zhpsЖурнал прикладной спектроскопииZhurnal Prikladnoii Spektroskopii0514-7506B. I. Stepanov Institute of Physics of the National Academy of Scienceszhps-677Research ArticleСтатьиВЛИЯНИЕ ФОТОУПРУГОГО И ПЬЕЗОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ЭФФЕКТОВ НА ЭНЕРГЕТИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ПРОПУСКАЮЩИХ И ОТРАЖАТЕЛЬНЫХ ГОЛОГРАММ В ФОТОРЕФРАКТИВНОМ КРИСТАЛЛЕINFLUENCE OF PHOTOELASTIC AND PIEZOELECTRIC EFFECTS ON THE ENERGETIC CHARACTERISTICS OF TRANSMISSION AND REFLECTION HOLOGRAMS IN A PHOTOREFRACTIVE CRYSTALНавныкоВ. Н.NaunykaV. N.
274760, Мозырь
Mozyr, 247760
valnav@inbox.ruШепелевичВ. В.ShepelevichV. V.
274760, Мозырь
Mozyr, 247760
МакаревичА. В.MakarevichA. V.
274760, Мозырь
Mozyr, 247760
ШандаровС. М.ShandarovS. M.
634050, Томск
Tomsk, 634050
Мозырский государственный педагогический университет имени И. П. ШамякинаMozyr State Pedagogical University named after I. P. ShamyakinТомский государственный университет систем управления и радиоэлектроникиTomsk State University of Control Systems and Radioelectronics202017092020874658666Copyright © Навныко В.Н., Шепелевич В.В., Макаревич А.В., Шандаров С.М., 20202020Навныко В.Н., Шепелевич В.В., Макаревич А.В., Шандаров С.М.Naunyka V.N., Shepelevich V.V., Makarevich A.V., Shandarov S.M.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://zhps.ejournal.by/jour/article/view/677голограммафоторефрактивный кристаллдиэлектрическая проницаемостьфотоупругий эффектпьезоэлектрический эффектдифракционная эффективностьотносительная интенсивность предметной волныhologramphotorefractive crystaldielectric permittivityphotoelastic effectpiezoelectric effectdiffraction efficiencyrelative intensity of the object waveРабота выполнена при поддержке Министерства образования Республики Беларусь в рамках задания 1.2.01 Государственной программы научных исследований “Фотоника, опто- и микроэлектроника” на 2016—2020 гг., Министерства науки и высшего образования Российской Федерации в рамках госзадания на 2020—2023 гг. (задание FEWM-2020-0038/3).ReferencesА. А. Изванов, А. Е. Мандель, Н. Д. Хатьков, С. М. Шандаров. Автометрия, 2 (1986) 79—84А. А. Изванов, А. Е. Мандель, Н. Д. Хатьков, С. М. Шандаров. Автометрия, 2 (1986) 79—84С. И. Степанов, С. М. Шандаров, Н. Д. Хатьков. ФТТ, 29, № 10 (1987) 3054—3058С. И. Степанов, С. М. Шандаров, Н. Д. Хатьков. ФТТ, 29, № 10 (1987) 3054—3058А. Е. Мандель, С. М. Шандаров, В. В. Шепелевич. Письма в ЖТФ, 14, № 23 (1988) 2147—2151А. Е. Мандель, С. М. Шандаров, В. В. Шепелевич. Письма в ЖТФ, 14, № 23 (1988) 2147—2151В. В. Шепелевич. Журн. прикл. спектр., 78, № 4 (2011) 493—515 [V. V. Shepelevich. J. Appl. Spectr., 78 (2011) 461—483]В. В. Шепелевич. Журн. прикл. спектр., 78, № 4 (2011) 493—515 [V. V. Shepelevich. J. Appl. Spectr., 78 (2011) 461—483]V. V. Shepelevich, N. N. Egorov, P. P. Khomutovskiy, G. von Bally, M. Weber, A. A. Firsov. Ferroelectrics, 234, N 1-4 (1999) 289—309V. V. Shepelevich, N. N. Egorov, P. P. Khomutovskiy, G. von Bally, M. Weber, A. A. Firsov. Ferroelectrics, 234, N 1-4 (1999) 289—309V. V. Shepelevich, N. N. Egorov, Victor Shepelevich. J. Opt. Soc. Am. B, 11, N 8 (1994) 1394—1402V. V. Shepelevich, N. N. Egorov, Victor Shepelevich. J. Opt. Soc. Am. B, 11, N 8 (1994) 1394—1402V. V.Shepelevich, S. F. Nichiporko, A. E. Zagorskiy, N. N. Egorov, Yi Hu, K. H. Ringhofer, E. Shamonina, V. Ya. Gayvoronsky. Ferroelectrics, 266 (2002) 641—669V. V.Shepelevich, S. F. Nichiporko, A. E. Zagorskiy, N. N. Egorov, Yi Hu, K. H. Ringhofer, E. Shamonina, V. Ya. Gayvoronsky. Ferroelectrics, 266 (2002) 641—669В. В. Шепелевич, В. Н. Навныко, С. Ф. Ничипорко, С. М. Шандаров, А. Е. Мандель. Письма в ЖТФ, 29, № 18 (2003) 22—28В. В. Шепелевич, В. Н. Навныко, С. Ф. Ничипорко, С. М. Шандаров, А. Е. Мандель. Письма в ЖТФ, 29, № 18 (2003) 22—28В. В. Шепелевич, В. Н. Навныко, С. М. Шандаров. Докл. ТУСУР, 26, № 2 (2012) 78—91В. В. Шепелевич, В. Н. Навныко, С. М. Шандаров. Докл. ТУСУР, 26, № 2 (2012) 78—91E. Shamonina, V. P. Kamenov, K. H. Ringhofer, G. Cedilnik, A. Kiessling, R. Kowarschik. J. Opt. Soc. Am. B, 15, N 10 (1998) 2552—2559E. Shamonina, V. P. Kamenov, K. H. Ringhofer, G. Cedilnik, A. Kiessling, R. Kowarschik. J. Opt. Soc. Am. B, 15, N 10 (1998) 2552—2559В. В. Шепелевич, Н. Н. Егоров, П. И.Ропот, А. А. Фирсов. Квант. электрон., 32, № 1 (2002) 87—90В. В. Шепелевич, Н. Н. Егоров, П. И.Ропот, А. А. Фирсов. Квант. электрон., 32, № 1 (2002) 87—90М. П. Петров, С. И. Степанов, А. В. Хоменко. Фоторефрактивные кристаллы в когерентной оптике, СПб, Наука (1992)М. П. Петров, С. И. Степанов, А. В. Хоменко. Фоторефрактивные кристаллы в когерентной оптике, СПб, Наука (1992)К. С. Александров, В. С. Бондаренко, М. П. Зайцева, Б. П. Сорокин, Ю. И. Кокорин, В. М. Зражевский, Б. В. Соболев. ФТТ, 26, № 12 (1984) 3603—3610К. С. Александров, В. С. Бондаренко, М. П. Зайцева, Б. П. Сорокин, Ю. И. Кокорин, В. М. Зражевский, Б. В. Соболев. ФТТ, 26, № 12 (1984) 3603—3610Г. А. Бабонас, А. А. Реза, Е.И. Леонов, В. И. Шандарис. ЖТФ, 55, № 6 (1985) 1203—1205Г. А. Бабонас, А. А. Реза, Е.И. Леонов, В. И. Шандарис. ЖТФ, 55, № 6 (1985) 1203—1205P. Gunter, M. Zgonik. Opt. Lett., 16 (1991) 1826—1828P. Gunter, M. Zgonik. Opt. Lett., 16 (1991) 1826—1828С. М. Шандаров, В. В. Шепелевич, Н. Д. Хатьков. Опт. и спектр., 67, № 4 (1989) 819—822С. М. Шандаров, В. В. Шепелевич, Н. Д. Хатьков. Опт. и спектр., 67, № 4 (1989) 819—822Ю. И. Сиротин, М. П. Шаскольская. Основы кристаллофизики, Москва, Наука (1979)Ю. И. Сиротин, М. П. Шаскольская. Основы кристаллофизики, Москва, Наука (1979)А. С. Сонин. Курс макроскопической кристаллофизики, Москва, ФИЗМАТЛИТ (2006)А. С. Сонин. Курс макроскопической кристаллофизики, Москва, ФИЗМАТЛИТ (2006)Д. М. Васильев. Физическая кристаллография, Москва, Металлургия (1981)Д. М. Васильев. Физическая кристаллография, Москва, Металлургия (1981)Л. А. Шувалов, А. А. Урусовская, И. С. Желудев, А. В. Залесский, С. А. Семилетов, Б. Н. Гречушников, И. Г. Чистяков, С. А. Пикин. Современная кристаллография. Физические свойства кристаллов, Москва, Наука (1981)Л. А. Шувалов, А. А. Урусовская, И. С. Желудев, А. В. Залесский, С. А. Семилетов, Б. Н. Гречушников, И. Г. Чистяков, С. А. Пикин. Современная кристаллография. Физические свойства кристаллов, Москва, Наука (1981)
The authors declare that there are no conflicts of interest present.