zhpsЖурнал прикладной спектроскопииZhurnal Prikladnoii Spektroskopii0514-7506B. I. Stepanov Institute of Physics of the National Academy of Scienceszhps-1363Research ArticleАННОТАЦИИ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ СТАТЕЙABSTRACTS ENGLISH-LANGUAGE ARTICLESСпектральные, оптические свойства и двулучепреломление жидкокристаллических соединений на основе Шиффа с дисперсными наночастицами ZnО для применения в устройствах отображенияSpectral, Optical, and Birefringence Studies of ZnO Dispersed Schiff Based Liquid Crystals Compounds for Display Device ApplicationJayapradaP.JayapradaP.

Виджаявада

Department of Physics, 

Vijayawada

ManepalliR.K.N.R.ManepalliR.K.N.R.

Вишакхапатнам

Department of Physics, 

Vishakhapatnam

manepalli.67@gmail.comMadhavB.T.P.MadhavB.T.P.

Гунтур

LCRC-R&D, Department of ECE, 

Guntur

PardhasaradhiP.PardhasaradhiP.

Гунтур

LCRC-R&D, Department of ECE, 

Guntur

RaoM. C.RaoM. C.

Виджаявада

Department of Physics, 

Vijayawada

Колледж Андхра ЛойолаAndhra Loyola CollegeУниверситет АндхраAndhra UniversityОбразовательный фонд Конеру ЛакшмайяKoneru Lakshmaiah Education Foundation202325082023904652652Copyright © Jayaprada P., Manepalli R., Madhav B., Pardhasaradhi P., Rao M.C., 20232023Jayaprada P., Manepalli R., Madhav B., Pardhasaradhi P., Rao M.C.Jayaprada P., Manepalli R., Madhav B., Pardhasaradhi P., Rao M.C.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://zhps.ejournal.by/jour/article/view/1363

Описаны существенные изменения свойств жидкокристаллических (ЖК) дисплеев при дисперсии наночастиц (НЧ) ZnO. ЖК-соединения на основе Шиффа — п-н-децилоксибензальдегид и соответствующие п-н-алкоксианилины (10O.Om, m = 3, 6) — получены с дисперсией НЧ ZnO (1 мас.%). Для характеристики НЧ в ЖК использованы рентгеновская дифракция, сканирующая электронная микроскопия (СЭМ), дифференциальная сканирующая калориметрия (ДСК), поляризационная оптическая микроскопия (ПОМ) и модифицированный спектрометр. На основе рентгеноструктурных исследований определен размер НЧ ZnO, с помощью СЭМ оценена однородность дисперсии, на основе ЭДС и ПОМ осуществлены элементный и текстурный анализ. Температура фазового перехода установлена методом ДСК. С помощью модифицированного спектрометра определены показатели преломления и двулучепреломления. Параметр молекулярного ориентационного порядка измерен методами экстраполяции Кучинского и Галлера. Обнаружено, что двулучепреломление и параметр порядка уменьшаются при диспергировании 1 мас.% НЧ ZnO в ЖК-соединения на основе Шиффа.

Nowadays zinc nanoparticles (NPs) have attracted many applications in display technology. Due to the dispersion of nanoparticles in liquid crystals (LCs), the display properties are enhanced. The present work focuses on the significant changes in the properties of LC displays with the dispersion of ZnO NPs. Schiffbased LC compounds like p-n-decyloxybenzaldehyde and corresponding p-n-alkoxyanilines (10O.Om, with m = 3, 6) are prepared with the dispersion of ZnO NPs (1 wt%). The tools used to characterize the nanoparticles in LCs are X-ray diffraction (XRD), scanning electron microscopy (SEM), differential scanning calorimetry (DSC), polarizing optical microscopy (POM), and modified spectrometer. With XRD studies, the size of ZnO NPs is determined. By using SEM and EDS, the homogeneous dispersion and elemental analysis is estimated. With the data of POM, the textural analysis is examined. With DSC, the phase transition temperature of different phases is noted. With the modified spectrometer, the values of refractive indices and birefringence are determined. Furthermore, with these values, the molecular orientational order parameter S is measured by the Kuczynski and Haller Extrapolation methods. It is observed that the birefringence and order parameter values are decreased with the dispersion of 1 wt% ZnO NPs in Schiff based LC compounds.

синтезнанодисперсиярентгеноструктурный анализполяризационная оптическая микроскопиядифференциальная сканирующая калориметриядисперсионная способностьsynthesisnanodispersionX-ray diffractionpolarizing optical microscopydifferential scanning calorimetrydispersive powerReferencesH. K. Bisoyi, S. Kumar, Chem. Soc. Rev., 40, 306–319 (2011).H. K. Bisoyi, S. Kumar, Chem. Soc. Rev., 40, 306–319 (2011).G. W. Gray, In: Handbook of Liquid Crystals, Eds. D. Demus, J. Goodby, G. W. Gray, H. W. Spiess, V. Vill, Vol. 1, Wiley-VCH, Weinheim, 1–16 (1998).G. W. Gray, In: Handbook of Liquid Crystals, Eds. D. Demus, J. Goodby, G. W. Gray, H. W. Spiess, V. Vill, Vol. 1, Wiley-VCH, Weinheim, 1–16 (1998).S. Gauza, C. H. Wen, S. T. Wu, N. Janarthanan, C. S. Hsu, J. Appl. Phys., 43, 7634–7638 (2004).S. Gauza, C. H. Wen, S. T. Wu, N. Janarthanan, C. S. Hsu, J. Appl. Phys., 43, 7634–7638 (2004).S. T. Wu, Q. T. Zhang, S. Marder, Jpn. J. Appl. Phys., 37, L1254–L1256 (1998).S. T. Wu, Q. T. Zhang, S. Marder, Jpn. J. Appl. Phys., 37, L1254–L1256 (1998).S. K. Prasad, M. V. Kumar, C. V. Yelamaggad, Carbon, 59, 512–517 (2013).S. K. Prasad, M. V. Kumar, C. V. Yelamaggad, Carbon, 59, 512–517 (2013).J. Branch, R. Thompson, J. W. Taylor, L. Salamanca-Riba, L. J. Martínez-Miranda, J. Appl. Phys., 115, 164313 (2014).J. Branch, R. Thompson, J. W. Taylor, L. Salamanca-Riba, L. J. Martínez-Miranda, J. Appl. Phys., 115, 164313 (2014).L. Marino, S. Marino, D. Wang, E. Bruno, N. Scaramuzza, Soft Matter, 10, 3842–3849 (2014).L. Marino, S. Marino, D. Wang, E. Bruno, N. Scaramuzza, Soft Matter, 10, 3842–3849 (2014).A. Chandran, J. Prakash, K. K. Naik, A. K. Srivastava, R. Dąbrowski, M. Czerwiński, A. J. Biradar, J. Mater. Chem., C2, 1844–1853 (2014).A. Chandran, J. Prakash, K. K. Naik, A. K. Srivastava, R. Dąbrowski, M. Czerwiński, A. J. Biradar, J. Mater. Chem., C2, 1844–1853 (2014).P. Goel, M. Arora, A.M. Biradar, J. Appl. Phys., 115, 124905 (2014).P. Goel, M. Arora, A.M. Biradar, J. Appl. Phys., 115, 124905 (2014).L. Wang, W. L. He, X. Xiao, M. Wang, P. Y. Yang, Z. J. Zhou, H. Yang, H. F. Yu, Y. F. Lu, Mater. Chem., 22, 19629–19633(2012).L. Wang, W. L. He, X. Xiao, M. Wang, P. Y. Yang, Z. J. Zhou, H. Yang, H. F. Yu, Y. F. Lu, Mater. Chem., 22, 19629–19633(2012).X. W. Zhang, D. Luo, Y. Li, M. Zhao, B. Han, M. T. Zhao, H. T. Dai, Liq. Cryst., 42, 1257–1263 (2015).X. W. Zhang, D. Luo, Y. Li, M. Zhao, B. Han, M. T. Zhao, H. T. Dai, Liq. Cryst., 42, 1257–1263 (2015).U. Manzoor, M. Islam, L. Tabassam, S. U. Rahman, Phys. E, 41, 1669–1672 (2015).U. Manzoor, M. Islam, L. Tabassam, S. U. Rahman, Phys. E, 41, 1669–1672 (2015).J. C. Nie, J. Y. Yang, Y. Piao, H. Li, Y. Sun, Q. M. Xue, C. M. Xiong, R. F. Dou, Q. Y. Tu, Appl. Phys. Lett., 93, 173104 (2008).J. C. Nie, J. Y. Yang, Y. Piao, H. Li, Y. Sun, Q. M. Xue, C. M. Xiong, R. F. Dou, Q. Y. Tu, Appl. Phys. Lett., 93, 173104 (2008).A. V. Kabashin, A. Trudeau, W. Marine, Appl. Phys. Lett., 91, 201101 (2007).A. V. Kabashin, A. Trudeau, W. Marine, Appl. Phys. Lett., 91, 201101 (2007).S. D. Haranath, A. G. Sahai, B. K. Joshi Gupta, Nanotech., 20, 42570 (2009).S. D. Haranath, A. G. Sahai, B. K. Joshi Gupta, Nanotech., 20, 42570 (2009).X. D. Li, T. P. Chen, P. Liu, Y. Liu, K. C. Leong, Opt. Express, 21, 14131–14138 (2013).X. D. Li, T. P. Chen, P. Liu, Y. Liu, K. C. Leong, Opt. Express, 21, 14131–14138 (2013).A. L. Schoenhalz, J. T. Arantes, A. Fazzio, G. M. Dalpian, J. Phys. Chem. C, 114, 18293–18297 (2010).A. L. Schoenhalz, J. T. Arantes, A. Fazzio, G. M. Dalpian, J. Phys. Chem. C, 114, 18293–18297 (2010).P. Khushboo Sharma, P. Malik, K. K. Raina, Liq. Cryst., 44, 1717–1726 (2017).P. Khushboo Sharma, P. Malik, K. K. Raina, Liq. Cryst., 44, 1717–1726 (2017).K. Pal, S. Thomas, M. L. N. M. Mohan, J. Nanosci. Nanotech., 17, 2401–2412 (2017).K. Pal, S. Thomas, M. L. N. M. Mohan, J. Nanosci. Nanotech., 17, 2401–2412 (2017).W. Lee, C.-Y. Wang, Y.-C. Shih, Appl. Phys. Lett., 85, 513–515 (2004).W. Lee, C.-Y. Wang, Y.-C. Shih, Appl. Phys. Lett., 85, 513–515 (2004).W. T. Chen, P. S. Chen, C. Y. Chao, Jpn. J. Appl. Phys., 48, 015006 (2009).W. T. Chen, P. S. Chen, C. Y. Chao, Jpn. J. Appl. Phys., 48, 015006 (2009).N. Kapernaum, F. Giesselmann, Phys. Rev. E, 78, 062701 (2008).N. Kapernaum, F. Giesselmann, Phys. Rev. E, 78, 062701 (2008).I. Haller, Prog. Solid State Chem., 10, 103–118 (1975).I. Haller, Prog. Solid State Chem., 10, 103–118 (1975).H. J. Kim, Y. G. Kang, H. G. Park, K. M. Lee, H. Y. Jung, D. S. Seo, Liq. Cryst., 38, 871–875 (2011).H. J. Kim, Y. G. Kang, H. G. Park, K. M. Lee, H. Y. Jung, D. S. Seo, Liq. Cryst., 38, 871–875 (2011).G. Pathaka, R. Katiyara, K. Agraharia, A. Srivastavaa, R. Dabrowskib, K. Garbatb, R. Manohara, OptoElectron. Rev., 26, 11–18 (2018).G. Pathaka, R. Katiyara, K. Agraharia, A. Srivastavaa, R. Dabrowskib, K. Garbatb, R. Manohara, OptoElectron. Rev., 26, 11–18 (2018).H. Eskalen Özgan, O. Alver, S. Kerli, Acta Phys. Polonica A, 127, 756–760 (2015).H. Eskalen Özgan, O. Alver, S. Kerli, Acta Phys. Polonica A, 127, 756–760 (2015).L. J. Martínez-Miranda, K. M. Traister, I. Meléndez- Rodríguez, Appl. Phys. Lett., 97, 223301 (2010).L. J. Martínez-Miranda, K. M. Traister, I. Meléndez- Rodríguez, Appl. Phys. Lett., 97, 223301 (2010).P. V. Raja Shekar, D. Madhavi Latha, V. G. K. M. Pisipati, Opt. Mater., 64, 564–568 (2017).P. V. Raja Shekar, D. Madhavi Latha, V. G. K. M. Pisipati, Opt. Mater., 64, 564–568 (2017).S.-T. Wu, Phys. Rev. A, 33, No. 2, 1270–1274 (1986).S.-T. Wu, Phys. Rev. A, 33, No. 2, 1270–1274 (1986).H. Mada, S. Kobayashi, Mol. Cryst. Liq. Cryst., 33, No. 1-2, 47–53 (1976).H. Mada, S. Kobayashi, Mol. Cryst. Liq. Cryst., 33, No. 1-2, 47–53 (1976).J. Li, S.-T. Wu, J. Appl. Phys., 96, No. 1, 170–174 (2004).J. Li, S.-T. Wu, J. Appl. Phys., 96, No. 1, 170–174 (2004).L. M. Blinov, Electro-Optical and Magneto-Optical Properties of Liquid Crystals, Wiley, New York (1983). 33. S. T. Wu, J. Appl. Phys., 69, 2080–2087 (1991).L. M. Blinov, Electro-Optical and Magneto-Optical Properties of Liquid Crystals, Wiley, New York (1983). 33. S. T. Wu, J. Appl. Phys., 69, 2080–2087 (1991).S. T. Wu, C. S. Wu, M. Warenghem, M. Ismaili, Opt. Eng., 32, 1775–1780 (1993).S. T. Wu, C. S. Wu, M. Warenghem, M. Ismaili, Opt. Eng., 32, 1775–1780 (1993).E. M. Averyanov, J. Opt. Technol., 64, 417 (1997).E. M. Averyanov, J. Opt. Technol., 64, 417 (1997).

The authors declare that there are no conflicts of interest present.