Для цитирования:

Bharti A.S., Sharma S., Singh A.K., Tiwari M.K., Uttam K.N. Неразрушающий метод оценки элементного профиля листвы с помощью индуцированной синхротронным излучением энергодисперсионной рентгеновской флуоресцентной спектроскопии. Журнал прикладной спектроскопии. 2021;88(3):503(1)-503(9).

For citation:

Bharti A.S., Sharma S., Singh A.K., Tiwari M.K., Uttam K.N. Assessment of the Elemental Profile of Leafy Vegetables by Synchrotron-Radiation-Induced Energy Dispersive X-Ray Fluorescence Spectroscopy. Zhurnal Prikladnoii Spektroskopii. 2021;88(3):503(1)-503(9).