Preview

Журнал прикладной спектроскопии

Расширенный поиск

ВЛИЯНИЕ ПЛОТНОСТИ МОЩНОСТИ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ НА ИНТЕНСИВНОСТЬ СПЕКТРАЛЬНЫХ ЛИНИЙ ОСНОВНЫХ КОМПОНЕНТОВ ЛАЗЕРНОЙ ПЛАЗМЫ ГЛИНЫ

Аннотация

Проведено исследование интенсивности спектральных линий основных компонентов глины: Al I 309.4 нм, Al II 358.7 нм, Mg II 279.6 нм, Ti II 323.6 нм, в зависимости от положения объекта относительно фокуса оптической системы при воздействии на образцы одиночными лазерными импульсами YAG:Nd3+ -лазера. Определены допустимые интервалы позиционирования объекта относительно фокуса оптической системы (положительная и отрицательная расфокусировка), при которых практически не изменяется воспроизводимость интенсивности спектральных линий образцов красной и белой глины. Показано, что положение объекта относительно фокуса оптической системы должно находиться в интервале ∆Z ~ ±1.5 мм при оптимальных энергиях лазерного импульса для исследуемых спектральных линий. Проведен расчет плотности потока излучения для различных энергий лазерного импульса и расстояний от фокуса до объекта. Экспериментально показано, что снижение плотности потока излучения приводит к уменьшению интенсивности анализируемых спектральных линий.

Для цитирования:


Ануфрик С.С., Курьян Н.Н., Зноско К.Ф., Бельков М.В. ВЛИЯНИЕ ПЛОТНОСТИ МОЩНОСТИ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ НА ИНТЕНСИВНОСТЬ СПЕКТРАЛЬНЫХ ЛИНИЙ ОСНОВНЫХ КОМПОНЕНТОВ ЛАЗЕРНОЙ ПЛАЗМЫ ГЛИНЫ. Журнал прикладной спектроскопии. 2018;85(2):285-292.

For citation:


Anufrik S.S., Kurian N.N., Znosko K.F., Belkov M.V. INFLUENCE OF LASER RADIATION POWER DENSITY ON INTENSITY OF SPECTRAL LINES OF MAIN COMPONENTS OF THE LASER-INDUCED CLAY PLASMA. Zhurnal Prikladnoii Spektroskopii. 2018;85(2):285-292. (In Russ.)

Просмотров: 386


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 0514-7506 (Print)