zhpsЖурнал прикладной спектроскопииZhurnal Prikladnoii Spektroskopii0514-7506B. I. Stepanov Institute of Physics of the National Academy of Scienceszhps-2019Research ArticleСПЕКТРОСКОПИЯ ТВЕРДЫХ ТЕЛSPECTROSCOPY OF SOLIDSМорфология поверхности, оптические и электрофизические свойства полученных методом лазерного осаждения пленок оксида цинка, легированного кобальтомSurface Morphology, Optical and Electrophysical Properties of Cobalt-Doped Zinc Oxide Films Produced by Laser DepositionБосакН. А.BosakN. A.

Минск

Minsk

n.bosak@ifanbel.bas-net.byПашаянС. Т.PashayanS. T.

Аштарак

Ashtarak

БаранЛ. В.BaranL. V.

Минск

Minsk

baran@bsu.byМалютина-БронскаяВ. В.Malutina-BronskayaV. V.

Минск

Minsk

ДробушВ. С.DrobushV. S.

Минск

Minsk

КузьмицкаяА. С.KuzmitskayaA. S.

Минск

Minsk

Институт физики НАН БеларусиБеларусьB. I. Stepanov Institute of Physics of the National Academy of Sciences of BelarusBelarusИнститут физических исследований НАН Республики АрменияАрменияInstitute for Physical Research of the National Academy of Sciences of the Republic of ArmeniaArmeniaБелорусский государственный университетБеларусьBelarusian State UniversityBelarusГНПО “Оптика, оптоэлектроника и лазерная техника”РоссияSSPA “Optics, Optoelectronics, and Lazer Technology”Russian Federation202526112025926740746Copyright © Босак Н.А., Пашаян С.Т., Баран Л.В., Малютина-Бронская В.В., Дробуш В.С., Кузьмицкая А.С., 20252025Босак Н.А., Пашаян С.Т., Баран Л.В., Малютина-Бронская В.В., Дробуш В.С., Кузьмицкая А.С.Bosak N.A., Pashayan S.T., Baran L.V., Malutina-Bronskaya V.V., Drobush V.S., Kuzmitskaya A.S.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://zhps.ejournal.by/jour/article/view/2019

Представлены результаты комплексного исследования тонких пленок оксида цинка ZnO+15%Co, осажденных в вакууме (p = 2.2 ⋅10–2 мм рт. ст.) на кварцевую и кремниевую подложки при многоимпульсном высокочастотном (f ∼ 10—12 кГц) лазерном воздействии на керамическую мишень с плотностью мощности лазерного излучения q = 81 МВт/см2. Изучена морфология полученных пленок с помощью атомно-силовой микроскопии, выявлены особенности спектров пропускания. Проведен анализ фотоэлектрических свойств структуры ZnO+15%Co/Si.

The studies of thin ZnO+15%Co films, deposited in vacuum (p = 2.2 · 10–2 mm Hg) on the quartz and silicon substrates under multipulse high-frequency (f ∼ 10–12 kHz) laser action on a ceramic target at the laser power density of q = 81 MW/cm2 were conducted. The morphology of the obtained films was studied using atomic force microscopy, the features of the transmission spectra were presented. The analysis of the photoelectrical properties of ZnO+15%Co/Si structure was carried out.

высокочастотное лазерное воздействиетонкая пленкаспектры пропускания и отражениявольт-амперные и вольт-фарадные характеристикиhigh-frequency laser effectthin filmtransmission and reflections spectracurrent-voltage and farad-voltage characteristicsReferencesР. K. Shanna, R. K. Dutta, А. С. Pandey, S. Layek, H. C. Venna. J. Magn. Magn. Mater, 321 (2009) 2587-2591Р. K. Shanna, R. K. Dutta, А. С. Pandey, S. Layek, H. C. Venna. J. Magn. Magn. Mater, 321 (2009) 2587-2591J. H. Kim, H. Kim, D. Kim, Y. E. Hun, W. K. Choo. J. Appl. Phys., 92 (2002) 6066-6071J. H. Kim, H. Kim, D. Kim, Y. E. Hun, W. K. Choo. J. Appl. Phys., 92 (2002) 6066-6071Z. H. Zhang, X. F. Wang, J. B. Xu, S. Muller, C. Ronning, Q. Li. Nature Nanotechnology, 4, N 8 (2009) 523-527Z. H. Zhang, X. F. Wang, J. B. Xu, S. Muller, C. Ronning, Q. Li. Nature Nanotechnology, 4, N 8 (2009) 523-527В. Г. Кытин, В. А. Кульбачинский, Д. С. Глебов, Л. И. Бурова, А. Р. Кауль, О. В. Реукова. ФТП, 44, № 2 (2010) 164-169В. Г. Кытин, В. А. Кульбачинский, Д. С. Глебов, Л. И. Бурова, А. Р. Кауль, О. В. Реукова. ФТП, 44, № 2 (2010) 164-169Б. Б. Страумал, С. Г. Протасова, А. А. Мазилкин, Г. Шютц, Э. Гёринг, Б. Барецки, П. Б. Страумал. Письма в ЖЭТФ, 97, № 6 (2013) 415-426Б. Б. Страумал, С. Г. Протасова, А. А. Мазилкин, Г. Шютц, Э. Гёринг, Б. Барецки, П. Б. Страумал. Письма в ЖЭТФ, 97, № 6 (2013) 415-426J. Lu, H. Wang. Opt. Express, 20, N 19 (2012) 21552-21557J. Lu, H. Wang. Opt. Express, 20, N 19 (2012) 21552-21557Х. Т. Игамбердиев, Ш. У. Юлдашев, T. W. Kang, В. О. Пеленович, Ш. М. Рахимова, Т. Х. Ахмедов. ФТТ, 54, № 10 (2012) 1835-1838Х. Т. Игамбердиев, Ш. У. Юлдашев, T. W. Kang, В. О. Пеленович, Ш. М. Рахимова, Т. Х. Ахмедов. ФТТ, 54, № 10 (2012) 1835-1838Н. И. Мухуров, С. В. Денисюк, А. Н. Чумаков, А. А. Шевченок, Л. В. Баран, А. Г. Кароза, Т. Ф. Райченок, Н. А. Босак, А. А. Иванов, Х. Чжан. Докл. БГУИР, 119, № 1 (2019) 91-98Н. И. Мухуров, С. В. Денисюк, А. Н. Чумаков, А. А. Шевченок, Л. В. Баран, А. Г. Кароза, Т. Ф. Райченок, Н. А. Босак, А. А. Иванов, Х. Чжан. Докл. БГУИР, 119, № 1 (2019) 91-98S. Karamat, R. S. Rawat, P. Lee, T. L. Tan. J. Phys.: Conf. Ser., 200 (2010) 072045(1-5)S. Karamat, R. S. Rawat, P. Lee, T. L. Tan. J. Phys.: Conf. Ser., 200 (2010) 072045(1-5)M. V. Vuichyk, Z. F. Tsybrii, S. R. Lavoryk, K. V. Svezhentsova, I. S. Virt, A. Chizhov. Semicond. Physics, Quantum Electron. Optoelectron., 17, N 1 (2014) 80-84M. V. Vuichyk, Z. F. Tsybrii, S. R. Lavoryk, K. V. Svezhentsova, I. S. Virt, A. Chizhov. Semicond. Physics, Quantum Electron. Optoelectron., 17, N 1 (2014) 80-84B. Cieniek, I. Stefaniuk, I. Virt. Nukleonika, 58, N 3 (2013) 359-363B. Cieniek, I. Stefaniuk, I. Virt. Nukleonika, 58, N 3 (2013) 359-363G. Li Wang, Xue-qiong Su, Yi Lu, Jiang-bo Chen. Proc. SPIE, 8904 (2013) 890402(1-6)G. Li Wang, Xue-qiong Su, Yi Lu, Jiang-bo Chen. Proc. SPIE, 8904 (2013) 890402(1-6)Fahrettin Yakuphanoglu. J. Alloys Compd., 494 (2010) 451-455Fahrettin Yakuphanoglu. J. Alloys Compd., 494 (2010) 451-455Guojian Li, Huimin Wang, Qiang Wang, Yue Zhao, Zhen Wang, Jiaojiao Du, Yonghui Ma. Nanoscale Res. Lett., 10 (2015) 112(1-8)Guojian Li, Huimin Wang, Qiang Wang, Yue Zhao, Zhen Wang, Jiaojiao Du, Yonghui Ma. Nanoscale Res. Lett., 10 (2015) 112(1-8)Xiaoli Li, Yana Shi, Jie Li, Yuhao Bai, Juan Jia, Yanchun Li, Xiaohong Xu. Mater. Res. Express, 4 (2017) 036407(1-6)Xiaoli Li, Yana Shi, Jie Li, Yuhao Bai, Juan Jia, Yanchun Li, Xiaohong Xu. Mater. Res. Express, 4 (2017) 036407(1-6)R. Siddheswaran, R. Medln, C. Esther Jeyanthi, S. Gokul Raj, R. V. Mangalaraja. Appl. Phys. A, Mater. Sci. Proc., 125 (2019) 592(1-9)R. Siddheswaran, R. Medln, C. Esther Jeyanthi, S. Gokul Raj, R. V. Mangalaraja. Appl. Phys. A, Mater. Sci. Proc., 125 (2019) 592(1-9)А. Н. Чумаков, В. Б. Авраменко, Н. А. Босак. Журн. прикл. спектр., 79, № 2 (2012) 279-287A. N. Chumakov, V. B. Avramenko, N. A. Bosak. J. Appl. Spectr., 79 (2012) 261-268

The authors declare that there are no conflicts of interest present.