Оптические свойства и электронные характеристики тонких поликристаллических и аморфных пленок сплава Al⁴Sm

Исследованы оптические свойства и электронные характеристики рентгеноаморфной и поликристаллической пленок сплава Al4Sm, полученных методом вакуумного термического испарения. Оптические постоянные измерены эллипсометрическим методом Битти в диапазоне 0.248—7.002 мкм. Из спектральных зависимостей оптических постоянных рассчитаны дисперсионные зависимости световой проводимости σ, отражательной способности R, мнимой и действительной частей диэлектрической проницаемости ε₁ и ε₂, функции характеристических потерь энергии электронов Im(ε)^–1. Показано влияние кристаллической структуры сплавов на особенности их оптических спектров. На основе результатов измерений в инфракрасной области спектра по модели двухполосной проводимости рассчитаны электронные характеристики указанных сплавов. 

1. Y. He, G.M. Dougherty, G. J. Shiflet, S. J. Poon. Acta Metall, Mater., 41, N 2 (1993) 337—343, https://doi.org/10.1016/0956-7151(93)90064-Y

2. V. Jambur, C. Tangpatjaroen, J. Xi, J. Tarnsangpradit, M. Gao, H. Sheng, J. H. Perepezko, I. Szlufarska. J. Alloys Compd., 854 (2021) 157266, https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2020.157266

3. A. Inoue, T. Masumoto. J. Alloys Compd., 207-208 (1994) 340—348, https://doi.org/10.1016/0925-8388(94)90237-2

4. C. A. Schuh, T. C. Hufnagel, U. Ramamurty. Acta Mater., 55 (2007) 4067—4109, https://doi.org/10.1016/j.actamat.2007.01.052

5. J. M. Freitag, R. G. Koknaev, R. SabetSharghi, M. Koknaeva, Z. Altounian. J. Appl. Phys., 79 (1996) 3967—3970, http://dx.doi.org/10.1063/1.361824

6. A. L. Greer, K. L. Rutherford, I. M. Hutchings. Int. Mater. Rev., 47, N 2 (2002) 87—112, https://doi.org/10.1179/095066001225001067

7. Y. G. Wang, Y. J. Li, S. P. Pan, B. D. Fu, J. Y. Qin, W. M. Wang. Int. J. Electrochem. Sci., 11 (2016) 3512—3531, doi: 10.20964/110429

8. A. Inoue. Progr. Mater. Sci., 43 (1998) 365—520, https://doi.org/10.1016/S0079-6425(98)00005-X

9. F. Meng, Y. Sun, F. Zhang, B. Da, C. Wang, M. J. Kramer, K. Ho, D. Sun. Phys. Rev. Mater., 5 (2021) 0434021—0434028, doi: 10.1103/PhysRevMaterials.5.043402

10. P. Rizzi, M. Baricco, L. Battezzati, P. Schumacher, A. L. Greer. Mater. Sci. Forum, 195 (1995) 111—116, https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.195.111

11. Y. E. Kalay, L. S. Chumbley, I. E. Anderson. J. Non-Crystal. Solids, 354 (2008) 3040—3048, https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2007.12.006

12. J. Q. Guo, K. Ohtera, K. Kita, J. Nagahora, N. S. Kazama. Mater. Lett., 24 (1995) 133—138, https://doi.org/10.1016/0167-577X(95)00066-6

13. F. Q. Meng, S. H. Zhou, R. T. Ott, M. J. Kramer, R. E. Napolitano. Material, 9 (2020) 100595, https://doi.org/10.1016/j.mtla.2020.100595

14. N. Wang, Y. E. Kalay, R. Trivedi. Acta Mater., 59 (2011) 6604—6619, https://doi.org/10.1016/j.actamat.2011.07.015

15. Z. Ye, F. Zhang, Y. Sun, M. I. Mendelev, R. T. Ott, E. Park, M. F. Besser, M. J. Kramer, Z. Ding, C.-Z. Wang, K.-M. Ho. Appl. Phys. Lett., 106 (2015) 1019031(1—4), https://doi.org/10.1063/1.4914399

16. S. H. Zhou, F. Q. Meng, M. J. Kramer, R. T. Ott, F. Zhang, Z. Ye, S. Jain, R. E. Napolitano. Mater. Today Commun., 21 (2019) 100673, https://doi.org/10.1016/j.mtcomm.2019.100673

17. L. Zhao, G. B. Bokas, J. H. Perepezko, I. Szlufarska. Acta Mater., 142 (2018) 1—7, https://doi.org/10.1007/s10853-018-2393-2

18. M. Pont, T. Puig, K. V. Rao, A. Inoue. J. Appl. Phys., 71 (1992) 4991, https://doi.org/10.1063/1.350598

19. L. Battezzati, M. Baricco. Mater. Sci. Eng. A, 179/A-180 (1994) 600—604, https://doi.org/10.1016/0921-5093(94)90275-5

20. А. И. Киселев, Л. А. Акашев, Н. А. Попов. Физикохимия поверхности и защита материалов, 58, № 2 (2022) 189—198 [A. I. Kiselev, L. A. Akashev, N. A. Popov. Protection of Metals and Phys. Chem. Surfaces, 58, N 2 (2022) 308—317], https://doi.org/10.1134/S2070205122020083, https://sciencejournals.ru/view-article/?j=zamet&y=2022&v=58&n=2&a=ZaMet2202008Kiselev

21. А. В. Ржанов. Основы эллипсометрии, Новосибирск, Наука (1979) 61—66

22. L. A. Akashev, V. I. Kononenko, V. E. Sidorov, P. Svec, D. Janickovic. J. Phys.: Conf. Ser., 98, 062012 (2008) 1—4, https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1742-6596/98/6/062012

23. Л. А. Акашев, Н. А. Попов, В. Г. Шевченко. Журн. прикл. спектр., 85, № 4 (2018) 570—575 [L. A. Akashev, N. A. Popov, V. G. Shevchenko. J. Appl. Spectr., 85, N 4 (2018) 624—629], https://zhps.ejournal.by/jour/article/view/282, https://doi.org/10.1007/s10812-018-0696-3

24. Л. А. Акашев, Н. А. Попов, В. Г. Шевченко. Журн. прикл. спектр., 87, № 1 (2020) 154—162 [L. A. Akashev, N. A. Popov, V. G. Shevchenko. J. Appl. Spectr., 87 (2020) 134—142], https://zhps.ejournal.by/jour/article/view/465, https://doi.org/10.1007/s10812-020-00974-8

25. Л. А. Акашев, Н. А. Попов, В. Г. Шевченко. Опт. и спектр., 129, вып. 7 (2021) 848—856 [L. A. Akashev, N. A. Popov, V. G. Shevchenko. Opt. and Spectr., 129 (2021) 881—889], http://dx.doi.org/10.21883/OS.2021.07.51075.1614-21