson, W. R. Hendren, G. A. Wurtz, W. Dickson, A. V. Zayats, P. Evans, R. J. Pollard. Phys. Rev., B73 (2006) 235402G. Irmer, J. Monecke, P. Verma. Encyclopedia Nanosci. and Nanotech., 10 (2003) 1––26G. Irmer, J. Monecke, P. Verma. Encyclopedia Nanosci. and Nanotech., 10 (2003) 1––26

The authors declare that there are no conflicts of interest present.