ПРОЦЕССЫ ОБРАЗОВАНИЯ ОКСИДИРОВАННЫХ НАНОПОРОШКОВ АЛЮМИНИЯ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ НА АЛЮМИНИЙ СЕРИЯМИ СДВОЕННЫХ ЛАЗЕРНЫХ ИМПУЛЬСОВ В АТМОСФЕРЕ ВОЗДУХА

Изучено влияние интервала между импульсами и количества сдвоенных лазерных импульсов на целенаправленное формирование компонентного и зарядового состава лазерной плазмы при воздействии сдвоенных лазерных импульсов на мишень из алюминиевого сплава АД1 (спектрометр LSS-1). Показано, что при использовании межимпульсного интервала в диапазоне 7—16 мкс увеличивается концентрация ионов Al и продуктов их взаимодействия с кислородом и азотом воздуха на несколько порядков по сравнению с нулевым интервалом. Для межимпульсного интервала 10 мкс исследован процесс образования ионов Al в зависимости от энергии импульсов. Для энергии импульсов 53 мДж наибольшая интенсивность линий ионов Al III наблюдается при малом (~15) количестве последовательных сдвоенных импульсов в серии. При увеличении количества импульсов в серии выше определенного уровня (10—20) интенсивность линий ионов Al III уменьшается в ~5 раз, что связано с активным взаимодействием их с молекулами и атомами воздуха на выходе из микросопла при изменении формы канала. Нанопорошки Al, покрытые слоем оксида алюминия, полученные при облучении мишени из алюминия сериями по 15 сдвоенных импульсов на одну точку, преимущественно имеют размер 50—60 нм.

1. А. Е. Шейдлин, А. З. Жук, Б. В. Клейменов, Е. И. Школьников, М. Ю. Лопатин. Изв. РАН. Энергетика, № 2 (2006) 3—11

2. М. К. Бернер, В. Е. Зарко, М. Б. Талавар. Физика горения и взрыва, 49, № 6 (2013) 1—28

3. Д. Сандарам, В. Янг, В. Е. Зарко. Физика горения и взрыва, 51, № 2 (2015) 37—63

4. А. П. Ильин, О. Б. Назаренко, А. В. Коршунов, Л. О. Роот. Особенности физико-химических свойств нанопорошков и наноматериалов, Томск, Томский полит. ун-т (2012) 12—15

5. С. В. Матренин, А. П. Ильин, Л. О. Толбанова, Е. В. Золотарева. Изв. Томского политех. ун-та, 317, № 3 (2010) 24—28

6. В. Н. Сытников, Вл. Н. Сытников, Д. А. Дубов, В. И. Зайковский, А. С. Иванова, В. О. Стояновский, В. Н. Пармон. Прикл. механика и теор. физика, 48, № 2 (2007) 172—184

7. Ю. А. Котов, В. В. Осипов, М. Г. Иванов, О. М. Саматов, В. В. Платонов, Е. И. Азаркевич, А. М. Мурзакаев, А. И. Медведев. ЖТФ, 72, № 11 (2002) 76—82

8. С. В. Заболотнов, А. А. Ежов, Л. А. Головань, М. А. Ластовкина, В. И. Панов, В. Ю. Тимошенко, П. К. Кашкаров. ФТП, 41, № 8 (2007) 1017—1020

9. В. Г. Ильвес, Ю. А. Котов, С. Ю. Соковнин, C. K. Rhee. Рос. нанотехнол., 2, № 9-10 (2007) 96—101

10. В. С. Бураков, А. Ф. Боханов, М. И. Неделько, Н. В. Тарасенко. Квант. электрон., 33, № 12 (2003) 1065—1071

11. Х. Баззал, А. Р. Фадаиян, А. П. Зажогин. Журн. Белгосуниверситета, Физика, № 1 (2017) 34—42

12. Х. Баззал, Е. С. Воропай, А. П. Зажогин, М. П. Патапович. Межвуз. сб. науч. тр. “Физикохимические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов”, вып. 11, Тверь (2019) 48—56

13. Х. Баззал, Н. А. Алексеенко, Е. С. Воропай, М. Н. Коваленко, N. H. Trinh, А. П. Зажогин. Межвуз. сб. науч. тр. “Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов”, вып. 12, Тверь (2020) 8—16

14. В. М. Самсонов, Н. Ю. Сдобняков. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 2 (2004) 73—78

15. Н. Ю. Сдобняков, В. М. Самсонов, А. Н. Базулев. Вестн. Новгород. гос. ун-та имени Ярослава Мудрого. Сер. Тех. науки, № 5 (103) (2017) 43—48

16. Н. А. Романов, А. В. Номоев, С. В. Калашников. Вестн. Бурят. гос. ун-та, № 3 (2013) 93—99

17. С. М. Гарнов, В. И. Климентов, Т. В. Конов, С. В. Кононенко, Ф. Даусингер. Квант. электрон., 25, № 1 (1998) 45—48

18. С. М. Климентов, С. В. Гарнов, В. И. Конов, Т. В. Кононенко. Тр. ИОФ им. А. М. Прохорова РАН, 60 (2004) 13—29

19. И. А. Буфетов, С. Б. Кравцов, В. Б. Федоров. Квант. электрон., 23, № 5 (1996) 535—540

20. В. М. Гордиенко, М. С. Джиджоев, И. А. Жвания, И. А. Макаров. Квант. электрон., 37, № 7 (2007) 599—600

21. Э. И. Кузнецов, Д. А. Щеглов. Методы диагностики высокотемпературной плазмы, Mосква, Атомиздат (1980) 65—70

22. Ю. А. Кузяков, К. А. Семененко, Н. Б. Зоров. Методы спектрального анализа, Москва, МГУ (1990) 36—40