СПЕКТРОСКОПИЯ ОТРАЖЕНИЯ ВИДИМОГО И БЛИЖНЕГО ИНФРАКРАСНОГО ДИАПАЗОНОВ КАК НЕРАЗРУШАЮЩИЙ МЕТОД ДЛЯ КРИМИНАЛИСТИЧЕСКОГО РАСПОЗНАВАНИЯ ЧЕРНИЛ

Спектры отражения в видимом диапазоне света зарегистрированы с подписей, сделанных пятью различными чернилами пяти шариковых ручек, с помощью портативного Vis-NIR спектрофотометра с персональным компьютером. Неразрушающая процедура анализа чернил заключалась в получении спектров отражения из ряда обозначенных мест для проб каждой подписи с использованием специального держателя отражающего зонда и вольфрамового источника белого света. Места для проб выбраны заранее, чтобы частично покрыть чернильную линию подписи на белом фоне (бумаге). Повторяющиеся спектры отражения (R%) для каждого вида чернил имели типичные спектральные характеристики (экстремумы). Для определения другого характерного спектрального признака для распознавания чернил — точек перегиба, характерных для краев поглощения, — вычислялась численная производная первого порядка для среднего спектра отражения каждого образца чернила. Длины волн, при которых проявляются типичные признаки, использованы для кодирования видимого-ближнего ИК-диапазона каждой краски с целью их различения. Каждой краске можно присвоить отдельный код на основании описания “общего” признака, экстремумов и точек перегиба из спектра отражения. Данный метод можно использовать в качестве неразрушающего инструмента для идентификации чернил в криминалистических целях.

1. M. Calcerrada, C. Garcia-Ruiz, Anal. Chim. Acta, 853, 143–166 (2015).

2. V. A. G. da Silva, M. Talhavini, J. J. Zacca, B. R. Trindade, J. W. B. Braga, J. Braz. Chem. Soc., 45, No. 9, 1552–1564 (2014).

3. J. Sherma, J. Liq, Chromatogr. Related Technol., 39, No. 12, 549–557 (2016).

4. H.-S. Chen, H.-H. Meng, K.-C. Cheng, Forens. Sci. J., 1, 1–14 (2002).

5. A. Kher, M. Mulholland, E. Green, B. Reedy, Vibr. Spectr., 30, No. 2, 270–277 (2006).

6. C. D. Adam, S. L. Sherratt, V. L. Zholobenko, Forens. Sci. Int., 174, No 1, 16–25 (2008).

7. V. Causin, R. Casamassima, C. Marega, P. Maida, S. Schiavone, A. Marigo, A. Villari, J. Forens. Sci., 53, No. 6, 1468–1673 (2008).

8. A. Braz, M. López-López, C. García-Ruiz, Forens. Sci. Int., 232, No. 1-3, 206–212 (2013).

9. D. R. de Morais, J. de Morais Campêlo, D. Razzo, M. N. Eberlin, J. L. Costa, J. M. Santos, Analyt. Methods, 7 (2020).

10. J. Lee, Y. S. Nam, J. Min, K.-B. Lee, Y. Lee, J. Forens. Sci., 61, No. 3, 815–822 (2016).

11. V. Mathayan, M. Sortica, D. Primetzhofer, J. Forens. Sci., 66, No. 4, 1404–1409 (2021).

12. J. Zieba-Palus, R. Borusiewicz, M. Kunicki, Forens. Sci. Int., 175, No. 1, 1–10 (2008).

13. J. F. Watts, Surface and Interface Analysis, 42, No. 5, 358–362 (2010).

14. F. Cicconi, V. Lazic, A. Palucci, A. C. Almeida Assis, F. Saverio Romolo, Sensors (Basel), 20, No. 13, 3744–3762 (2020).

15. M. Tanner, Y. Bussweiler, O. Borovinskaya, Spectroscopy, 32, No. 5, 14–20 (2017).

16. Y. Fan, J. Li, Y. Guo, L. Xie, G. Zhang, Measurement, 171, 108829 (2021).

17. Z. Khan Khan, F. Shafait, A. S. Mian, IEEE 12th Int. Conf. Document Analysis and Recognition (ICDAR), 25–28 August 2013, Washington (2013).

18. V. A. G. da Silva, M. Talhavini, I. C. F. Peixoto, J. J. Zacca, Adriano O. Maldaner, Jez W. B. Braga, Microchem. J., 116, 235–243 (2016).

19. R. Kumar, V. Sharma, Spectrochim. Acta A: Mol. Biomol. Spectrosc., 175, 67–75 (2017).