Preview

Журнал прикладной спектроскопии

Расширенный поиск

Поиск


Сортировать по:     
 
Выпуск Название
 
Том 86, № 6 (2019) МОДЕЛИРОВАНИЕ ПЕРЕХОДНЫХ СЛОЕВ НА ГРАНИЦАХ ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ ПОКРЫТИЙ ПРИ ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЯХ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
А. А. Тихий, Ю. М. Николаенко, А. С. Корнеевец, Е. А. Свиридова, Ю. И. Жихарева, И. В. Жихарев
"... Practical aspects of modeling single-layer thin-film coatings for the interpretation of ellipsomet ..."
 
Том 86, № 6 (2019) ОПРЕДЕЛЕНИЕ МАССОВОГО КОЭФФИЦИЕНТА ПОГЛОЩЕНИЯ В ДВУХСЛОЙНОЙ ТОНКОПЛЕНОЧНОЙ СИСТЕМЕ Cr/Co РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНЫМ МЕТОДОМ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Е. А. Черняева, А. А. Князева, Е. О. Зимина, И. С. Белякова, Н. И. Машин
"... proposed. The procedure uses easy-to-make thin-film layers of sputtered chromium on a polymer film ..."
 
Том 90, № 5 (2023) Эллипсометрический подход в изучении изменений показателя преломления и коэффициента экстинкции тонкой однослойной пленки меди при термическом отжиге Аннотация  похожие документы
А. K. Somakumar
"... . The measurement and analysis involved a thermally deposited thin nano-sized single-layer copper film on a glass ..."
 
Том 87, № 3 (2020) ЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ МАТЕРИАЛОВ НА ОСНОВЕ 2,5-ДИАРИЛ-1,3,4-ОКСАДИАЗОЛА И ЕГО ХЕЛАТНОГО КОМПЛЕКСА С БЕРИЛЛИЕМ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
В. Т. Панюшкин, А. Н. Кулясов, Ф. А. Колоколов, И. Е. Михайлов, Г. А. Душенко, М. Х. Шамсутдинова
"... . Thin films of the HL ligand and its complex with beryllium(II) were spin coated on the glass substrate ..."
 
Том 85, № 1 (2018) УЧЕТ ВЗАИМНОГО ВЛИЯНИЯ ЭЛЕМЕНТОВ ПРИ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОМ АНАЛИЗЕ ТОНКИХ ДВУХСЛОЙНЫХ Ti/V-СИСТЕМ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Н. И. Машин, А. Г. Разуваев, Е. А. Черняева, Л. М. Гафарова, А. В. Ершов
"... . It is based on the application of easy-to-make unified thin-film layers obtained by the method of sputtering ..."
 
Том 88, № 4 (2021) Широкополосный поляризационный делитель света на основе многослойного тонкопленочного покрытия Аннотация  похожие документы
В. Е. Агабеков, H. С. Казак, В. H. Белый, С. Н. Курилкина, А. А. Рыжевич, С. Н. Шахаб, А. И. Митьковец, А. Г. Мащенко
"... layers in every structure and their thickness is selected in a way to ensure the reflection by them ..."
 
Том 85, № 1 (2018) УЧЕТ СЛОЖНОЙ СТРУКТУРЫ ПОВЕРХНОСТИ ПРИ ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЯХ ВЛИЯНИЯ РЕЖИМОВ МАГНЕТРОННОГО РАСПЫЛЕНИЯ НА РОСТ И ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ПЛЕНОК In2O3 Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
А. А. Тихий, Ю. М. Николаенко, В. А. Грицких, Е. А. Свиридова, В. В. Мурга, Ю. И. Жихарева, И. В. Жихарев
"... of the thin films with a rough surface. The results of solving the inverse problem in the framework of one ..."
 
Том 89, № 6 (2022) Генерация второй гармоники в тонком сферическом слое малого радиуса когерентными источниками эллиптически поляризованного излучения Аннотация  похожие документы
А. И. Толкачёв, А. А. Шамына, В. Н. Капшай
"... generation in a thin spherical layer of a small radius are determined. The conditions for a maximal total ..."
 
Том 87, № 1 (2020) ОПРЕДЕЛЕНИЕ ОПТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ПЛОСКОПАРАЛЛЕЛЬНЫХ КВАРЦЕВЫХ ПЛАСТИН ПРИ УГЛАХ БРЮСТЕРА МЕТОДОМ СПЕКТРАЛЬНОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Н. И. Стаськов, А. А. Мухаммедмурадов, Н. А. Крекотень, С. О. Парашков
"... the thickness of the surface layers during the process of the plate manufacturing. The refractive index spectra ..."
 
Том 90, № 1 (2023) Оптические свойства и электронные характеристики тонких поликристаллических и аморфных пленок сплава Al4Sm Аннотация  похожие документы
Л. А. Акашев, Н. А. Попов, А. А. Махнев, Е. С. Воронцова, В. Г. Шевченко
"... измерены эллипсометрическим методом Битти в диапазоне 0.248—7.002 мкм. Из спектральных зависимостей ..."
 
Том 88, № 2 (2021) Оптические и электрофизические свойства тонких пленок оксида цинка, легированных оксидом марганца и полученных методом лазерного осаждения Аннотация  похожие документы
Н. А. Босак, А. Н. Чумаков, А. А. Шевченок, Л. В. Баран, А. Г. Кароза, В. В. Малютина-Бронская, А. А. Иванов
"... at a pressure in the vacuum chamber p = 2.7 Pa there were obtained nanostructured thin films on a silicon ..."
 
Том 89, № 3 (2022) Контроль чистоты поверхности оптических элементов эллипсометрическим методом Аннотация  похожие документы
С. А. Филин, В. Е. Рогалин, И. А. Каплунов
"... эллипсометрическим методом. Приведено обоснование возможности измерения параметров загрязняющих пленок на оптической ..."
 
Том 87, № 5 (2020) ФЛУОРЕСЦЕНТНОЕ ОБНАРУЖЕНИЕ ГЛУТАТИОНА С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ НАНОСИСТЕМЫ N-ЛЕГИРОВАННЫЕ ГРАФЕНОВЫЕ КВАНТОВЫЕ ТОЧКИ–MnO2 Аннотация  похожие документы
Zh.-M. Li, T. Pi, Y.-P. Sheng, X.-J. Zheng
"... quantum dots (NGQDs)-MnO2 nanocomposite for rapid, sensitive detection of glutathione (GSH) levels ..."
 
Том 90, № 5 (2023) Спектрально-кинетические свойства плазмонных гибридных нанокомпозитов на основе серебра и фталоцианина меди Аннотация  похожие документы
А. Д. Замковец, Е. А. Барбарчик, А. Н. Понявина, С. А. Тихомиров, Нгуен Тхань Бинь, Фам Хонг Минь
"... that the presence of plasmonic silver nanoparticles in a hybrid thin-film Ag-CuPc nanocomposites leads ..."
 
Том 91, № 4 (2024) Морфология и оптические характеристики нанопленок TiO2, выращенных атомно-слоевым осаждением на подложке из макропористого кремния Аннотация  похожие документы
Т. К. Турдалиев, Х. Б. Ашуров, Р. Х. Ашуров
"... The process of creating a macroporous silicon substrate on which a layer of titanium dioxide ..."
 
Том 86, № 2 (2019) ИССЛЕДОВАНИЕ ОПТИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ТОНКИХ ПЛЕНОК InSb, ВЫРАЩЕННЫХ НА ПОДЛОЖКАХ GaAs, МЕТОДОМ ТЕМПЕРАТУРНО-ЗАВИСИМОЙ СПЕКТРОСКОПИЧЕСКОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Liang, F. . Wang, X. . Luo, Q. . Li, T. . Lin, I. T. Ferguson, Q. . Yang, L. . Wan, Z. C. Feng
"... NSb thin films were grown on GaAs substrates by metal organic chemical vapor deposition (MOCVD ..."
 
Том 87, № 3 (2020) ФАЗОВЫЙ СОСТАВ, МИКРОСТРУКТУРА И ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ТОНКИХ ПЛЕНОК Cu2SnS3 Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Е. П. Зарецкая, В. Ф. Гременок, В. А. Иванов, А. В. Станчик, О. М. Бородавченко, Д. В. Жигулин, С. Осчелик, Н. Акчай
"... The Cu2SnS3 (CTS) thin films were produced by deposition of Sn/Cu layers by RF sputtering followed ..."
 
Том 85, № 1 (2018) ВЛИЯНИЕ ЛЕГИРОВАНИЯ БОРОМ НА МЕТРОЛОГИЮ ВЫСОКОРАЗРЕШАЮЩЕЙ РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКЦИИ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
M. . Faheem, Y. . Zhang, X. . Dai
"... ) and HXRD were employed for measurements of B doping, Ge concentration, strain, and thickness of the layers ..."
 
Том 87, № 1 (2020) ОПРЕДЕЛЕНИЕ ОПТИЧЕСКИХ СВОЙСТВ И ЭЛЕКТРОННЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ТВЕРДОГО И ЖИДКОГО ИТТЕРБИЯ ИЗ ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Л. А. Акашев, Н. А. Попов, В. Г. Шевченко
"... Эллипсометрическим методом исследованы оптические свойства неокисленной поверхности ..."
 
Том 87, № 6 (2020) Оптические характеристики отожженных пленок титаната бария, сформированных золь-гель методом Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Н. И. Стаськов, А. Б. Сотский, С. С. Михеев, Н. В. Гапоненко, П. А. Холов, Т. Ф. Райченок
"... , and 700°C we determined the thicknesses of surface layers, films, and film-substrate transition layers ..."
 
1 - 20 из 128 результатов 1 2 3 4 5 6 7 > >> 

Советы по поиску:

  • Поиск ведется с учетом регистра (строчные и прописные буквы различаются)
  • Служебные слова (предлоги, союзы и т.п.) игнорируются
  • По умолчанию отображаются статьи, содержащие хотя бы одно слово из запроса (то есть предполагается условие OR)
  • Чтобы гарантировать, что слово содержится в статье, предварите его знаком +; например, +журнал +мембрана органелла рибосома
  • Для поиска статей, содержащих все слова из запроса, объединяйте их с помощью AND; например, клетка AND органелла
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или NOT; например. клетка -стволовая или клетка NOT стволовая
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки; например, "бесплатные издания". Совет: используйте кавычки для поиска последовательности иероглифов; например, "中国"
  • Используйте круглые скобки для создания сложных запросов; например, архив ((журнал AND конференция) NOT диссертация)