zhpsЖурнал прикладной спектроскопииZhurnal Prikladnoii Spektroskopii0514-7506B. I. Stepanov Institute of Physics of the National Academy of Scienceszhps-195Research ArticleСтатьиРЕНТГЕНОВСКАЯ ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ ХЛОРМЕТАЛЛАТНЫХ ИОННЫХ ЖИДКОСТЕЙ: ВИДООБРАЗОВАНИЕ И АНИОННАЯ ОСНОВНОСТЬX-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY OF CHLOROMETALLATE IONIC LIQUIDS: SPECIATION AND ANION BASICITYMenSh. .MenSh. .menshuang@hotmail.comJiangJ. .JiangJ. .noemail@neicon.ruШкола материаловедения и техники, Университет Шеньян Лигун; Институт прикладной экологии Китайской АНSchool of Material Science and Engineering, Shenyang Ligong University; Institute of Applied Ecology, Chinese Academy of SciencesШкола машиностроения и автоматизации, Северо-восточный университетSchool of Mechanical Engineering and Automation, Northeastern University2018100320208516368Copyright © Men S..., Jiang J..., 20202020Men S..., Jiang J...Men S..., Jiang J...Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://zhps.ejournal.by/jour/article/view/195

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия использована для обнаружения различных хлорметаллатных анионов и различения электронного окружения каждого элемента, присутствующего в хлорметаллатных анионах. Подробно изучено влияние степени делокализации заряда хлорметаллатических анионов на энергию связи Cl 2p. Основность анионов хлорстанната и хлорферрата оценена с использованием измеренной энергии связи N 1s. Обнаружено, что анионы хлорстанната и хлорферрата можно рассматривать как наименее основные анионы.

X-ray photoelectron spectroscopy is used to detect the formation of different chlorometallate anions and to differentiate the electronic environment of each element present in chlorometallate anions. The impact of the degree of the charge delocalization of chlorometallate anions on the Cl 2p binding energy is demonstrated in detail. The basicity of chlorostannate and chloroferrate anions is estimated based upon the measured N 1s binding energy. It is found that chlorostannate and chloroferrate anions can be considered as the least basic anions.

рентгеновская фотоэлектронная спектроскопияхлорметаллатные ионные жидкостиосновностьX-ray photoelectron spectroscopychlorometallate ionic liquidsbasicityReferencesR. A. Sheldon, R. M. Lau, M. J. Sorgedrager, F. van Rantwijk, K. R. Seddon, Green Chem., 4, 147-151 (2002).R. A. Sheldon, R. M. Lau, M. J. Sorgedrager, F. van Rantwijk, K. R. Seddon, Green Chem., 4, 147-151 (2002).F. Falcioni, A. J. Walker, N. C. Bruce, Abstr. Pap. Am. Chem. Soc., 231, 114 (2006).F. Falcioni, A. J. Walker, N. C. Bruce, Abstr. Pap. Am. Chem. Soc., 231, 114 (2006).T. Welton, Coord. Chem. Rev., 248, 2459-2477 (2004).T. Welton, Coord. Chem. Rev., 248, 2459-2477 (2004).V. I. Pârvulescu, C. Hardacre, Chem. Rev., 107, 2615-2665 (2007).V. I. Pârvulescu, C. Hardacre, Chem. Rev., 107, 2615-2665 (2007).J. P. Mikkola, P. Virtanen, K. Kordas, H. Karhu, T. O. Salmi, Appl. Catal. A - Gen., 328, 68-76 (2007).J. P. Mikkola, P. Virtanen, K. Kordas, H. Karhu, T. O. Salmi, Appl. Catal. A - Gen., 328, 68-76 (2007).C. P. Mehnert, Chem.-Eur. J., 11, 50-56 (2004).C. P. Mehnert, Chem.-Eur. J., 11, 50-56 (2004).N. M. Yunus, M. I. A. Mutalib, Z. Man, M. A. Bustam, T. Murugesan, Chem. Eng. J., 189, 94-100 (2012).N. M. Yunus, M. I. A. Mutalib, Z. Man, M. A. Bustam, T. Murugesan, Chem. Eng. J., 189, 94-100 (2012).P. Hapiot, C. Lagrost, Chem. Rev., 108, 2238-2264 (2008).P. Hapiot, C. Lagrost, Chem. Rev., 108, 2238-2264 (2008).D. R. Macfarlane, M. Forsyth, P. C. Howlett, J. M. Pringle, J. Sun, G. Annat, W. Neil, E. I. Izgorodina, Acc. Chem. Res., 40, 1165-1173 (2007).D. R. Macfarlane, M. Forsyth, P. C. Howlett, J. M. Pringle, J. Sun, G. Annat, W. Neil, E. I. Izgorodina, Acc. Chem. Res., 40, 1165-1173 (2007).E. F. Smith, I. J. Villar-Garcia, D. Briggs, P. Licence, Chem. Commun., 5633-5635 (2005).E. F. Smith, I. J. Villar-Garcia, D. Briggs, P. Licence, Chem. Commun., 5633-5635 (2005).E. F. Smith, F. J. M. Rutten, I. J. Villar-Garcia, D. Briggs, P. Licence, Langmuir, 22, 9386-9392 (2006).E. F. Smith, F. J. M. Rutten, I. J. Villar-Garcia, D. Briggs, P. Licence, Langmuir, 22, 9386-9392 (2006).K. R. J. Lovelock, E. F. Smith, A. Deyko, I. J. Villar-Garcia, P. Licence, R. G. Jones, Chem. Commun., 4866-4868 (2007).K. R. J. Lovelock, E. F. Smith, A. Deyko, I. J. Villar-Garcia, P. Licence, R. G. Jones, Chem. Commun., 4866-4868 (2007).J. M. Gottfried, F. Maier, J. Rossa, D. Gerhard, P. S. Schulz, P. Wasserscheid, H. P. Steinrück, Z. Phys. Chem.-Int. J. Res. Phys. Chem. Chem. Phys., 220, 1439-1453 (2006).J. M. Gottfried, F. Maier, J. Rossa, D. Gerhard, P. S. Schulz, P. Wasserscheid, H. P. Steinrück, Z. Phys. Chem.-Int. J. Res. Phys. Chem. Chem. Phys., 220, 1439-1453 (2006).K. R. J. Lovelock, C. Kolbeck, T. Cremer, N. Paape, P. S. Schulz, P. Wasserscheid, F. Maier, H.-P. Steinrück, J. Phys. Chem. B, 113, 2854-2864 (2009).K. R. J. Lovelock, C. Kolbeck, T. Cremer, N. Paape, P. S. Schulz, P. Wasserscheid, F. Maier, H.-P. Steinrück, J. Phys. Chem. B, 113, 2854-2864 (2009).I. J. Villar-Garcia, E. F. Smith, A. W. Taylor, F. Qiu, K. R. J. Lovelock, R. G. Jones, P. Licence, Phys. Chem. Chem. Phys., 13, 2797-2808 (2011).I. J. Villar-Garcia, E. F. Smith, A. W. Taylor, F. Qiu, K. R. J. Lovelock, R. G. Jones, P. Licence, Phys. Chem. Chem. Phys., 13, 2797-2808 (2011).S. Men, K. R. J. Lovelock, P. Licence, Phys. Chem. Chem. Phys., 13, 15244-15255 (2011).S. Men, K. R. J. Lovelock, P. Licence, Phys. Chem. Chem. Phys., 13, 15244-15255 (2011).S. Men, D. S. Mitchell, K. R. J. Lovelock, P. Licence, ChemPhysChem, 16, 2211-2218 (2015).S. Men, D. S. Mitchell, K. R. J. Lovelock, P. Licence, ChemPhysChem, 16, 2211-2218 (2015).A. P. Abbott, K. J. McKenzie, Phys. Chem. Chem. Phys., 8, 4265-4279 (2006).A. P. Abbott, K. J. McKenzie, Phys. Chem. Chem. Phys., 8, 4265-4279 (2006).X. J. Wei, L. P. Yu, D. H. Wang, X. B. Jin, G. Z. Chen, Green Chem., 10, 296-305 (2008).X. J. Wei, L. P. Yu, D. H. Wang, X. B. Jin, G. Z. Chen, Green Chem., 10, 296-305 (2008).S. Hayashi, H. O. Hamaguchi, Chem. Lett., 33, 1590-1591 (2004).S. Hayashi, H. O. Hamaguchi, Chem. Lett., 33, 1590-1591 (2004).M. Currie, J. Estager, P. Licence, S. Men, P. Nockemann, K. R. Seddon, M. Swadzba-Kwasny, C. Terrade, Inorg. Chem., 52, 1710-1721 (2013).M. Currie, J. Estager, P. Licence, S. Men, P. Nockemann, K. R. Seddon, M. Swadzba-Kwasny, C. Terrade, Inorg. Chem., 52, 1710-1721 (2013).J. Estager, P. Nockemann, K. R. Seddon, M. Swadzba-Kwasny, S. Tyrrell, Inorg. Chem., 50, 5258-5271 (2011).J. Estager, P. Nockemann, K. R. Seddon, M. Swadzba-Kwasny, S. Tyrrell, Inorg. Chem., 50, 5258-5271 (2011).V. Lecocq, A. Graille, C. C. Santini, A. Baudouin, Y. Chauvin, J. M. Basset, L. Arzel, D. Bouchu, B. Fenet, New J. Chem., 29, 700-706 (2005).V. Lecocq, A. Graille, C. C. Santini, A. Baudouin, Y. Chauvin, J. M. Basset, L. Arzel, D. Bouchu, B. Fenet, New J. Chem., 29, 700-706 (2005).A. W. Taylor, S. Men, C. J. Clarke, P. Licence, RSC Adv., 3, 9436-9445 (2013).A. W. Taylor, S. Men, C. J. Clarke, P. Licence, RSC Adv., 3, 9436-9445 (2013).H. Wang, B. Lu, X. G. Wang, J. W. Zhang, Q. H. Cai, Fuel Process. Technol., 90, 1198-1201 (2009).H. Wang, B. Lu, X. G. Wang, J. W. Zhang, Q. H. Cai, Fuel Process. Technol., 90, 1198-1201 (2009).J. Kadokawa, Y. Iwasaki, H. Tagaya, Macromol. Rapid Commun., 23, 758-760 (2002).J. Kadokawa, Y. Iwasaki, H. Tagaya, Macromol. Rapid Commun., 23, 758-760 (2002).P. Illner, A. Zahl, R. Puchta, N. van Eikema Hommes, P. Wasserscheid, R. van Eldik, J. Organomet. Chem., 690, 3567-3576 (2005).P. Illner, A. Zahl, R. Puchta, N. van Eikema Hommes, P. Wasserscheid, R. van Eldik, J. Organomet. Chem., 690, 3567-3576 (2005).J. G. Huddleston, A. E. Visser, W. M. Reichert, H. D. Willauer, G. A. Broker, R. D. Rogers, Green Chem., 3, 156-164 (2001).J. G. Huddleston, A. E. Visser, W. M. Reichert, H. D. Willauer, G. A. Broker, R. D. Rogers, Green Chem., 3, 156-164 (2001).A. W. Taylor, K. R. J. Lovelock, A. Deyko, P. Licence, R. G. Jones, Phys. Chem. Chem. Phys., 12, 1772-1783 (2010).A. W. Taylor, K. R. J. Lovelock, A. Deyko, P. Licence, R. G. Jones, Phys. Chem. Chem. Phys., 12, 1772-1783 (2010).C. D. Wagner, L. E. Davis, M. V. Zeller, J. A. Taylor, R. H. Raymond, L. H. Gale, Surf. Interface Anal., 3, 211-225 (1981).C. D. Wagner, L. E. Davis, M. V. Zeller, J. A. Taylor, R. H. Raymond, L. H. Gale, Surf. Interface Anal., 3, 211-225 (1981).D. Briggs, J. T. Grant, Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy, IMPublications, Manchester (2003).D. Briggs, J. T. Grant, Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy, IMPublications, Manchester (2003).S. Men, J. Jiang, P. Licence, Chem. Phys. Lett., 674, 86-89 (2017).S. Men, J. Jiang, P. Licence, Chem. Phys. Lett., 674, 86-89 (2017).J. F. Moulder, W. F. Stickle, P. E. Sobol, K. D. Bomben, Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy: a Reference Book of Standard Spectra for Identification and Interpretation of XPS Data, Physical Electronics (1995).J. F. Moulder, W. F. Stickle, P. E. Sobol, K. D. Bomben, Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy: a Reference Book of Standard Spectra for Identification and Interpretation of XPS Data, Physical Electronics (1995).H. Willemen, D. F. Vandevondel, G. P. Vanderkelen, Inorg. Chim. Acta, 34, 175-180 (1979).H. Willemen, D. F. Vandevondel, G. P. Vanderkelen, Inorg. Chim. Acta, 34, 175-180 (1979).S. Men, K. R. J. Lovelock, P. Licence, RSC Adv., 5, 35958-35965 (2015).S. Men, K. R. J. Lovelock, P. Licence, RSC Adv., 5, 35958-35965 (2015).S. Spange, R. Lungwitz, A. Schade, J. Mol. Liq., 192, 137-143 (2014).S. Spange, R. Lungwitz, A. Schade, J. Mol. Liq., 192, 137-143 (2014).

The authors declare that there are no conflicts of interest present.