Исследование оптических свойств поликристаллов лютеция эллипсометрическим методом

Исследованы оптические свойства поликристаллов лютеция при комнатной температуре. Оптические постоянные измерены эллипсометрическим методом на спектральном светодиодном эллипсометре SPEL-7LED (Россия) в области 277—1000 нм. По измеренным величинам показателя преломления и коэффициента поглощения рассчитаны дисперсионные зависимости световой проводимости σ, отражательной способности R, мнимой и действительной частей диэлектрической проницаемости ε₁, ε₂, функции характеристических потерь энергии электронов Im(ε)^–1. Обнаружено, что межзонные переходы электронов оказывают значительное влияние на оптические свойства лютеция в твердом состоянии. В спектрах световой проводимости лютеция наблюдаются две полосы поглощения с максимумами при энергии фотонов 1.86 и 3.11 эВ, связанные с межзонными переходами.

1. S. M. Saini, N. Singh, T. Nautiyal, S. Auluck. Solid State Comm., 140 (2006) 125—129, https://dx.doi.org/10.1016/j.ssc.2006.08.016

2. Ю. В. Князев, М. М. Носков. Физика металлов и металловедение, 36, № 2 (1973) 299—303

3. Ю. В. Князев, Ю. И. Кузьмин, М. М. Кириллова. Физика металлов и металловедение, 79, № 5 (1995) 60—69

4. Ю. В. Князев, Ю. И. Кузьмин, Г. С. Бурханов, О. Д. Чистяков, Н. Б. Кольчугина. Физика металлов и металловедение, 76, № 6 (1993) 76—81

5. Y. Baer, G. Busch. Phys. Rev. Lett., 31, N 1 (1973) 35—37, doi: 10.1103/PhysRevLett.31.35

6. I. K. Lang, Y. Baer, P. A. Cox. J. Phys. F: Metal Phys., 11, N 1 (1981) 121—138, doi: 10.1088/0305-4608/11/1/015

7. R. Haensel, P. Rabe, B. Sonntag. Solid State Comm., 8, N 22 (1970) 1845—1848, doi: 10.1016/0038-1098(70)90331-5

8. J. I. Larruquert, J. A. Aznarez, J. A. Mendez, J. Calvo-Angos. Appl. Opt., 45, N 22 (2003) 4566—4571, doi: 10.1364/ao.42.004566

9. M. Fernández-Perea, J. A. Aznárez, J. I. Larruquert, J. A. Méndez, L. Poletto, D. Garoli, A. M. Malvezzi, A. Giglia, S. Nannarone. Appl. Phys., 103 (2008) 113515—113521, https://doi.org/10.1063/1.2939269

10. B. Kjornrattanawanich, L. D. Windt, A. Y. Uspenskii, F. J. Seely. Proc. SPIE, 6317 (2006) 1—6, https://doi.org/10.1117/12.681952

11. M. Fernández-Perea, M. Vidal-Dasilva, J. A. Aznárez, J. I. Larruquert, J. A. Méndez, L. Poletto, D. Garoli, A. M. Malvezzi, A. Giglia, S. Nannarone. Proc. SPIE, 7077 (2008) 1—10, https://doi.org/10.1117/12.795100

12. S. M. Saini, N. Singh, T. Nautiyal, S. Auluck. J. Appl. Phys., 101, N 3 (2007) 033523(1—5), https://doi.org/10.1063/1.2434800

13. S. García-Cortés, L. R. Marcos, J. I. Larruquert, J. A. Aznárez, J. A. Méndez, L. Poletto, F. Frassetto, A. M. Malvezzi, A. Giglia, N. Mahne, S. Nannarone. J. Appl. Phys., 108 (2010) 063514(1—6), https://doi.org/10.1063/1.3481062

14. А. В. Ржанов. Алгоритмы и программы для численного решения некоторых задач эллипсометрии, Новосибирск, Наука (1980)

15. А. В. Ржанов. Основы эллипсометрии, Москва, Наука (1979)