Для цитирования:

Somakumar А.K. Эллипсометрический подход в изучении изменений показателя преломления и коэффициента экстинкции тонкой однослойной пленки меди при термическом отжиге. Журнал прикладной спектроскопии. 2023;90(5):803.

For citation:

Somakumar A.K. Variation in Refractive Index and Extinction Coefficient of a Very Thin Copper Film by Thermal Annealing: an Ellipsometric Approach. Zhurnal Prikladnoii Spektroskopii. 2023;90(5):803.