zhpsЖурнал прикладной спектроскопииZhurnal Prikladnoii Spektroskopii0514-7506B. I. Stepanov Institute of Physics of the National Academy of Scienceszhps-300Research Article******ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ И ОПТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК НАНОЧАСТИЦ ЛЕГИРОВАННОГО МЕДЬЮ СУЛЬФИДА ЦИНКАSTRUCTURAL AND OPTICAL STUDY OF COPPER DOPED ZINC SULFIDE NANOPARTICLESMishraP. .MishraP. .noemail@neicon.ruOjhaK. S.OjhaK. S.kspectra12@yahoo.co.inKhareA. .KhareA. .noemail@neicon.ruТехнический колледж Парала МахараджаParala Maharaja Engineering CollegeНациональный технологический институтNational Institute of Technology Raipur201810032020854681(1)-681(6)Copyright © Mishra P..., Ojha K.S., Khare A..., 20202020Mishra P..., Ojha K.S., Khare A...Mishra P..., Ojha K.S., Khare A...Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://zhps.ejournal.by/jour/article/view/300

Методом мокрой химии синтезированы наночастицы сульфида цинка, легированного медью. Полученные частицы обладают кристаллической структурой цинковой обманки с размером кристаллита 3.8 нм. Исследованы морфологии и оптические характеристики синтезированных частиц. Обнаружено, что ширина запрещенной зоны изменяется от 3.6 до 4.4 эВ в зависимости от концентрации меди. Исследована фотолюминесценция частиц при комнатной температуре.

Copper doped zinc sulfide nanoparticles have been synthesized using a wet chemical method. The synthesized nanoparticles exhibit a zinc blende structure with the crystallite size of 3.8 nm. The morphological and optical studies of the synthesized nanoparticles have been performed. It is found that the band gap varies from 3.6 to 4.4 eV depending upon the concentration of copper. The room temperature photoluminescence of the synthesized nanoparticles has been also investigated.

ZnSZnS:Cuрентгеноструктурный анализсканирующая электронная микроскопияпросвечивающая электронная микроскопиянаночастицафотолюминесценцияZnSZnS:CuX-ray diffractometryscanning electron microscopytransmission electron microscopynanoparticlesphotoluminescenceReferencesM. Wang, L. Sun, X. Fu, C. Liao, C. Yan, Solid State Commun., 115, 493-496 (2000).M. Wang, L. Sun, X. Fu, C. Liao, C. Yan, Solid State Commun., 115, 493-496 (2000).H. Y. Lu, S. Y. Chu, J. Cryst. Growth, 265, 476-481 (2004).H. Y. Lu, S. Y. Chu, J. Cryst. Growth, 265, 476-481 (2004).D. Denzler, M. Olschewski, K. Sattler, J. App. Phys., 84, 2841-2845 (1998).D. Denzler, M. Olschewski, K. Sattler, J. App. Phys., 84, 2841-2845 (1998).P. Yang, M. Lu, D. Xu, D. Yuan, G. Zhou, Chem. Phys. Lett., 336, 76-80 (2001).P. Yang, M. Lu, D. Xu, D. Yuan, G. Zhou, Chem. Phys. Lett., 336, 76-80 (2001).K. Jayanthi, S. Chawla, H. Chander, D. Haranath, Cryst. Res.Technol., 42, 976-982 (2007).K. Jayanthi, S. Chawla, H. Chander, D. Haranath, Cryst. Res.Technol., 42, 976-982 (2007).J. M. Hwang, M. O. Oh, I. Kim, J. K. Lee, C. S. Ha, Curr. Appl. Phys., 5, 31-34 (2005).J. M. Hwang, M. O. Oh, I. Kim, J. K. Lee, C. S. Ha, Curr. Appl. Phys., 5, 31-34 (2005).H. Cho, C. Yun, J. W. Park, S. Yoo, Org. Electron., 10, 1163-1169 (2009).H. Cho, C. Yun, J. W. Park, S. Yoo, Org. Electron., 10, 1163-1169 (2009).C. W. Lee, C. H. Chou, J. H. Huang, C. S. Hsu, T. P. Nguyen, Mater. Sci. Eng. B, 147, 307-311(2008).C. W. Lee, C. H. Chou, J. H. Huang, C. S. Hsu, T. P. Nguyen, Mater. Sci. Eng. B, 147, 307-311(2008).X. Liu, X. Cai, J. Mao, C. Jin, Appl. Surf. Sci., 183, 103-110 (2001).X. Liu, X. Cai, J. Mao, C. Jin, Appl. Surf. Sci., 183, 103-110 (2001).V. Dimitrova, J. Tate, Thin Solid Films, 365, 134-138 (2000).V. Dimitrova, J. Tate, Thin Solid Films, 365, 134-138 (2000).D. W. Wang, S. L. Zhao, Z. Xu, C. Kong, W. Gong, Org. Electron., 12, 92-97 (2011).D. W. Wang, S. L. Zhao, Z. Xu, C. Kong, W. Gong, Org. Electron., 12, 92-97 (2011).E. A. Mastio, C. B. Thomas, W. M. Cranton, E. Fogarassy, Appl. Surf. Sci., 157, 74-80 (2000).E. A. Mastio, C. B. Thomas, W. M. Cranton, E. Fogarassy, Appl. Surf. Sci., 157, 74-80 (2000).B. L. Zhu, X. Chen, L. M. Xu, Thin Solid Films, 474, 114-118 (2005).B. L. Zhu, X. Chen, L. M. Xu, Thin Solid Films, 474, 114-118 (2005).C. Ma, D. Moore, J. Li, Z. L. Wang, Adv. Mater., 15, 228-231 (2003).C. Ma, D. Moore, J. Li, Z. L. Wang, Adv. Mater., 15, 228-231 (2003).Y. Zhao, Y. Zhang, H. Zhu, G. C. Hadjipanayis, J. Q. Xiao, J. Am. Ceram. Soc., 126, 6874-6875 (2004).Y. Zhao, Y. Zhang, H. Zhu, G. C. Hadjipanayis, J. Q. Xiao, J. Am. Ceram. Soc., 126, 6874-6875 (2004).W. Chen, J. O. Malm, V. Zwiller, Y. Huang, S. Liu, R. Wallenberg, J. O. Bovin, L. Samuelson, Phys. Rev. B, 61, 11021-11024 (2000).W. Chen, J. O. Malm, V. Zwiller, Y. Huang, S. Liu, R. Wallenberg, J. O. Bovin, L. Samuelson, Phys. Rev. B, 61, 11021-11024 (2000).S. J. Xu, S. J. Chua, B. Liu, L. M. Gan, C. H. Chew, G. Q. Xu, Appl. Phys. Lett., 73, 478-480 (1998).S. J. Xu, S. J. Chua, B. Liu, L. M. Gan, C. H. Chew, G. Q. Xu, Appl. Phys. Lett., 73, 478-480 (1998).B. Y. Geng, L. D. Zhang, G. Z. Wang, T. Xie, Y. G. Zhang, G. W. Meng, Appl. Phys. Lett., 84, 2157-2159 (2004).B. Y. Geng, L. D. Zhang, G. Z. Wang, T. Xie, Y. G. Zhang, G. W. Meng, Appl. Phys. Lett., 84, 2157-2159 (2004).B. Bhattacharjee, D. Ganguli, K. Iakoubovskii, A. Stesmans, S. Chaudhuri, Bull. Mater. Sci., 25, 175-180 (2002).B. Bhattacharjee, D. Ganguli, K. Iakoubovskii, A. Stesmans, S. Chaudhuri, Bull. Mater. Sci., 25, 175-180 (2002).R. N. Bhargava, D. Gallagher, X. Hong, A. Nurmikko, Phys. Rev. Lett., 72, 416-419 (1994). 681-6R. N. Bhargava, D. Gallagher, X. Hong, A. Nurmikko, Phys. Rev. Lett., 72, 416-419 (1994). 681-6A. A. Khosravi, M. Kundu, L. Jatwa, S. K. Deshpande, U. A. Bhagwat, M. Sastry, S. K. Kulkarni, Appl. Phys. Lett., 67, 2702-2704 (1995).A. A. Khosravi, M. Kundu, L. Jatwa, S. K. Deshpande, U. A. Bhagwat, M. Sastry, S. K. Kulkarni, Appl. Phys. Lett., 67, 2702-2704 (1995).S. Lee, D. Song, D. Kim, J. Lee, S. Kim, I. Y. Park, and Y. D. Choi, Mater. Lett., 58, 342-346 (2004).S. Lee, D. Song, D. Kim, J. Lee, S. Kim, I. Y. Park, and Y. D. Choi, Mater. Lett., 58, 342-346 (2004).J. Huang, Y. Yang, S. Xue, B. Yang, S. Liu, J. Shen, Appl. Phys. Lett., 70, 2335-2337 (1997).J. Huang, Y. Yang, S. Xue, B. Yang, S. Liu, J. Shen, Appl. Phys. Lett., 70, 2335-2337 (1997).A. A. Bol, J. Ferwerda, J. A. Bergwer, A. Meijerink, J. Lumin., 99, 325-334 (2002).A. A. Bol, J. Ferwerda, J. A. Bergwer, A. Meijerink, J. Lumin., 99, 325-334 (2002).S. Lee, D. Song, J. Lee, S. Kim, I. Y. Park, M. S.Won, Mater. Sci. Eng. B, 103, 241-245 (2003).S. Lee, D. Song, J. Lee, S. Kim, I. Y. Park, M. S.Won, Mater. Sci. Eng. B, 103, 241-245 (2003).W. Q. Peng, G. W. Cong, S. C. Qu, Z. G. Wang, Opt. Mater., 29, 313-317 (2006).W. Q. Peng, G. W. Cong, S. C. Qu, Z. G. Wang, Opt. Mater., 29, 313-317 (2006).B. Bodo, P. K. Kalita, Res. J. Phys. Sci., 1, 2-5 (2013).B. Bodo, P. K. Kalita, Res. J. Phys. Sci., 1, 2-5 (2013).B. Liu, Y. Bando, X. Jiang, C. Li, X. Fang, H. Zeng, T. Terao, C. Tang, M. Mitome, D. Golberg, Nanotechnology, 21, 375601 (2010).B. Liu, Y. Bando, X. Jiang, C. Li, X. Fang, H. Zeng, T. Terao, C. Tang, M. Mitome, D. Golberg, Nanotechnology, 21, 375601 (2010).S. Ummartyotin, N. Bunnak, J. Juntaro, M. Sain, H. Manuspiya, Solid State Sci., 14, 299-304 (2012).S. Ummartyotin, N. Bunnak, J. Juntaro, M. Sain, H. Manuspiya, Solid State Sci., 14, 299-304 (2012).

The authors declare that there are no conflicts of interest present.