Preview

Журнал прикладной спектроскопии

Расширенный поиск
Доступ открыт Открытый доступ  Доступ закрыт Только для подписчиков

Снижение матричного эффекта в лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии с помощью кластеризации по удельной интенсивности

Аннотация

   В лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии (LIBS) точность количественного определения с помощью традиционных стандартных методов калибровки часто неудовлетворительна главным образом из-за матричного эффекта. Для уменьшения влияния матричного эффекта предложен новый метод, названный кластеризацией по удельной интенсивности (SIC). Удельная интенсивность, определяемая как отношение интенсивности спектра к концентрации элемента, считается важной характеристикой образца. Эти характеристики способствуют эффективной кластеризации калибровочных образцов, что позволяет создавать множество более надежных калибровочных кривых. Путем объединения кластеризованных калибровочных образцов с алгоритмами машинного обучения создана классификационная модель. Неизвестные образцы могут быть классифицированы с помощью классификационной модели и предсказаны с помощью соответствующей калибровочной кривой. Практическая применимость предложенного метода SIC подтверждена путем обнаружения CaO, TFe2O3 и Li в образцах горных пород. По сравнению с традиционными стандартными методами калибровки метод SIC значительно снизил средние относительные ошибки прогнозируемого набора (AREP) для обнаруженных элементов CaO, TFe2O3 и Li в горных породах, при этом AREP уменьшились с 25.292, 14.114 и 14.12 % до 6.165, 5.481 и 5.137 % соответственно.

Об авторах

Ц. Ли
Цзиндэчжэньский университет керамики
Китай

факультет машиностроения и электронной инженерии

Цзиндэчжэнь



Р. Сюй
Цзиндэчжэньский университет керамики
Китай

факультет машиностроения и электронной инженерии

Цзиндэчжэнь



У. Хан
Цзиндэчжэньский университет керамики
Китай

факультет машиностроения и электронной инженерии

Цзиндэчжэнь



С. Ю.
Цзиндэчжэньский университет керамики
Китай

факультет машиностроения и электронной инженерии

Цзиндэчжэнь



Х. Сюй
Цзиндэчжэньский университет керамики
Китай

факультет машиностроения и электронной инженерии

Цзиндэчжэнь



С. Донг
Цзиндэчжэньский университет керамики
Китай

факультет машиностроения и электронной инженерии

Цзиндэчжэнь



Л. Сюй
Цзиндэчжэньский университет керамики
Китай

факультет машиностроения и электронной инженерии

Цзиндэчжэнь



Список литературы

1. X. Li, B. J. Coles, M. H. Ramsey, I. Thornton, Chem. Geol., 124, Nos. 1-2, 109–123 (1995).

2. L. Ge, W. Lai, Y. Lin, X-Ray Spectrom., 34, No. 1, 28–34 (2005).

3. J. D. Winefordner, I. B. Gornushkin, T. Correll, E. Gibb, B. W. Smith, N. Omenetto, J. Anal. At. Spectrom., 19, No. 9, 1061 (2004).

4. D. W. Hahn, N. Omenetto, Appl. Spectrosc., 64, No. 12, 335–366 (2010).

5. W. Li, X. Li, X. Li, Z. Hao, Y. Lu, X. Zeng, Appl. Spectrosc. Rev., 170, 108666(1–25) (2018).

6. R. S. Harmon, R. E. Russo, R. R. Hark, Spectrochim. Acta, Part B, 87, 11–26 (2013).

7. L. Barrette, S. Turmel, Anal. Chim. Acta, 56, No. 6, 715–723 (2001).

8. R. Wiens, S. Maurice, J. Lasue, O. Forni, R. Anderson, S. Clegg, S. Bender, D. Blaney, B. Barraclough, A. Cousin, L. Deflores, D. Delapp, M. Dyar, C. Fabre, O. Gasnault, N. Lanza, J. Mazoyer, N. Melikechi, P. Meslin, H. Newsom, A. Ollila, R. Perez, R. Tokar, D. Vaniman, Spectrochim. Acta, Part B, 82, 1–27 (2013).

9. P. R. Villas-Boas, R. A. Romano, M. A. M. Franco, E. C. Ferreira, E. J. Ferreira, S. Crestana, D. M. B. P. Milori, Geoderma, 263, 195–202 (2016).

10. Y. Tian, S. Hou, L. Wang, X. Duan, B. Xue, Y. Lu, J. Guo, Y. Li, Anal. Chem., 91, No. 21, 13970–13977 (2019).

11. K. Rifai, F. Doucet, L. Özcan, F. Vidal, Spectrochim. Acta, Part B, 150, 43–48 (2018).

12. Q. Sun, M. Tran, B. W. Smith, J. D. Winefordner, Anal. Chim. Acta, 413, Nos. 1-2, 187–195 (2000).

13. J. Peng, Y. He, L. Ye, T. Shen, F. Liu, W. Kong, X. Liu, Y. Zhao, Anal. Chem., 89, No. 14, 7593–7600 (2017).

14. J. Kaiser, M. Galiová, K. Novotný, R. Červenka, L. Reale, J. Novotný, M. Liška, O. Samek, V. Kanický, A. Hrdlička, K. Stejskal, V. Adam, R. Kizek, Spectrochim. Acta, Part B, 64, No. 1, 67–73 (2009).

15. L. Jolivet, M. Leprince, S. Moncayo, L. Sorbier, V. Motto-Ros, Spectrochim. Acta, Part B, 151, 41–53 (2019).

16. D. W. Hahn, N. Omenetto, Appl. Spectrosc., 66, No. 4, 347–419 (2012).

17. B. Busser, S. Moncayo, J. Coll, L. Sancey, V. Motto-Ros, Coord. Chem. Rev., 358, 70–79 (2018).

18. A. El-Hussein, A. K. Kassem, H. Ismail, M. A. Harith, Talanta, 82, No. 2, 495–501 (2010).

19. R. X. Yi, L. B. Guo, X. H. Zou, J. M. Li, Z. Q. Hao, X. Y. Yang, X. Y. Li, X. Y. Zeng, Y. F. Lu, Opt. Express, 24, No. 3, 2607 (2016).

20. S. Yao, J. Zhao, J. Xu, Z. Lu, J. Lu, J. Anal. At. Spectrom., 32, No. 4, 766–772 (2017).

21. B. C. Windom, D. W. Hahn, J. Anal. At. Spectrom., 24, No. 12, 1665 (2009).

22. Y. He, R. Whiddon, Z. Wang, Y. Liu, Y. Zhu, J. Liu, K.Cen, Energ. Fuel., 31, No. 2, 1082–1090 (2017).

23. D. Diaz, D. Hahn, Spectrochim. Acta, Part B, 166, 105795 (2020).

24. P. Zhang, L. Sun, H. Yu, P. Zeng, L. Qi, Y. Xin, Anal. Chem., 90, No. 7, 4686–4694 (2018).

25. D. Zhang, Y. Chu, S. Ma, S. Zhang, H. Cui, Z. Hu, F. Chen, Z. Sheng, L. Guo, Y. Lu, Anal. Chim. Acta, 1107, 14–22 (2020).

26. Z Ni, X. Chen, H. Fu, J. Wang, F. Dong, Front. Phys., 9, No. 4, 439–445 (2014).

27. D. L. Death, A. P. Cunningham, L. J. Pollard, Spectrochim. Acta, Part B, 64, No. 10, 1048–1058 (2009).

28. D. L. Death, A. P. Cunningham, L. J. Pollard, Spectrochim. Acta, Part B, 63, No. 7, 763–769 (2008).

29. W. Zhang, Z. Zhuo, P. Lu, J. Tang, H. Tang, J. Lu, T. Xing, Y. Wang, J. Anal. At. Spectrom., 35, No. 8, 1621–1631 (2020).

30. Q. Li, W. Zhang, Z. Tang, K. Liu, C. Zhu, R. Zhou, K. Liu, X. Li, Talanta, 234, 122712 (2021).

31. Y. P. Pandit, Y. P. Badhe, B. K. Sharma, S. S. Tambe, B. D. Kulkarni, Fuel, 90, No. 1, 339–347 (2011).

32. P. Yang, Y. Zhu, X. Yang, J. Li, S. Tang, Z. Hao, L. Guo, X. Li, X. Zeng, Y. Lu, J. Cereal. Sci., 80, 111–118 (2018).

33. J. Hou, L. Zhang, Y. Zhao, Z. Wang, Y. Zhang, W. Ma, L. Dong, W. Yin, L. Xiao, S. Jia, Plasma Science and Technology, 21, 034016 (2019).

34. F. Rezaei, G. Cristoforetti, E. Tognoni, S. Legnaioli, V. Palleschi, A. Safi, Spectrochim. Acta, Part B, 169, 105878 (2020).


Рецензия

Для цитирования:


Ли Ц., Сюй Р., Хан У., Ю. С., Сюй Х., Донг С., Сюй Л. Снижение матричного эффекта в лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии с помощью кластеризации по удельной интенсивности. Журнал прикладной спектроскопии. 2026;93(3):433 (1-11).

For citation:


Li Q., Xu R., Han W., Yu Sh., Xu H., Dong Ch., Xu L. Specific-Intensity Clustering Method for Reducing Matrix Effect in Quantitative Analysis of Laser-Induced Breakdown Spectroscopy. Zhurnal Prikladnoii Spektroskopii. 2026;93(3):433 (1-11).

Просмотров: 27

JATS XML

ISSN 0514-7506 (Print)