Морфология поверхности, оптические и электрофизические свойства полученных методом лазерного осаждения пленок оксида лантана, легированного эрбием

   Исследованы тонкие пленки оксида лантана, легированные эрбием LaMnO₃+0.5%Er₂O₃, осажденные в вакууме (p = 3 Па) на кварцевую и кремниевую подложки при многоимпульсном высокочастотном f ∼ 12—15 кГц лазерном воздействии на керамическую мишень при плотности мощности лазерного излучения q = 81 МВт/см². Изучены морфология полученных пленок с помощью атомно-силовой микроскопии, спектры пропускания и отражения. Проведен анализ электрофизических свойств структуры LaMnO₃+0.5%Er₂O₃.

1. Z. Marton, S. S. A. Seo, T. Egami, H. N. Lee. J. Crystal Growth, 312 (2010) 2923—2927

2. A. A. Ansari, N. Ahmad, M. Alam, S. F. Adil, S. M. Ramay, A. Albadri, A. Ahmad, A. M. Al - Enizi, B. F. Alrayes, M. E. Assal, A. A. Alwarthan. Sci. Rep., 9 (2019) 7747

3. B. A. Josephine, A. Manikandan, V. M. Teresita, S. A. Antony. Korean J. Chem. Eng., 33, N 5 (2016) 1590—1598

4. J. X. Flores-Lasluisa, F. Huerta, D. Cazorla-Amor, E. Morallon. Energy, 247 (2022) 123456

5. H. Khanduri, M. Chandra Dimri, S. Vasala, S. Leinberg, R. Lõhmus, T. V. Ashworth, A. Mere, J. Krustok, M. Karppinen, R. Stern. J. Phys. D: Appl. Phys., 46 (2013) 175003

6. Guohao Chen, Luwen Jiang, Chunlai Li, Yiqun Wei, Guoqing Hu, Yutao Yue, Xiaomeng Wang, Jin He. J. Phys.: Conf. Ser., 2842 (2024) 012095(1—6)

7. M. Mužević, I. Lukačević, I. Kovač, D. Gracin, A. Žužić, J. Macan, M. V. Pajtler. Chem. Phys. Chem., 24, N 9 (2023) e202200837

8. S. M. Rafi, Y. M. Kwon, A. S. Lim. Int. J. Innovative Technol. and Exploring Eng., 9, N 7 (2020) 1060—1064

9. K. Lewetegn Damena. Am. J. Nanosci., 5, N 4 (2019) 48—55

10. Э. Л. Нагаев. Успехи физ. наук, 166, № 8 (1996) 833—858

11. K. Yoshii, H. Abe. J. Solid State Chem., 165 (2002) 131—135

12. O. A. Kornienko, O. V. Chudinovych, A. I. Bykov, A. V. Samelyuk, E. R. Andrievskaya. Powder Metallurgy and Metal Ceramics, 58, № 1-2 (2019) 89—98

13. A. Yu. Zuev, D. S. Tsvetkov. Chim. Techno Acta, N 4 (2015) 273—288

14. J. Hemberger, A. Krimmel, T. Kurz, H.-A. Krug von Nidda, V. Yu. Ivanov, A. A. Mukhin, A. M. Balbashov, A. Loidl. Phys. Rev. B, 66 (2002) 094410

15. P. Vlazan, C. N. Marin, I. Malaescu, G. Vlase, T. Vlase, M. Poienar, P. Sfirloaga. Appl. Sci., 14 (2024) 1546

16. А. Н. Чумаков, В. Б. Авраменко, Н. А. Босак. Журн. прикл. спектр., 79, № 2 (2012) 279—287 [A. N. Chumakov, V. B. Avramenko, N. A. Bosak. J. Appl. Spectr., 79, N 2 (2012) 261—268]

17. В. В. Малютина-Бронская, С. А. Сорока, Д. В. Сенькевич, О. В. Ермаков, О. А. Гребенщиков, А. В. Нестерёнок. Материалы и структуры современной электроники: материалы X Междунар. науч. конф., Минск, БГУ (2022) 142—147

18. В. Ф. Кабанов, А. М. Свердлова, Д. А. Коротков. ФТП, 30, № 10 (1996) 1756—1760