<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">zhps</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Журнал прикладной спектроскопии</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Zhurnal Prikladnoii Spektroskopii</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0514-7506</issn><publisher><publisher-name>B. I. Stepanov Institute of Physics of the National Academy of Sciences</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">zhps-2345</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>Статьи</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Оптические характеристики пленок полиимида, имплантированных ионами железа с высоким флюенсом</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Optical Properties of Polyimide Films Implanted with Iron Ions to High Fluence</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Ющик</surname><given-names>А. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Yuschik</surname><given-names>A. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Минск</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Minsk</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Сидоренко</surname><given-names>Ю. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Sidorenko</surname><given-names>Yu. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Минск</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Minsk</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Лукашевич</surname><given-names>М. Г.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Lukashevich</surname><given-names>M. G.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Минск</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Minsk</p></bio><email xlink:type="simple">Lukashevich@bsu.by</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Оджаев</surname><given-names>В. Б.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Odzhaev</surname><given-names>V. B.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Минск</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Minsk</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Валеев</surname><given-names>В. Ф.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Valeev</surname><given-names>V. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Казань</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Kazan</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Хайбуллин</surname><given-names>Р. И.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Khaibullin</surname><given-names>R. I.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Казань</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Kazan</p></bio><email xlink:type="simple">rik@kfti.knc.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Белорусский государственный университет</institution><country>Беларусь</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Belarusian State University</institution><country>Belarus</country></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-2"><aff xml:lang="ru"><institution>Казанский физико-технический институт им. Е.К. Завойского ФИЦ Казанский научный центр РАН</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Zavoisky Physical-Technical Institute, FRC Kazan Scientific Center of RAS</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2026</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>10</day><month>09</month><year>2026</year></pub-date><volume>93</volume><issue>3</issue><fpage>363</fpage><lpage>369</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Ющик А.В., Сидоренко Ю.В., Лукашевич М.Г., Оджаев В.Б., Валеев В.Ф., Хайбуллин Р.И., 2026</copyright-statement><copyright-year>2026</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Ющик А.В., Сидоренко Ю.В., Лукашевич М.Г., Оджаев В.Б., Валеев В.Ф., Хайбуллин Р.И.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Yuschik A.V., Sidorenko Y.V., Lukashevich M.G., Odzhaev V.B., Valeev V.V., Khaibullin R.I.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://zhps.ejournal.by/jour/article/view/2345">https://zhps.ejournal.by/jour/article/view/2345</self-uri><abstract><p>   В диапазоне 200—3000 нм исследованы пропускание и отражение тонких (40 мкм) пленок полиимида, имплантированных ионами железа с энергией 40 кэВ высоким флюенсом: F1 = 5 ꞏ 1016 и F2 = 1.25 ꞏ 1017 см–2. Интегральный коэффициент пропускания пленок монотонно уменьшается более чем в три раза, в то время как коэффициент отражения изменяется немонотонно: увеличивается при малом флюенсе и уменьшается до исходного значения при высоком флюенсе. Для импланитрованных пленок наблюдается широкая полоса отражения с максимумом при λ ≈ 1000 нм, связанная с формированием наночастиц железа и/или его соединений. Узкие полосы отражения, характерные для исходного полиимида в УФ-области, подавляются при отражении имплантированной стороной и сдвигаются в коротковолновую область при регистрации от неимплантированной поверхности пленки. Результаты измерений интерпретированы в рамках двухслойной модели: карбонизированный приповерхностный слой с имплантированным металлом и немодифицированный имплантацией слой полимерной пленки. Оптическая щель Тауца карбонизированного слоя имеет отрицательное значение из-за доминирования в нем железосодержащей фазы, показатели преломления модифицированного слоя n1 = 2.5 при низком флюенсе и n2 = 1.3 при высоком.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>   In the range of 200–3000 nm, the transmission and reflection of thin (40 μm) polyimide films implanted with 40 keV iron ions at a high fluence of F1 = 5 ꞏ 1016 and F2 = 1.25 ꞏ 1017 cm–2 were studied. The integrated transmittance of the films decreases monotonically by more than three times, while the reflectivity changes nonmonotonically: it increases at a low fluence and decreases to the initial value at a high fluence. In addition, a broad reflection band with a maximum at λ ≈ 1000 nm is observed in the implanted films, associated with the formation of iron nanoparticles and/or its compounds. Narrow reflection bands characteristic for the original polyimide in the ultraviolet region are suppressed when reflected by the implanted side and shifted to the short-wavelength region when recorded from the non-implanted surface of the film. The measurement results were interpreted in the framework of a two-layer model: a carbonized surface layer with implanted metal and a polymer film layer unmodified by the implantation. The determined Tauc optical gap of the carbonized layer is negative due to the dominance of the iron-containing phase, and the refractive indices of the modified layer are: n1 = 2.5 and n2 = 1.3 at low and high fluences, respectively.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>полимерная пленка</kwd><kwd>полиимид</kwd><kwd>ионная имплантация</kwd><kwd>примесь железа</kwd><kwd>пропускание и отражение света</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>polymer film</kwd><kwd>polyimide</kwd><kwd>ion implantation</kwd><kwd>iron impurity</kwd><kwd>light transmission and reflection</kwd></kwd-group><funding-group><funding-statement xml:lang="ru">Эксперименты по ионной имплантации, расчеты радиационного повреждения полимерной матрицы и средних пробегов ионов железа в полиимиде проводились в рамках госзадания ФИЦ КазНЦ РАН</funding-statement><funding-statement xml:lang="en">Experiments on ion implantation, calculations of radiation damage to the polymer matrix, and average iron ion ranges in polyimide were carried out as part of the state assignment of the Federal Research Center of the Kazan Scientific Center of the Russian Academy of Sciences</funding-statement></funding-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">В. Б. Оджаев, И. П. Козлов, В. Н. Попок, Д. В. Свиридов. Ионная имплантация полимеров, Минск, Белгосуниверситет (1998)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">В. Б. Оджаев, И. П. Козлов, В. Н. Попок, Д. В. Свиридов. Ионная имплантация полимеров, Минск, Белгосуниверситет (1998)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">A. L. Stepanov, R. I. Khaibullin. Rev. Adv. Mater. Sci., 7, N 2 (2004) 108—125</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">A. L. Stepanov, R. I. Khaibullin. Rev. Adv. Mater. Sci., 7, N 2 (2004) 108—125</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">А. А. Харченко, М. Г. Лукашевич, В. И. Нуждин, Р. И. Хайбуллин, В. Б. Оджаев. ФТТ, 55, № 1 (2013) 75—80</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">А. А. Харченко, М. Г. Лукашевич, В. И. Нуждин, Р. И. Хайбуллин, В. Б. Оджаев. ФТТ, 55, № 1 (2013) 75—80</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ф. А. Нажим, М. Г. Лукашевич, В. И. Нуждин, Р. И. Хайбуллин, В. Б. Оджаев. Изв. НАН Беларуси. Сер. физ-мат. наук, № 2 (2010) 100—105</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ф. А. Нажим, М. Г. Лукашевич, В. И. Нуждин, Р. И. Хайбуллин, В. Б. Оджаев. Изв. НАН Беларуси. Сер. физ-мат. наук, № 2 (2010) 100—105</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ю. А. Бумай, В. Ф. Валеев, Н. И. Долгих, М. Г. Лукашевич, Ф. А. Нажим, В. И. Нуждин, В. Б. Оджаев. Материалы, технологии, инструменты, 15, № 4 (2010) 54—58</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ю. А. Бумай, В. Ф. Валеев, Н. И. Долгих, М. Г. Лукашевич, Ф. А. Нажим, В. И. Нуждин, В. Б. Оджаев. Материалы, технологии, инструменты, 15, № 4 (2010) 54—58</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ю. А. Бумай, Н. И. Долгих, А. А. Харченко, В. Ф. Валеев, В. И. Нуждин, Р. И. Хайбуллин, Ф. А. Нажим, М. Г. Лукашевич, В. Б. Оджаев. Журн. прикл. спектр., 81, № 2 (2014) 192—196 [Yu. A. Bumai, N. I. Dolgikh, A. A. Kharchenko, V. F. Valeev, V. I. Nuzhdin, R. I. Khaibullin, F. A. Nagim, M. G. Lukashevich, V. B. Odzhaev. J. Appl. Spectr., 81 (2014) 188—192]</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ю. А. Бумай, Н. И. Долгих, А. А. Харченко, В. Ф. Валеев, В. И. Нуждин, Р. И. Хайбуллин, Ф. А. Нажим, М. Г. Лукашевич, В. Б. Оджаев. Журн. прикл. спектр., 81, № 2 (2014) 192—196 [Yu. A. Bumai, N. I. Dolgikh, A. A. Kharchenko, V. F. Valeev, V. I. Nuzhdin, R. I. Khaibullin, F. A. Nagim, M. G. Lukashevich, V. B. Odzhaev. J. Appl. Spectr., 81 (2014) 188—192]</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">В. В. Базаров, Ю. А. Бумай, В. Ф. Валеев, В. И. Головчук, М. Г. Лукашевич, В. И. Нуждин, В. Б. Оджаев, А. А. Харченко, Р. И. Хайбуллин. Журн. прикл. спектр., 87, № 3 (2020) 448—453 [V. V. Bazarov, Y. A. Bumai, V. F. Valeev, V. I. Golovchuk, M. G. Lukashevich, V. I. Nuzhdin, V. B. Odzhaev, A. A. Kharchenko, R. I. Khaibullin. J. Appl. Spectr., 87 (2020) 476—480]</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">В. В. Базаров, Ю. А. Бумай, В. Ф. Валеев, В. И. Головчук, М. Г. Лукашевич, В. И. Нуждин, В. Б. Оджаев, А. А. Харченко, Р. И. Хайбуллин. Журн. прикл. спектр., 87, № 3 (2020) 448—453 [V. V. Bazarov, Y. A. Bumai, V. F. Valeev, V. I. Golovchuk, M. G. Lukashevich, V. I. Nuzhdin, V. B. Odzhaev, A. A. Kharchenko, R. I. Khaibullin. J. Appl. Spectr., 87 (2020) 476—480]</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">А. С. Сорока, Ю. А. Бумай, В. И. Головчук, М. Г. Лукашевич, В. Б. Оджаев, Р. И. Хайбуллин. Полимерные материалы и технологии, № 3 (2021) 48—54</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">А. С. Сорока, Ю. А. Бумай, В. И. Головчук, М. Г. Лукашевич, В. Б. Оджаев, Р. И. Хайбуллин. Полимерные материалы и технологии, № 3 (2021) 48—54</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">А. Л. Степанов. ЖТФ, 74, № 2 (2004) 1—12</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">А. Л. Степанов. ЖТФ, 74, № 2 (2004) 1—12</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">E. T. Arakawa. J. Appl. Phys., 52, N 5 (1981) 3579—3582</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">E. T. Arakawa. J. Appl. Phys., 52, N 5 (1981) 3579—3582</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">J. Tauc, R. Grigorovici, A. Vancu. Phys. Status Solidi (b), 15, N 2 (1966) 627—637</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">J. Tauc, R. Grigorovici, A. Vancu. Phys. Status Solidi (b), 15, N 2 (1966) 627—637</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">J. Robertson, E. P. O’Reilly. Phys. Rev. B., 35, N 6 (1987) 2946—2957</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">J. Robertson, E. P. O’Reilly. Phys. Rev. B., 35, N 6 (1987) 2946—2957</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">https://refractiveindex.info/ (дата обращения: 18.10.2025)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">https://refractiveindex.info/ (дата обращения: 18.10.2025)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">P. D. Townsend, P. J. Chandler, L. Zhang. Optical Effects of Ion Implantation, Cambridge, Cambridge University (1994)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">P. D. Townsend, P. J. Chandler, L. Zhang. Optical Effects of Ion Implantation, Cambridge, Cambridge University (1994)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">А. А. Харченко. ХВЭ, 56, № 5 (2022) 378—387</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">А. А. Харченко. ХВЭ, 56, № 5 (2022) 378—387</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
