Surface Morphology, Optical and Electrophysical Properties of Erbium-Doped Lanthanum Oxide Films Obtained by Laser Deposition

   Thin films of lanthanum oxide doped with erbium, LaMnO₃+0.5%Er₂O₃, deposited in a vacuum of p = 3 Pa on quartz and silicon substrates were studied under multi-pulse high-frequency f ∼ 12—15 kHz laser action on a ceramic target at a laser radiation power density of q = 81 MW/cm². The morphology of the obtained films, transmission and reflection spectra were studied using atomic force microscopy. An analysis of the electrophysical properties of the LaMnO₃+0.5%Er₂O₃ structure was carried out.

1. Z. Marton, S. S. A. Seo, T. Egami, H. N. Lee. J. Crystal Growth, 312 (2010) 2923—2927

2. A. A. Ansari, N. Ahmad, M. Alam, S. F. Adil, S. M. Ramay, A. Albadri, A. Ahmad, A. M. Al - Enizi, B. F. Alrayes, M. E. Assal, A. A. Alwarthan. Sci. Rep., 9 (2019) 7747

3. B. A. Josephine, A. Manikandan, V. M. Teresita, S. A. Antony. Korean J. Chem. Eng., 33, N 5 (2016) 1590—1598

4. J. X. Flores-Lasluisa, F. Huerta, D. Cazorla-Amor, E. Morallon. Energy, 247 (2022) 123456

5. H. Khanduri, M. Chandra Dimri, S. Vasala, S. Leinberg, R. Lõhmus, T. V. Ashworth, A. Mere, J. Krustok, M. Karppinen, R. Stern. J. Phys. D: Appl. Phys., 46 (2013) 175003

6. Guohao Chen, Luwen Jiang, Chunlai Li, Yiqun Wei, Guoqing Hu, Yutao Yue, Xiaomeng Wang, Jin He. J. Phys.: Conf. Ser., 2842 (2024) 012095(1—6)

7. M. Mužević, I. Lukačević, I. Kovač, D. Gracin, A. Žužić, J. Macan, M. V. Pajtler. Chem. Phys. Chem., 24, N 9 (2023) e202200837

8. S. M. Rafi, Y. M. Kwon, A. S. Lim. Int. J. Innovative Technol. and Exploring Eng., 9, N 7 (2020) 1060—1064

9. K. Lewetegn Damena. Am. J. Nanosci., 5, N 4 (2019) 48—55

10. Э. Л. Нагаев. Успехи физ. наук, 166, № 8 (1996) 833—858

11. K. Yoshii, H. Abe. J. Solid State Chem., 165 (2002) 131—135

12. O. A. Kornienko, O. V. Chudinovych, A. I. Bykov, A. V. Samelyuk, E. R. Andrievskaya. Powder Metallurgy and Metal Ceramics, 58, № 1-2 (2019) 89—98

13. A. Yu. Zuev, D. S. Tsvetkov. Chim. Techno Acta, N 4 (2015) 273—288

14. J. Hemberger, A. Krimmel, T. Kurz, H.-A. Krug von Nidda, V. Yu. Ivanov, A. A. Mukhin, A. M. Balbashov, A. Loidl. Phys. Rev. B, 66 (2002) 094410

15. P. Vlazan, C. N. Marin, I. Malaescu, G. Vlase, T. Vlase, M. Poienar, P. Sfirloaga. Appl. Sci., 14 (2024) 1546

16. А. Н. Чумаков, В. Б. Авраменко, Н. А. Босак. Журн. прикл. спектр., 79, № 2 (2012) 279—287 [A. N. Chumakov, V. B. Avramenko, N. A. Bosak. J. Appl. Spectr., 79, N 2 (2012) 261—268]

17. В. В. Малютина-Бронская, С. А. Сорока, Д. В. Сенькевич, О. В. Ермаков, О. А. Гребенщиков, А. В. Нестерёнок. Материалы и структуры современной электроники: материалы X Междунар. науч. конф., Минск, БГУ (2022) 142—147

18. В. Ф. Кабанов, А. М. Свердлова, Д. А. Коротков. ФТП, 30, № 10 (1996) 1756—1760