Preview

Журнал прикладной спектроскопии

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Телеш Е.В., Достанко А.П., Гуревич О.В. СТЕХИОМЕТРИЯ ПЛЕНОК ДИОКСИДА КРЕМНИЯ, ПОЛУЧЕННЫХ ИОННО-ЛУЧЕВЫМ РАСПЫЛЕНИЕМ. Журнал прикладной спектроскопии. 2018;85(1):76-81.

For citation:


Telesh E.V., Dostanko A.P., Gurevich O.V. STOICHIOMETRY OF SILICON DIOXIDE FILMS OBTAINED BY ION-BEAM SPUTTERING. Zhurnal Prikladnoii Spektroskopii. 2018;85(1):76-81. (In Russ.)

Просмотров: 39


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 0514-7506 (Print)