<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">zhps</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Журнал прикладной спектроскопии</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Zhurnal Prikladnoii Spektroskopii</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0514-7506</issn><publisher><publisher-name>B. I. Stepanov Institute of Physics of the National Academy of Sciences</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.47612/0514-7506-2021-88-6-962-966</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">zhps-945</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>Статьи</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Экспресс-анализ триэтоксисилана и тетраэтоксисилана методом спектроскопии комбинационного рассеяния света для оптимизации технологического процесса синтеза моносилана</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Express analysis of triethoxysilane and tetraethoxysilane using the raman spectroscopy method for optimization of the technological process of monosilane synthesis</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Ротштейн</surname><given-names>В. М.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Rotshteyn</surname><given-names>V. M.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Taшкент</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Tashkent</p></bio><email xlink:type="simple">vladimir.rotshteyn@gmail.com</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Ашуров</surname><given-names>Х. Б.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Ashurov</surname><given-names>Kh. B.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Taшкент</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Tashkent</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Ашуров</surname><given-names>Р. Х.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Ashurov</surname><given-names>R. Kh.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Taшкент</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Tashkent</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Институт ионно-плазменных и лазерных технологий АН РУз</institution></aff><aff xml:lang="en"><institution>Institute of Ion-Plasma and Laser Technologies of the Uzbekistan Academy of Sciences</institution></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2021</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>29</day><month>11</month><year>2021</year></pub-date><volume>88</volume><issue>6</issue><fpage>962</fpage><lpage>966</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Ротштейн В.М., Ашуров Х.Б., Ашуров Р.Х., 2021</copyright-statement><copyright-year>2021</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Ротштейн В.М., Ашуров Х.Б., Ашуров Р.Х.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Rotshteyn V.M., Ashurov K.B., Ashurov R.K.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://zhps.ejournal.by/jour/article/view/945">https://zhps.ejournal.by/jour/article/view/945</self-uri><abstract><p>Описана методика экспресс-анализа продуктов технологических процессов, разработанная с использованием спектроскопии комбинационного рассеяния света. Анализ спектров комбинационного рассеяния включает в себя расшифровку спектральных полос с учетом характеристических частот колебательных спектров органических соединений, а также определение интегральных интенсивностей в соответствующих спектральных диапазонах. На примере процедуры контроля в реальном времени за протеканием технологического процесса синтеза моносилана осуществлен экспресс-анализ тетраэтоксисилана — побочного продукта данного технологического процесса. Продемонстрированы существенные преимущества экспресс-анализа, обеспечивающие контроль за штатным ходом технологического процесса и получение результатов, позволяющих вносить коррективы в технологическую схему процесса с целью его оптимизации. </p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>A technique for the express analysis of the products of technological processes is described, which was developed using the Raman spectroscopy method. The analysis of the Raman spectra includes the interpretation of the spectral bands, taking into account the values of the characteristic frequencies of the vibrational spectra of organic compounds, as well as the determination of the integral intensities of the corresponding spectral ranges. By example of the real time control procedure for the technological process of monosilane synthesis, the express analysis of tetraethoxysilane, which is a by-product of this technological process, is carried out. Significant advantages of using the express analysis method are demonstrated, which provide control over the normal course of the technological process and obtaining results that allow making adjustments to the process flow diagram in order to optimize it. </p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>хромато-масс-спектрометрия</kwd><kwd>комбинационное рассеяние света</kwd><kwd>триэтоксисилан</kwd><kwd>тетраэтоксисилан</kwd><kwd>количественный и качественный экспресс-анализ</kwd><kwd>градуировочный график</kwd><kwd>оптимизация технологического процесса</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>chromatography-mass spectrometry</kwd><kwd>Raman scattering</kwd><kwd>triethoxysilane</kwd><kwd>tetraethoxysilane</kwd><kwd>quantitative and qualitative express analysis</kwd><kwd>calibration graph</kwd><kwd>process optimization</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">В. М. Ротштейн, Х. Б. Ашуров, Р. Х. Ашуров. Uzbek J. Phys., 22, № 5 (2020) 314—324, https://doi.org/10.52304/.v22i5.197</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">В. М. Ротштейн, Х. Б. Ашуров, Р. Х. Ашуров. Uzbek J. Phys., 22, № 5 (2020) 314—324, https://doi.org/10.52304/.v22i5.197</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">В. М. Ротштейн, Х. Б. Ашуров, Р. Х. Ашуров. Журн. прикл. спектр., 88, № 4 (2021) 550—555, https://doi.org/10.1007/s10812-021-01232-1</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">В. М. Ротштейн, Х. Б. Ашуров, Р. Х. Ашуров. Журн. прикл. спектр., 88, № 4 (2021) 550—555, https://doi.org/10.1007/s10812-021-01232-1</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kh. Ashurov, V. Rotshteyn, Taek Joong Kim, Yong Kim, Kyung Yeol Kim, Deok Yun Kim, Sh. Salikhov, R. Ashurov. A Method for Preparing Monosilane by Using Trialkoxysilane, Patent US9278864 (B2), Pub. Date: March 8, 2016 (2016)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kh. Ashurov, V. Rotshteyn, Taek Joong Kim, Yong Kim, Kyung Yeol Kim, Deok Yun Kim, Sh. Salikhov, R. Ashurov. A Method for Preparing Monosilane by Using Trialkoxysilane, Patent US9278864 (B2), Pub. Date: March 8, 2016 (2016)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kh. Ashurov, V. Rotshteyn, Se In Yang, Kyung Kim, Yong Kim. A Method for Preparing Monosilane, Patent JP 6014771 (B2), Pub. Date: 25.10.2016 (2016)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kh. Ashurov, V. Rotshteyn, Se In Yang, Kyung Kim, Yong Kim. A Method for Preparing Monosilane, Patent JP 6014771 (B2), Pub. Date: 25.10.2016 (2016)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kh. Ashurov, V. Rotshteyn, Se In Yang, Yong Kim, B. Abdurakhmanov, A. Salimboev. Method for Preparing Trialkoxysilane, Patent EP 2 754 664 (B1), Pub. Date: 28.12.2016, Bulletin 2016/52 (2016)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kh. Ashurov, V. Rotshteyn, Se In Yang, Yong Kim, B. Abdurakhmanov, A. Salimboev. Method for Preparing Trialkoxysilane, Patent EP 2 754 664 (B1), Pub. Date: 28.12.2016, Bulletin 2016/52 (2016)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">А. Ю. Созин, В. А. Крылов, О. Ю. Чернова, Т. Г. Сорочкина, А. Д. Буланов, О. Ю. Трошин, А. П. Котков, Н. Д. Гришнова, А. И. Скосырев. Журн. аналит. химии, 75, № 11 (2020) 1040—1048</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">А. Ю. Созин, В. А. Крылов, О. Ю. Чернова, Т. Г. Сорочкина, А. Д. Буланов, О. Ю. Трошин, А. П. Котков, Н. Д. Гришнова, А. И. Скосырев. Журн. аналит. химии, 75, № 11 (2020) 1040—1048</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">В. Г. Бондалетов, А. А. Троян, Н. О. Кухленкова, Р. Я. Дебердеев. Вестн. Казан. технол. ун-та, 17, № 18 (2014) 21—24</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">В. Г. Бондалетов, А. А. Троян, Н. О. Кухленкова, Р. Я. Дебердеев. Вестн. Казан. технол. ун-та, 17, № 18 (2014) 21—24</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">В. А. Крылов, О. Ю. Чернова, А. Ю. Созин. Масс-спектрометрия, 4, № 2 (2007) 125—130</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">В. А. Крылов, О. Ю. Чернова, А. Ю. Созин. Масс-спектрометрия, 4, № 2 (2007) 125—130</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">P. A. Volkov, V. V. Fadeev. Method for Determination of Quantitative Content of Content of Components in Mixture, Patent RU 2352920, Pub. Date: 20.04.2009 (2009)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">P. A. Volkov, V. V. Fadeev. Method for Determination of Quantitative Content of Content of Components in Mixture, Patent RU 2352920, Pub. Date: 20.04.2009 (2009)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Э. Преч, Ф. Бюльманн, К. Аффольтер. Определение строения органических соединений, Москва, Мир, БИНОМ. Лаборатория знаний (2006)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Э. Преч, Ф. Бюльманн, К. Аффольтер. Определение строения органических соединений, Москва, Мир, БИНОМ. Лаборатория знаний (2006)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Л. Беллами. Инфракрасные спектры сложных молекул, Москва, Иностр. лит. (1963)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Л. Беллами. Инфракрасные спектры сложных молекул, Москва, Иностр. лит. (1963)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Л. Беллами. Новые данные по ИК спектрам сложных молекул, Москва, Мир (1971)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Л. Беллами. Новые данные по ИК спектрам сложных молекул, Москва, Мир (1971)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">К. Накамото. ИК спектры и спектры КР неорганических и координационных соединений, Москва, Мир (1991)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">К. Накамото. ИК спектры и спектры КР неорганических и координационных соединений, Москва, Мир (1991)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Б. Н. Тарасевич. ИК спектры основных классов органических соединений. Справочные материалы, Москва, МГУ (2012)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Б. Н. Тарасевич. ИК спектры основных классов органических соединений. Справочные материалы, Москва, МГУ (2012)</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
