Структурные и оптические свойства углерод-палладиевых нанокомпозитных пленок, синтезированных методом ионного распыления

Методом ионного распыления составных мишеней синтезированы углерод-палладиевые нанокомпозитные пленки толщиной ~140 нм с размером наночастиц палладия до 2 нм. Исследованы оптические свойства углерод-палладиевых композитных пленок в видимой области спектра. Установлено, что оптическое поглощение данных нанокомпозитных пленок описывается характерной зависимостью Тауца. При этом присутствие наночастиц палладия приводит к резкому уменьшению оптической щели в композитных пленках, что объясняется ростом средних размеров графеновых нанокластеров в углеродной матрице.

1. N. Sharifi, H. Smith, D. Madden T. Kehoe, G. Wu, L. Yang, R. J. L. Welbourn, E. G. Fernandez, S. M. Clarke. Langmuir, 40 (2024) 52—61, doi: 10.1021/acs.langmuir.3c01438

2. Y. Lu, S. Wang, G. Huang, L. Xi, G. Qin, M. Zhu, H. Chu. J. Mater. Sci., 57 (2022) 3971—3992, doi: 10.1007/s10853-021-06818-w

3. I. A. Faizrakhmanov, V. V. Bazarov, V. A. Zhikharev, I. B. Khaibullin. Semiconductors, 35 (2001) 591—597, doi: 10.1134/1.1371628

4. В. В. Базаров, И. А. Файзрахманов, Н. М. Сулейманов, В. А. Шустов, Н. М. Лядов. Казанский физико-технический институт имени Е. К. Завойского, ОСП ФИЦ КазНЦ РАН, Ежегодник, 2020 (2021) 60—62, doi: 10.52670/annuphystech_2021_12

5. A. P. Ryaguzov, R. R. Nemkayeva, N. R. Guseinov, A. R. Assembayeva, S. I. Zaitsev. J. NonCrystalline Solids, 532 (2020) 119876, doi: 10.1016/j.jnoncrysol.2019.119876

6. I. A. Faizrakhmanov, V. V. Bazarov, A. L. Stepanov, I. B. Khaibullin. Semiconductors, 40 (2006) 414—419, doi: 10.1134/S1063782606040087

7. Aiping Zeng, Victor F. Neto, Jose J. Gracio, Qi Hua Fan. Diamond and Related Materials, 43 (2014) 12—22, doi: 10.1016/j.diamond.2014.01.003

8. И. А. Файзрахманов, И. Б. Хайбуллин. Поверхность, 5 (1996) 88 [I. A. Faizrakhmanov, I. B. Khaibullin. Poverkhnost Rentgenovskie Sinkhronnye i Nejtronnye Issledovaniya, 5 (1996) 88]

9. L. Lutterotti. Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. B, 268 (2010) 334—340, doi: 10.1016/j.nimb.2009.09.053

10. MAUD – Materials Analysis Using Diffraction (and more). Режим доступа: http://maud.radiographema.eu

11. J. Tauc, R. Grigorovici, A. Vancu. Physica Status Solidi, 15 (1966) 627

12. А. В. Раков. Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур, Москва, Советское радио (1975)

13. С. Метфессель. Тонкие пленки, их изготовление и измерение, Москва, Государственное энергетическое издательство (1963)

14. H. Murmann. Zeitshrift fur Physic, 80 (1933) 167

15. J. C. Maxwell Garnett. Phil. Trans. Roy. Soc. London A, 203 (1904) 385

16. Л. А. Головань, В. Ю. Тимошенко, П. К. Кашкаров. УФН, 177 (2007) 619—638 [L. A. Golovan, V. Yu. Timoshenko, P. K. Kashkarov. Physics – Uspekhi, 50 (2007)]

17. P. B. Johnson, R. W. Christy Phys. Rev. B, 9 (1974) 5056—5070, doi: 10.1103/PhysRevB.9.5056

18. Maxima. Система компьютерной алгебры. Режим доступа: https://maxima.sourceforge.io/