ИЗМЕРЕНИЕ КОНЦЕНТРАЦИИ ЭТИЛЕНА ПРИ ВЫСОКОМ ДАВЛЕНИИ МЕТОДОМ ПЕРЕСТРАИВАЕМОЙ ДИОДНОЙ ЛАЗЕРНОЙ АБСОРБЦИОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ ВБЛИЗИ ДЛИНЫ ВОЛНЫ 1620 нм
Аннотация
Разработана система детектирования этилена (C2H4) при высоком давлении методом перестраиваемой диодно-лазерной абсорбционной спектроскопии с использованием лазера с распределенной обратной связью вблизи 1620 нм. Для устранения влияния перекрытия спектральных линий при высоком давлении принята дифференциальная схема поглощения (пик минус провал). На выбранных длинах волн пика и провала 6174.64 и 6174.45 см-1 определены поперечные сечения поглощения этилена. Измеренная концентрация хорошо согласуется с известной, максимальное стандартное отклонение 0.746%. Длительные непрерывные измерения показывают хорошую стабильность системы. Чувствительность системы ~18 ppm при оптимальном времени усреднения 110 с. Экспериментальные результаты подтверждают применимость данной системы для обнаружения следов этилена.
Об авторах
T. Zhang
Колледж физики и электронной инженерии, Педагогический университет Цзянсу
Китай
Сюйчжоу
Китай
Сюйчжоу
G. Zhang
Колледж физики и электронной инженерии, Педагогический университет Цзянсу
Китай
Сюйчжоу
Китай
Сюйчжоу
X. Liu
Колледж физики и электронной инженерии, Педагогический университет Цзянсу
Китай
Сюйчжоу
Китай
Сюйчжоу
G. Gao
Колледж физики и электронной инженерии, Педагогический университет Цзянсу
Китай
Сюйчжоу
Китай
Сюйчжоу
T. Cai
Колледж физики и электронной инженерии, Педагогический университет Цзянсу
Китай
Сюйчжоу
Китай
Сюйчжоу
Список литературы
1. Ilias K. Nikolaidis, Luis F. M. Franco, Luc N. Vechot, Ioannis G. Economou, Fluid Phase Equilibr., 470, 149–163 (2018).
2. Bo Gan, Be Li, Haipeng Jiang, Dawei Zhang, Mingshu Bi, Wei Gao, J. Loss Prevent. Proc. Ind., 54, 93–102 (2018).
3. P. Platz, W. Demtr Öder, Chem. Phys. Lett., 294, N 4-5, 397–405 (1998).
4. Hai Pham-Tuan, Joeri Vercammen, Christophe Devos, Pat Sandra, J. Chromatogr. A, 868 (2000).
5. L. A. Sgro, P. Minutolo, G. Basile, A. D’Alessio, Chemosphere, 42, 671–680 (2001).
6. Jingsong Li, Benli Yu, Weixiong Zhao, Weidong Chen, Appl. Spectrosc. Rev., 49, N 8, 666–691 (2014).
7. Andreas Hangauer, Armin Spitznas, Jia Chen, Rainer Strzoda, Hans Link, Maximilian Fleischer, Proc. Chem., 1, N 1, 955–958 (2009).
8. Chunguang Li, Lei Dong, Chuantao Zheng, Frank K. Tittel, Sens. Actuat. B: Chem., 232, 188–194 (2016).
9. R. Ghorbani, F. M. Schmidt, Opt. Express, 25, N 11, 12743–12752 (2017).
10. Chuantao Zheng, Weilin Ye, Nancy P. Sanchez, Chunguang Li, Lei Dong, Yiding Wang, Robert J. Griffin, Frank K. Tittel, Sens. Actuat. B: Chem., 244, 365–372 (2017).
11. A. Lucchesini, S. Gozzini, J. Quant. Spectrosc. Radiat. Transf., 112, N 9, 1438–1442 (2011).
12. Wei Dong Pan, Jia Wei Zhang, Jing Min Dai, Yu Feng Zhang, J. Infrared Millimeter Waves, 32, N 6, 486–790 (2013).
13. Yubin Wei, Jun Chang, Jie Lian, Tongyu Liu, Photon. Sens., 5, N 1, 67–71 (2015).
14. Kotaro Tanaka, Kazushi Akishima, Masahiro Sekita, Kenichi Tonokura, Mitsuru Konno, Appl. Phys. B, 123, N 8 (2017).
15. Ch. Ying, G. Guangzhen, C. Tingdong, Chin. J. Lasers, 44, N 5 (2017).
16. L. S. Rothman, I. E. Gordon, Y. Babikov, A. Barbe, D. Chris Benner, P. F. Bernath, M. Birk, L. Bizzocchi, V. Boudon, L. R. Brown, A. Campargue, K. Chance, E. A. Cohen, L. H. Coudert, V. M. Devi, B. J. Drouin, A. Fayt, J.-M. Flaud, R. R. Gamache, J. J. Harrison, J.-M. Hartmann, C. Hill, J. T. Hodges, D. Jacquemart, A. Jolly, J. Lamouroux, R. J. Le Roy, G. Li, D. A. Long, O. M. Lyulin, C. J. Mackie, S. T. Massie, S. Mikhailenko, H. S. P. Müller, O. V. Naumenko, A. V. Nikitin, J. Orphal, V. Perevalov, A. Perrin, E. R. Polovtseva, C. Richard, M. A. H. Smith, E. Starikova, K. Sung, S. Tashkun, J. Tennyson, G. C. Toon, Vl .G. Tyuterev, G. Wagner, J. Quant. Spectrosc. Radiat. Transf., 130, 4–50 (2013).
17. S. H. Pyun, J. Cho, D. F. Davidson, R. K. Hanson, Meas. Sci. Technol., 22, N 2, 025303 (2011).
18. T. J. A. Butler, J. L. Miller, A. J. Orr-Ewing, J. Chem. Phys., 126, N 17 (2007).
19. D. W. Allan, J. A. Barnes, 35th Frequency Control Symp., 36, N 5, 470–475 (1981).
20. D. W. Allan, Proc. IEEE, 54, N 2, 221–230 (1966).
Рецензия
Для цитирования:
Zhang T., Zhang G., Liu X., Gao G., Cai T. ИЗМЕРЕНИЕ КОНЦЕНТРАЦИИ ЭТИЛЕНА ПРИ ВЫСОКОМ ДАВЛЕНИИ МЕТОДОМ ПЕРЕСТРАИВАЕМОЙ ДИОДНОЙ ЛАЗЕРНОЙ АБСОРБЦИОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ ВБЛИЗИ ДЛИНЫ ВОЛНЫ 1620 нм. Журнал прикладной спектроскопии. 2020;87(4):617-622.
For citation:
Zhang T., Zhang G., Liu X., Gao G., Cai T. MEASUREMENT OF ETHYLENE CONCENTRATIONS AT HIGH PRESSURE BASED ON TUNABLE DIODE LASER ABSORPTION SPECTROSCOPY NEAR 1620 nm. Zhurnal Prikladnoii Spektroskopii. 2020;87(4):617-622.
Просмотров: 310
Послать статью по эл. почте 