zhpsЖурнал прикладной спектроскопииZhurnal Prikladnoii Spektroskopii0514-7506B. I. Stepanov Institute of Physics of the National Academy of Scienceszhps-450Research ArticleСтатьиОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ТОНКИХ ПЛЕНОК CdSOPTICAL PROPERTIES OF CdS THIN FILMSПетрусьР. Ю.PetrusR. Yu.

79013, Львов

Lviv, 79013

petrusrom@gmail.comИльчукГ. А.IlchukH. A.

79013, Львов

Lviv, 79013

КашубаА. И.KashubaA. I.

79013, Львов; 79005, Львов

 

Lviv, 79013; Lviv, 79005

СемкивИ. В.SemkivI. V.

79013, Львов

Lviv, 79013

ЗмийовськаЕ. О.ZmiiovskaE. O.

79013, Львов

Lviv, 79013

ГончарФ. М.HoncharF. M.

79013, Львов

Lviv, 79013

Национальный университет “Львовская политехника”Lviv Polytechnic National UniversityНациональный университет “Львовская политехника”; Львовский национальный университет им. Ивана ФранкоLviv Polytechnic National University; Ivan Franko National University of Lviv2020120320208714349Copyright © Петрусь Р.Ю., Ильчук Г.А., Кашуба А.И., Семкив И.В., Змийовська Е.О., Гончар Ф.М., 20202020Петрусь Р.Ю., Ильчук Г.А., Кашуба А.И., Семкив И.В., Змийовська Е.О., Гончар Ф.М.Petrus R.Y., Ilchuk H.A., Kashuba A.I., Semkiv I.V., Zmiiovska E.O., Honchar F.M.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://zhps.ejournal.by/jour/article/view/450

Исследованы физические свойства тонких пленок CdS, полученных методом высокочастотного магнетронного напыления. Определены оптические константы и ширина запрещенной зоны исследуемых пленок (Eg = 2.39 эВ). Спектральные зависимости показателя преломления, поглощения, коэффициента экстинкции получены из спектров пропускания при комнатной температуре. Оптические параметры пленок определены с использованием одноосцилляторной модели, а также уравнений Коши и Селлмейера.

тонкая пленкапоказатель преломлениякоэффициент экстинкциипоказатель поглощенияспектр пропусканияодноосцилляторная модельthin filmrefractive indexextinction coefficientabsorption indextransmission spectrumsingle-oscillator modelReferencesV. N. Astratov, V. N. Bogomolov, A. A. Kaplyanskii, A. V. Prokofiev, L. A. Samoilovich, S. M. Samoilovich, Yu. A. Vlasov. Il Nuovo Cimento D, 17 , N 11-12 (1995) 1349—1354V. N. Astratov, V. N. Bogomolov, A. A. Kaplyanskii, A. V. Prokofiev, L. A. Samoilovich, S. M. Samoilovich, Yu. A. Vlasov. Il Nuovo Cimento D, 17 , N 11-12 (1995) 1349—1354J. Lee, T. Tsakalakos. Nanostruct. Mater., 8 , N 4 (1997) 381—398J. Lee, T. Tsakalakos. Nanostruct. Mater., 8 , N 4 (1997) 381—398R. Rossetti, S. Nakahara, L. E. Brus. J. Chem. Phys., 79 , N 2 (1983) 1086—1088R. Rossetti, S. Nakahara, L. E. Brus. J. Chem. Phys., 79 , N 2 (1983) 1086—1088Der-San Chuu, Chang-Ming Dai. Phys. Rev. B, 45 , N 20 (1992) 11805—11810Der-San Chuu, Chang-Ming Dai. Phys. Rev. B, 45 , N 20 (1992) 11805—11810N. V. Bondar, M. S. Brodyn, N. A. Matveevskaya. Ukr. J. Phys., 60 , N 7 (2015) 648—655N. V. Bondar, M. S. Brodyn, N. A. Matveevskaya. Ukr. J. Phys., 60 , N 7 (2015) 648—655C. Nascu, V. Ionescu, E. Indrea, I. Bratu. Mater. Lett., 32 , N 2 (1997) 73—77C. Nascu, V. Ionescu, E. Indrea, I. Bratu. Mater. Lett., 32 , N 2 (1997) 73—77J. Touskova, D. Kindl, J. Tousek. Phys. Status Solidi (a), 142 , N 2 (1994) 539—549J. Touskova, D. Kindl, J. Tousek. Phys. Status Solidi (a), 142 , N 2 (1994) 539—549M. A. Hasse, J. Qiu, J. M. DePuydt, H. Cheng. Appl. Phys. Lett., 59 , N 11 (1991) 1272M. A. Hasse, J. Qiu, J. M. DePuydt, H. Cheng. Appl. Phys. Lett., 59 , N 11 (1991) 1272B. Su, K. L. Choy. Thin Solid Films, 359 , N 2 (2000) 160—164B. Su, K. L. Choy. Thin Solid Films, 359 , N 2 (2000) 160—164A. Bosio, N. Romeo, S. Mazzamuto, V. Canevari. Prog. Cryst. Growth Charact. Mater., 52 , N 4 (2006) 247—279A. Bosio, N. Romeo, S. Mazzamuto, V. Canevari. Prog. Cryst. Growth Charact. Mater., 52 , N 4 (2006) 247—279R. N. Bhattacharya, M. A. Contreras, B. Egaas, R. N. Noufi. Appl. Phys. Lett., 89 , N 25 (2006) 253503R. N. Bhattacharya, M. A. Contreras, B. Egaas, R. N. Noufi. Appl. Phys. Lett., 89 , N 25 (2006) 253503I. O. Oladeji, L. Chow. Thin Solid Film., 474 , N 1-2 (2005) 77—83I. O. Oladeji, L. Chow. Thin Solid Film., 474 , N 1-2 (2005) 77—83W. Mahmood, J. Ali, I. Zahid, A. Thomas, A. Haq. Optik, 158 (2018) 1558—1566W. Mahmood, J. Ali, I. Zahid, A. Thomas, A. Haq. Optik, 158 (2018) 1558—1566А. В. Мудрый, А. В. Короткий, А. В. Иванюкович, В. Ф. Гременок, В. Б. Залесский, А. М. Поликанин. Материалы 7-й междунар. конф. “Взаимодействие излучений с твердым телом”, 26—28 сентября 2007 г., Минск, Беларусь (2007) 140—142А. В. Мудрый, А. В. Короткий, А. В. Иванюкович, В. Ф. Гременок, В. Б. Залесский, А. М. Поликанин. Материалы 7-й междунар. конф. “Взаимодействие излучений с твердым телом”, 26—28 сентября 2007 г., Минск, Беларусь (2007) 140—142C. Santiago Tepantlan, A. M. Perez Gonzalez, I. Valeriano Arreola. Revista Mexicana de Fisica, 54 , N 2 (2008) 112—117C. Santiago Tepantlan, A. M. Perez Gonzalez, I. Valeriano Arreola. Revista Mexicana de Fisica, 54 , N 2 (2008) 112—117R. Yu. Petrus, H. A. Ilchuk, A. I. Kashuba, I. V. Semkiv, E. O. Zmiiovska. Opt. Spectrosc., 126 , N 3 (2019) 220—225R. Yu. Petrus, H. A. Ilchuk, A. I. Kashuba, I. V. Semkiv, E. O. Zmiiovska. Opt. Spectrosc., 126 , N 3 (2019) 220—225N. Romeo, A. Bosio, R. Tedeschi, V. Canevari. Mater. Chem. Phys., 66 , N 2-3 (2000) 201—206N. Romeo, A. Bosio, R. Tedeschi, V. Canevari. Mater. Chem. Phys., 66 , N 2-3 (2000) 201—206R. Swanepoel . J. Phys. E, Sci. Instrum., 16 (1983) 1214—1221R. Swanepoel . J. Phys. E, Sci. Instrum., 16 (1983) 1214—1221J. Sanchez-Gonzalez, A. Diaz-Parralejo, A. L. Ortiz, F. Guiberteau. Appl. Surf. Sci., 252 , N 17 (2006) 6013—6017J. Sanchez-Gonzalez, A. Diaz-Parralejo, A. L. Ortiz, F. Guiberteau. Appl. Surf. Sci., 252 , N 17 (2006) 6013—6017S. Ilican, M. Gaglar, Y. Gaglar. Mater. Sci. Poland., 25 , N 3 (2007) 709—717S. Ilican, M. Gaglar, Y. Gaglar. Mater. Sci. Poland., 25 , N 3 (2007) 709—717C. Gumus, O. M. Ozkendir, H. Kavak, Y. Ufuktepe, J. Optoelectron. Anv. Mater., 8 , N 1 (2006) 299—303C. Gumus, O. M. Ozkendir, H. Kavak, Y. Ufuktepe, J. Optoelectron. Anv. Mater., 8 , N 1 (2006) 299—303В. В. Брус, З. Д. Ковалюк, П. Д. Марьянчук. ЖТФ, 82 , № 8 (2012) 110—113 [ V. V. Brus, Z. D. Kovalyuk, P. D. Maryanchuk. Techn. Phys., 57 , N 8 (2012) 1148—1151]В. В. Брус, З. Д. Ковалюк, П. Д. Марьянчук. ЖТФ, 82 , № 8 (2012) 110—113 [ V. V. Brus, Z. D. Kovalyuk, P. D. Maryanchuk. Techn. Phys., 57 , N 8 (2012) 1148—1151]В. В. Брус, М. Н. Солован, Э. В. Майструк, И. П. Козярский, П. Д. Марьянчук, К. С. Ульяницкий, J. Rappich. ФТТ, 56 , № 8 (2014) 1886—1890 [ V. V. Brus, M. N. Solovan, E. V. Maistruk, I. P. Kozyarskii, P. D. Maryanchuk, K. S. Ulyanytsky, J. Rappich. Phys. Sol. State, 56 , N 10 (2014) 1947—1951]В. В. Брус, М. Н. Солован, Э. В. Майструк, И. П. Козярский, П. Д. Марьянчук, К. С. Ульяницкий, J. Rappich. ФТТ, 56 , № 8 (2014) 1886—1890 [ V. V. Brus, M. N. Solovan, E. V. Maistruk, I. P. Kozyarskii, P. D. Maryanchuk, K. S. Ulyanytsky, J. Rappich. Phys. Sol. State, 56 , N 10 (2014) 1947—1951]V. V. Brus, L. J. Pidkamin, S. L. Abashin, Z. D. Kovalyuk, P. D. Maryanchuk, O. M. Chugai. Opt. Mater., 34 , N 11 (2012) 1940—1945V. V. Brus, L. J. Pidkamin, S. L. Abashin, Z. D. Kovalyuk, P. D. Maryanchuk, O. M. Chugai. Opt. Mater., 34 , N 11 (2012) 1940—1945C. Baban, G. G. Rusu, I. I. Nicolaescu, G. I. Rusu. J. Phys.: Condens. Matter, 12 (2000) 7687—7697C. Baban, G. G. Rusu, I. I. Nicolaescu, G. I. Rusu. J. Phys.: Condens. Matter, 12 (2000) 7687—7697C. Baban, G. I. Rusu, P. Prepelita. J. Optoelectron. Adv. Mater., 7 , N 2 (2005) 817—821C. Baban, G. I. Rusu, P. Prepelita. J. Optoelectron. Adv. Mater., 7 , N 2 (2005) 817—821M. Born, E. Wolf. Principles of Optics, Pergamon Press Oxford, ch. II (1975)M. Born, E. Wolf. Principles of Optics, Pergamon Press Oxford, ch. II (1975)A. Ashour, N. El-Kadry, S. A. Mahmoud. Thin Solid Films, 269 , N 1-2 (1995) 117—120A. Ashour, N. El-Kadry, S. A. Mahmoud. Thin Solid Films, 269 , N 1-2 (1995) 117—120S. H. Wemple, M. DiDomenico. Phys. Rev. B, 3 , N 4 (1971) 1338—1351S. H. Wemple, M. DiDomenico. Phys. Rev. B, 3 , N 4 (1971) 1338—1351T. M. Bieniewski, S. J. Czyzak. J. Opt. Soc. Am., 53 , N 4 (1963) 496—497T. M. Bieniewski, S. J. Czyzak. J. Opt. Soc. Am., 53 , N 4 (1963) 496—497R. E. Treharne, A. Seymour-Pierce, K. Durose, K. Hutchings, S. Roncallo, D. Lane. J. Phys. Conf. Ser., 286 (2011) 012038R. E. Treharne, A. Seymour-Pierce, K. Durose, K. Hutchings, S. Roncallo, D. Lane. J. Phys. Conf. Ser., 286 (2011) 012038S. Ninomiya, S. Adachi. J. Appl. Phys., 78 , N 2 (1995) 1183—1190S. Ninomiya, S. Adachi. J. Appl. Phys., 78 , N 2 (1995) 1183—1190А. В. Франив, В. И. Стадник, А. И. Кашуба, Р. С. Брезвин, О. В. Бовгира, А. В. Футей. Опт. и спектр., 123 (2017) 165—168 [ A. V. Franiv, V. Y. Stadnyk, A. I. Kashuba, R. S. Brezvin, O. V. Bovgira, A. V. Futei. Opt. Spectrosc., 123 , N 1 (2017) 177—180]А. В. Франив, В. И. Стадник, А. И. Кашуба, Р. С. Брезвин, О. В. Бовгира, А. В. Футей. Опт. и спектр., 123 (2017) 165—168 [ A. V. Franiv, V. Y. Stadnyk, A. I. Kashuba, R. S. Brezvin, O. V. Bovgira, A. V. Futei. Opt. Spectrosc., 123 , N 1 (2017) 177—180]Ю. И. Уханов. Оптические свойства полупроводников, Москва, Наука (1977)Ю. И. Уханов. Оптические свойства полупроводников, Москва, Наука (1977)

The authors declare that there are no conflicts of interest present.