Сортировать по:
Выпуск | Название | |
Том 86, № 6 (2019) | МОДЕЛИРОВАНИЕ ПЕРЕХОДНЫХ СЛОЕВ НА ГРАНИЦАХ ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ ПОКРЫТИЙ ПРИ ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЯХ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
А. А. Тихий, Ю. М. Николаенко, А. С. Корнеевец, Е. А. Свиридова, Ю. И. Жихарева, И. В. Жихарев | ||
"... Practical aspects of modeling single-layer thin-film coatings for the interpretation of ellipsomet ..." | ||
Том 86, № 6 (2019) | ОПРЕДЕЛЕНИЕ МАССОВОГО КОЭФФИЦИЕНТА ПОГЛОЩЕНИЯ В ДВУХСЛОЙНОЙ ТОНКОПЛЕНОЧНОЙ СИСТЕМЕ Cr/Co РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНЫМ МЕТОДОМ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
Е. А. Черняева, А. А. Князева, Е. О. Зимина, И. С. Белякова, Н. И. Машин | ||
"... proposed. The procedure uses easy-to-make thin-film layers of sputtered chromium on a polymer film ..." | ||
Том 90, № 5 (2023) | Эллипсометрический подход в изучении изменений показателя преломления и коэффициента экстинкции тонкой однослойной пленки меди при термическом отжиге | Аннотация похожие документы |
А. K. Somakumar | ||
"... . The measurement and analysis involved a thermally deposited thin nano-sized single-layer copper film on a glass ..." | ||
Том 87, № 3 (2020) | ЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ МАТЕРИАЛОВ НА ОСНОВЕ 2,5-ДИАРИЛ-1,3,4-ОКСАДИАЗОЛА И ЕГО ХЕЛАТНОГО КОМПЛЕКСА С БЕРИЛЛИЕМ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
В. Т. Панюшкин, А. Н. Кулясов, Ф. А. Колоколов, И. Е. Михайлов, Г. А. Душенко, М. Х. Шамсутдинова | ||
"... . Thin films of the HL ligand and its complex with beryllium(II) were spin coated on the glass substrate ..." | ||
Том 85, № 1 (2018) | УЧЕТ ВЗАИМНОГО ВЛИЯНИЯ ЭЛЕМЕНТОВ ПРИ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОМ АНАЛИЗЕ ТОНКИХ ДВУХСЛОЙНЫХ Ti/V-СИСТЕМ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
Н. И. Машин, А. Г. Разуваев, Е. А. Черняева, Л. М. Гафарова, А. В. Ершов | ||
"... . It is based on the application of easy-to-make unified thin-film layers obtained by the method of sputtering ..." | ||
Том 88, № 4 (2021) | Широкополосный поляризационный делитель света на основе многослойного тонкопленочного покрытия | Аннотация похожие документы |
В. Е. Агабеков, H. С. Казак, В. H. Белый, С. Н. Курилкина, А. А. Рыжевич, С. Н. Шахаб, А. И. Митьковец, А. Г. Мащенко | ||
"... layers in every structure and their thickness is selected in a way to ensure the reflection by them ..." | ||
Том 85, № 1 (2018) | УЧЕТ СЛОЖНОЙ СТРУКТУРЫ ПОВЕРХНОСТИ ПРИ ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЯХ ВЛИЯНИЯ РЕЖИМОВ МАГНЕТРОННОГО РАСПЫЛЕНИЯ НА РОСТ И ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ПЛЕНОК In2O3 | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
А. А. Тихий, Ю. М. Николаенко, В. А. Грицких, Е. А. Свиридова, В. В. Мурга, Ю. И. Жихарева, И. В. Жихарев | ||
"... of the thin films with a rough surface. The results of solving the inverse problem in the framework of one ..." | ||
Том 89, № 6 (2022) | Генерация второй гармоники в тонком сферическом слое малого радиуса когерентными источниками эллиптически поляризованного излучения | Аннотация похожие документы |
А. И. Толкачёв, А. А. Шамына, В. Н. Капшай | ||
"... generation in a thin spherical layer of a small radius are determined. The conditions for a maximal total ..." | ||
Том 87, № 1 (2020) | ОПРЕДЕЛЕНИЕ ОПТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ПЛОСКОПАРАЛЛЕЛЬНЫХ КВАРЦЕВЫХ ПЛАСТИН ПРИ УГЛАХ БРЮСТЕРА МЕТОДОМ СПЕКТРАЛЬНОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
Н. И. Стаськов, А. А. Мухаммедмурадов, Н. А. Крекотень, С. О. Парашков | ||
"... the thickness of the surface layers during the process of the plate manufacturing. The refractive index spectra ..." | ||
Том 90, № 1 (2023) | Оптические свойства и электронные характеристики тонких поликристаллических и аморфных пленок сплава Al4Sm | Аннотация похожие документы |
Л. А. Акашев, Н. А. Попов, А. А. Махнев, Е. С. Воронцова, В. Г. Шевченко | ||
"... измерены эллипсометрическим методом Битти в диапазоне 0.248—7.002 мкм. Из спектральных зависимостей ..." | ||
Том 88, № 2 (2021) | Оптические и электрофизические свойства тонких пленок оксида цинка, легированных оксидом марганца и полученных методом лазерного осаждения | Аннотация похожие документы |
Н. А. Босак, А. Н. Чумаков, А. А. Шевченок, Л. В. Баран, А. Г. Кароза, В. В. Малютина-Бронская, А. А. Иванов | ||
"... at a pressure in the vacuum chamber p = 2.7 Pa there were obtained nanostructured thin films on a silicon ..." | ||
Том 89, № 3 (2022) | Контроль чистоты поверхности оптических элементов эллипсометрическим методом | Аннотация похожие документы |
С. А. Филин, В. Е. Рогалин, И. А. Каплунов | ||
"... эллипсометрическим методом. Приведено обоснование возможности измерения параметров загрязняющих пленок на оптической ..." | ||
Том 87, № 5 (2020) | ФЛУОРЕСЦЕНТНОЕ ОБНАРУЖЕНИЕ ГЛУТАТИОНА С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ НАНОСИСТЕМЫ N-ЛЕГИРОВАННЫЕ ГРАФЕНОВЫЕ КВАНТОВЫЕ ТОЧКИ–MnO2 | Аннотация похожие документы |
Zh.-M. Li, T. Pi, Y.-P. Sheng, X.-J. Zheng | ||
"... quantum dots (NGQDs)-MnO2 nanocomposite for rapid, sensitive detection of glutathione (GSH) levels ..." | ||
Том 90, № 5 (2023) | Спектрально-кинетические свойства плазмонных гибридных нанокомпозитов на основе серебра и фталоцианина меди | Аннотация похожие документы |
А. Д. Замковец, Е. А. Барбарчик, А. Н. Понявина, С. А. Тихомиров, Нгуен Тхань Бинь, Фам Хонг Минь | ||
"... that the presence of plasmonic silver nanoparticles in a hybrid thin-film Ag-CuPc nanocomposites leads ..." | ||
Том 91, № 4 (2024) | Морфология и оптические характеристики нанопленок TiO2, выращенных атомно-слоевым осаждением на подложке из макропористого кремния | Аннотация похожие документы |
Т. К. Турдалиев, Х. Б. Ашуров, Р. Х. Ашуров | ||
"... The process of creating a macroporous silicon substrate on which a layer of titanium dioxide ..." | ||
Том 86, № 2 (2019) | ИССЛЕДОВАНИЕ ОПТИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ТОНКИХ ПЛЕНОК InSb, ВЫРАЩЕННЫХ НА ПОДЛОЖКАХ GaAs, МЕТОДОМ ТЕМПЕРАТУРНО-ЗАВИСИМОЙ СПЕКТРОСКОПИЧЕСКОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
Liang, F. . Wang, X. . Luo, Q. . Li, T. . Lin, I. T. Ferguson, Q. . Yang, L. . Wan, Z. C. Feng | ||
"... NSb thin films were grown on GaAs substrates by metal organic chemical vapor deposition (MOCVD ..." | ||
Том 87, № 3 (2020) | ФАЗОВЫЙ СОСТАВ, МИКРОСТРУКТУРА И ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ТОНКИХ ПЛЕНОК Cu2SnS3 | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
Е. П. Зарецкая, В. Ф. Гременок, В. А. Иванов, А. В. Станчик, О. М. Бородавченко, Д. В. Жигулин, С. Осчелик, Н. Акчай | ||
"... The Cu2SnS3 (CTS) thin films were produced by deposition of Sn/Cu layers by RF sputtering followed ..." | ||
Том 85, № 1 (2018) | ВЛИЯНИЕ ЛЕГИРОВАНИЯ БОРОМ НА МЕТРОЛОГИЮ ВЫСОКОРАЗРЕШАЮЩЕЙ РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКЦИИ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
M. . Faheem, Y. . Zhang, X. . Dai | ||
"... ) and HXRD were employed for measurements of B doping, Ge concentration, strain, and thickness of the layers ..." | ||
Том 87, № 1 (2020) | ОПРЕДЕЛЕНИЕ ОПТИЧЕСКИХ СВОЙСТВ И ЭЛЕКТРОННЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ТВЕРДОГО И ЖИДКОГО ИТТЕРБИЯ ИЗ ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
Л. А. Акашев, Н. А. Попов, В. Г. Шевченко | ||
"... Эллипсометрическим методом исследованы оптические свойства неокисленной поверхности ..." | ||
Том 87, № 6 (2020) | Оптические характеристики отожженных пленок титаната бария, сформированных золь-гель методом | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
Н. И. Стаськов, А. Б. Сотский, С. С. Михеев, Н. В. Гапоненко, П. А. Холов, Т. Ф. Райченок | ||
"... , and 700°C we determined the thicknesses of surface layers, films, and film-substrate transition layers ..." | ||
1 - 20 из 128 результатов | 1 2 3 4 5 6 7 > >> |
Советы по поиску:
- Поиск ведется с учетом регистра (строчные и прописные буквы различаются)
- Служебные слова (предлоги, союзы и т.п.) игнорируются
- По умолчанию отображаются статьи, содержащие хотя бы одно слово из запроса (то есть предполагается условие OR)
- Чтобы гарантировать, что слово содержится в статье, предварите его знаком +; например, +журнал +мембрана органелла рибосома
- Для поиска статей, содержащих все слова из запроса, объединяйте их с помощью AND; например, клетка AND органелла
- Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или NOT; например. клетка -стволовая или клетка NOT стволовая
- Для поиска точной фразы используйте кавычки; например, "бесплатные издания". Совет: используйте кавычки для поиска последовательности иероглифов; например, "中国"
- Используйте круглые скобки для создания сложных запросов; например, архив ((журнал AND конференция) NOT диссертация)