Preview

Журнал прикладной спектроскопии

Расширенный поиск
Доступ открыт Открытый доступ  Доступ закрыт Только для подписчиков

Расчет энергии триплетных 5sns(3S1), 5snd(3D1,2 ) и синглетных 5snd(1D2 ) состояний ридберговских серий атома стронция с использованием метода констант экранирования на единицу заряда ядра

Аннотация

   Представлены результаты расчетов точных энергий высоколежащих резонансов триплетного и синглетного состояний ридберговских серий атома стронция, выполненных с использованием метода констант экранирования на единицу заряда ядра (SCUNC) в диапазоне n = 12—60. Данный полуэмпирический метод широко используется в атомной физике для предсказания энергий возбужденных состояний без необходимости расчета сечений фотоионизации. Полученные результаты сравниваются с существующей базой данных NIST, содержащей данные измерений Крамидала и Advanced Light Source. Анализ полученных результатов осуществляется в рамках стандартной теории квантовых дефектов процедуры SCUNC. Результаты демонстрируют эффективность формализма SCUNC при анализе измерений.

Об авторах

П. М. Ндиайе
Университет шейха Анта DIOP в Дакаре
Сенегал

факультет естественных наук и технологий; физический факультет; лаборатория атомных лазеров

Дакар



А. Фэй
Университет шейха Анта DIOP в Дакаре
Сенегал

факультет естественных наук и технологий; физический факультет; лаборатория атомных лазеров

Дакар



М. Соу
Университет шейха Анта DIOP в Дакаре
Сенегал

факультет естественных наук и технологий; физический факультет; лаборатория атомных лазеров

Дакар



М. Кебе
Университет шейха Анта DIOP в Дакаре
Сенегал

факультет естественных наук и технологий; физический факультет; лаборатория атомных лазеров

Дакар



С. Ндиайе
Университет шейха Анта DIOP в Дакаре
Сенегал

факультет естественных наук и технологий; физический факультет; лаборатория атомных лазеров

Дакар



О. Б. Диа
Университет шейха Анта DIOP в Дакаре
Сенегал

факультет естественных наук и технологий; физический факультет; лаборатория атомных лазеров

Дакар



О. А. Ниассе
Университет шейха Анта DIOP в Дакаре
Сенегал

факультет естественных наук и технологий; физический факультет; лаборатория атомных лазеров; Институт прикладных ядерных технологий

Дакар



Список литературы

1. J. N. Bregman, J. P. Harrington, Astrophys. J., 309, 833 (1986).

2. A. Faye, M. Sow, M. Kebe, N. A. Thiam, S. Diaw, O. B. Dia, P. M. Ndiaye, C. T. Diouf, Int. J. Adv. Res., 12, No. 10, 1013–1023 (2024).

3. M. Sow, A. Diallo, A. Ba, J. K. Badiane, Int. J. At. and Nuclear Phys., 2, 006 (2017).

4. R. Beigang, K. Lücke, D. Schmidt, A. Timmermann, P. J. West, Phys. Scripta, 26, 183–188 (1982).

5. A. D. Bounds, N. Jackson, R. Hanley и R. Faoro, Phys. Rev. Lett., 120, 183401 (2018).

6. E. M. Bridge, N. C. Keegan, A. D. Bounds, D. Boddy, Opt. Express, 24, 2281 (2016).

7. R. Beigang, K. Lucke, A. Timmermann, P. West, Opt. Commun., 42, 19 (1982).

8. L. Couturier, I. Nosske, F. Hu, C. Tan, Phys. Rev. A, 99, 012502 (2019).

9. I. Sakho, Atoms, 11, 26 (2023).

10. I. Sakho, Int. J. Mass Spectrom., 474, 116800 (2022).

11. R. Beigang, K. Lucke, A. Timmermann, P. West, Opt. Commun., 42, No. 1 (1982).

12. A. Kramida, Y. Ralchenko, J. Reader, N. A. Team, NIST Atomic Spectra Database (ver. 5.12), National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD (2024) [online]. Available: 10.18434/T4W30F (2025).


Рецензия

Для цитирования:


Ндиайе П.М., Фэй А., Соу М., Кебе М., Ндиайе С., Диа О.Б., Ниассе О.А. Расчет энергии триплетных 5sns(3S1), 5snd(3D1,2 ) и синглетных 5snd(1D2 ) состояний ридберговских серий атома стронция с использованием метода констант экранирования на единицу заряда ядра. Журнал прикладной спектроскопии. 2026;93(3):432-442.

For citation:


Ndiaye P.M., Faye A., Sow M., Kebe M., Ndiaye Ch., Dia O.B., Niasse O.A. Calculations of the Energy of the Triplet 5sns(3S1), 5snd(3D1,2) and the Singlet 5snd(1D2) States of the Rydberg Series of the Strontium Atom Using the Screening Constants Per Unit Nuclear Charge Method. Zhurnal Prikladnoii Spektroskopii. 2026;93(3):432-442.

Просмотров: 36

JATS XML

ISSN 0514-7506 (Print)