1. А. Н. Тихонов, В. Я. Арсенин. Методы решения некорректных задач, Москва, Наука (1975)
2. http://www.horiba.com/scientific/products/ellipsometers/spectroscopic-ellipsometers/uvisel/uvisel-spectro-scopic-ellipsometer-covering-a-range-from-fuv-to-nir-640
3. H. G. Tompkins, E. A. Irene. Handbook of Ellipsometry, William Andrew Publishing & Springer (2005)
4. Е. В. Астрова. ФТП, 33, № 10 (1999) 1264-1270
5. С. Е. Козик. Неразрушающий контроль и диагностика, № 2 (2015) 67-77
6. Л. А. Головань. УФН, 177, № 6 (2007) 619-638
7. T. E. Benson. J. Electron. Mater., 25, N 6 (1996) 955-964
8. D. E. Aspnes. Thin Solid Films, 89 (1982) 249-262
9. Н. И. Стаськов. Проблемы физики, математики и техники, № 2 (15) (2013) 18-24
10. Н. И. Стаськов. Проблемы физики, математики и техники, № 4 (25) (2015) 31-37
11. А. И. Дусь. ФТП, 42, № 11 (2008) 1400-1406
12. В. А. Гриценко. УФН, 179, № 9 (2009) 921-930
13. В. К. Милославский, Е. Д. Маковецкий, Л. А. Агеев, К. С. Белошенко. Опт. и спектр., 107, № 5 (2009) 854-859
14. P. H. Roussel, J. Vanhellemont, H. E. Maes. Thin Solid Films, 234 (1993) 423-427
15. В. И. Пшеницын, М. И. Абаев, Н. Ю. Лызлов. Эллипсометрия в физико-химических исследованиях, Москва, Химия (1986)
16. М. Борн, Э. Вольф. Основы оптики, пер. с англ., Москва, Наука (1970)
17. А. Б. Сотский. Материалы Всерос. науч. интернет-конф. с междунар. участием “Спектрометрические методы анализа”, Казань, 26 сентября 2013 г., 103-107
18. E. D. Palik. Нandbook of Optical Constants of Solids, Academic Press (1988)