zhpsЖурнал прикладной спектроскопииZhurnal Prikladnoii Spektroskopii0514-7506B. I. Stepanov Institute of Physics of the National Academy of Scienceszhps-1791Research ArticleСПЕКТРОСКОПИЯ ТВЕРДЫХ ТЕЛSPECTROSCOPY OF SOLIDSСпектральные зависимости оптических констант коммерческой полиимидной пленки в диапазоне длин волн 240—2500 нмOptical Constants Spectra of Commercial Polyimide Film in the Wavelength Range of 240—2500 nmАнтроповаВ. С.ZlobinI. A.

Ижевск

Izhevsk

ЗлобинИ. А.AntropovaV. S.

Ижевск

Izhevsk

https://orcid.org/0000-0003-3607-5795МихеевГ. М.MikheevG. M.

Михеев Геннадий М. - д.ф.-м.н., профессор, главный научный сотрудник, руководитель, лаборатория лазерных методов исследований УдмФИЦ УрО РАН.

Ижевск

Gennady M. Mikheev.

Izhevsk

mikheev@udman.ruУдмуртский федеральный исследовательский центр УрО РАНUdmurt Federal Research Center, Ural Branch of the Russian Academy of Sciences202507092025924445450Copyright © Антропова В.С., Злобин И.А., Михеев Г.М., 20252025Антропова В.С., Злобин И.А., Михеев Г.М.Zlobin I.A., Antropova V.S., Mikheev G.M.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://zhps.ejournal.by/jour/article/view/1791

Измерены спектры пропускания и отражения коммерческой полиимидной пленки толщиной 200 мкм в диапазоне длин волн λ = 240—2500 нм. С применением известных точных аналитических соотношений из измеренных спектров рассчитаны спектральные зависимости действительной (n) и мнимой (k) частей показателя преломления пленки. В указанном диапазоне длин волн рассчитаны спектры поглощения, действительная и мнимая части диэлектрической проницаемости.

Transmittance and reflectance spectra of a commercial 200 μm thick polyimide film were recorded in the wavelength range of λ = 240—2500 nm. By applying the known exact analytical relations, these spectra were used to calculate the spectral dependencies of an imaginary (n) and a real (k) part of the refractive index of the film. In the indicated wavelength range the absorption spectra, real and imaginary parts of the dielectric permittivity were also calculated.

коэффициенты пропускания и отражениядисперсия оптических константаномальная дисперсияtransmittance and reflectancedispersion of optical constantsanomalous dispersionРабота выполнена в рамках государственного задания Министерства науки и высшего образования РФ (№ гос. регистрации 1022040600237-3-1.3.2) с использованием оборудования ЦКП “Центр физических и физико-химических методов анализа, исследования свойств и характеристик поверхности, наноструктур, материалов и изделий” УдмФИЦ УрО РАН.State assignment of the Ministry of Science and Higher Education of the Russian Federation (state registration number 1022040600237-3-1.3.2)ReferencesM. Hasegawa, K. Horie. Prog. Polym. Sci., 26 (2001) 259—335M. Hasegawa, K. Horie. Prog. Polym. Sci., 26 (2001) 259—335T. Feurer, R. Sauerbrey, M. C. Smayling, B. J. Story. Appl. Phys. A, 56, N 3 (1993) 275—281T. Feurer, R. Sauerbrey, M. C. Smayling, B. J. Story. Appl. Phys. A, 56, N 3 (1993) 275—281D. J. Armitt, G. T. Crisp. J. Polym. Sci., A, Polym. Chem., 38, N 9 (2000) 4832—4838D. J. Armitt, G. T. Crisp. J. Polym. Sci., A, Polym. Chem., 38, N 9 (2000) 4832—4838C. T. Yen, W. C. Chen. Macromolecules, 36, N 9 (2003) 3315—3319C. T. Yen, W. C. Chen. Macromolecules, 36, N 9 (2003) 3315—3319J. Lin, Z. Peng, Y. Liu, F. Ruiz-Zepeda, R. Ye, E. L. G. Samuel, M. J. Yacaman, B. I. Yakobson, J. M. Tour. Nat. Commun., 5 (2014) 5714J. Lin, Z. Peng, Y. Liu, F. Ruiz-Zepeda, R. Ye, E. L. G. Samuel, M. J. Yacaman, B. I. Yakobson, J. M. Tour. Nat. Commun., 5 (2014) 5714K. G. Mikheev, R. G. Zonov, T. N. Mogileva, A. E. Fateev, G. M. Mikheev. Opt. Laser Technol., 141, (2021) 107143K. G. Mikheev, R. G. Zonov, T. N. Mogileva, A. E. Fateev, G. M. Mikheev. Opt. Laser Technol., 141, (2021) 107143S. G. Jo, R. Ramkumar, J. W. Lee. ChemSusChem, 17 (2024) e202301146S. G. Jo, R. Ramkumar, J. W. Lee. ChemSusChem, 17 (2024) e202301146К. Г. Михеев, Р. Г. Зонов, Н. В. Чучкалов, Г. М. Михеев. ФТТ, 66 (2024) 280—288K. G. Mikheev, R. G. Zonov, N. V. Chuchkalov, G. M. Mikheev, Phys. Solid State, 66 (2024) 268—275К. Г. Михеев, А. В. Сюгаев, Р. Г. Зонов, Д. Л. Булатов, Г. М. Михеев. ФТТ, 65, № 2 (2023) 353—360K. G. Mikheev, A. V. Syugaev, R. G. Zonov, D. L. Bulatov, G. M. Mikheev. Phys. Solid State, 65 (2023) 347—354F. Hasheminia, S. Sadeghzadeh. Nano-Structures and Nano-Objects, 40 (2024) 101347F. Hasheminia, S. Sadeghzadeh. Nano-Structures and Nano-Objects, 40 (2024) 101347A. V. Syugaev, R. G. Zonov, K. G. Mikheev, A. N. Maratkanova, G. M. Mikheev. J. Phys. Chem. Solid, 181 (2023) 111533A. V. Syugaev, R. G. Zonov, K. G. Mikheev, A. N. Maratkanova, G. M. Mikheev. J. Phys. Chem. Solid, 181 (2023) 111533Y. Wang, C. Han, Y. Zhou, C. Ke, Y. Fan, Y. Yang, Z. Chen, Y. S. Wang. Carbon Trends, 11, (2023) 100255Y. Wang, C. Han, Y. Zhou, C. Ke, Y. Fan, Y. Yang, Z. Chen, Y. S. Wang. Carbon Trends, 11, (2023) 100255C. Francis, A. Rektor, T. Valayil-Varghese, N. McKibben, I. Estrada, J. Forbey, D. Estrada. Front. Chem., 12 (2024) 1448205C. Francis, A. Rektor, T. Valayil-Varghese, N. McKibben, I. Estrada, J. Forbey, D. Estrada. Front. Chem., 12 (2024) 1448205J. Gao, S. He, A. Nag. Sensors, 21 (2021) 2818J. Gao, S. He, A. Nag. Sensors, 21 (2021) 2818К. Г. Михеев, Р. Г. Зонов, Д. Л. Булатов, А. Е. Фатеев, Г. М. Михеев. Письма в ЖТФ, 46, № 9 (2020) 51—54K. G. Mikheev, R. G. Zonov, D. L. Bulatov, A. E. Fateev, G. M. Mikheev, Tech. Phys. Lett., 46 (2020) 458—461T. S. D. Le, H. P. Phan, S. Kwon, S. Park, Y. Jung, J. Min, B. J. Chun, H. Yoon, S. H. Ko, S. W. Kim, Y. J. Kim. Adv. Funct. Mater., 32, N 48 (2022) 2205158T. S. D. Le, H. P. Phan, S. Kwon, S. Park, Y. Jung, J. Min, B. J. Chun, H. Yoon, S. H. Ko, S. W. Kim, Y. J. Kim. Adv. Funct. Mater., 32, N 48 (2022) 2205158Ю. А. Бумай, Н. И. Долгих, А. А. Харченко, В. Ф. Валеев, В. И. Нуждин, Р. И. Хайбуллин, F. A. Nagim, М. Г. Лукашевич, В. Б. Оджаев. Журн. прикл. спектр., 81, № 2 (2014) 192—196Yu. A. Bumai, N. I. Dolgikh, A. A. Kharchenko, V. F. Valeev, V. I. Nuzhdin, R. I. Khaibuliin. J. Appl. Spectr., 81 (2014) 188—192К. К. Тяжелкова, В. В. Нещименко. Вестн. АмГУ, № 87 (2019) 34—37К. К. Тяжелкова, В. В. Нещименко. Вестн. АмГУ, № 87 (2019) 34—37C. Lee, J. Seo, Y. Shul, H. Han. Polym. J., 35 (2003) 578—585C. Lee, J. Seo, Y. Shul, H. Han. Polym. J., 35 (2003) 578—585M. Ree, K. Kim, S. H. Woo, H. Chang. J. Appl. Phys., 81, N 2 (1997) 698—708M. Ree, K. Kim, S. H. Woo, H. Chang. J. Appl. Phys., 81, N 2 (1997) 698—708Y. Heights, F. Preparation. J. Photopolym. Sci. Technol., 11 (1998) 231—236Y. Heights, F. Preparation. J. Photopolym. Sci. Technol., 11 (1998) 231—236E. Nichelatti. J. Opt. A Pure Appl. Opt., 4 (2002) 400—403E. Nichelatti. J. Opt. A Pure Appl. Opt., 4 (2002) 400—403H. Kudo, S. Sudo, T. Oka, Y. Hama, A. Oshima, M. Washio, T. Murakami. Radiat. Phys. Chem., 78, N 12 (2009) 1067—1070H. Kudo, S. Sudo, T. Oka, Y. Hama, A. Oshima, M. Washio, T. Murakami. Radiat. Phys. Chem., 78, N 12 (2009) 1067—1070J. Shi, C. Gong, X. Tian, S. Yang, P. K. Chu. Appl. Surf. Sci., 258, N 8 (2012) 3829—3834J. Shi, C. Gong, X. Tian, S. Yang, P. K. Chu. Appl. Surf. Sci., 258, N 8 (2012) 3829—3834G. Peng, W. Hao, D. Yang, S. He. J. Appl. Polym. Sci., 94, N 4 (2004) 1370—1374G. Peng, W. Hao, D. Yang, S. He. J. Appl. Polym. Sci., 94, N 4 (2004) 1370—1374S. Ando, T. Matsuura, S. Sasaki. Macromolecules, 25 (1992) 5858—5860S. Ando, T. Matsuura, S. Sasaki. Macromolecules, 25 (1992) 5858—5860E. E. Ortelli, F. Geiger, T. Lippert, J. Wei, A. Wokaun. Macromolecules, 33, N 14 (2000) 5090—5097E. E. Ortelli, F. Geiger, T. Lippert, J. Wei, A. Wokaun. Macromolecules, 33, N 14 (2000) 5090—5097G. A. Pitsevich, E. Kozlovskaya, I. Doroshenko. ArXiv Prepr. ArXiv, 1604.00815 (2016) 1—9G. A. Pitsevich, E. Kozlovskaya, I. Doroshenko. ArXiv Prepr. ArXiv, 1604.00815 (2016) 1—9V. Kumar, P. K. Goyal, R. Gupta, S. Kumar. Adv. Appl. Sci. Res., 2, N 2 (2011) 79—85V. Kumar, P. K. Goyal, R. Gupta, S. Kumar. Adv. Appl. Sci. Res., 2, N 2 (2011) 79—85Г. М. Михеев, В. С. Идиатулин. Квант. электрон., 24 (1997) 1007—1011G. M. Mikheev, V. S. Idiatulin. Quantum Electron., 27 (1997) 978—982

The authors declare that there are no conflicts of interest present.