ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ПЛЕНОК ТИТАНАТА СТРОНЦИЯ, СФОРМИРОВАННЫХ ЗОЛЬ-ГЕЛЬ МЕТОДОМ НА КВАРЦЕВЫХ ПОДЛОЖКАХ

Исследованы спектры пропускания в диапазоне 200-1100 нм пленок титаната стронция толщиной до 200 нм, сформированных золь-гель методом на подложках кварцевого стекла. Золь приготовлен на основе ацетата стронция, тетраизопропоксида титана, уксусной кислоты и монометилового эфира этиленгликоля. Пленки титаната стронция формировались последовательным нанесением пяти слоев с промежуточной сушкой каждого слоя и окончательной термообработкой в диапазоне температур 500-750 °С. Из анализа спектров пропускания установлено, что полученные пленки характеризуются шириной запрещенной зоны, уменьшающейся от 4.46 до 3.84 эВ при переходе от рентгеноаморфных пленок к кристаллическим с показателем преломления 1.996 (l= 620нм), обусловленным высокой плотностью упаковки 81.5 % от плотности монокристаллического титаната стронция.

золь-гель метод, титанат стронция, оптические спектры пропускания, показатель преломления, ширина запрещенной зоны, sol-gel method, strontium titanate, optical transmission spectra, refractive index, band gap energy

1. F. Amy, A. Wan, A. Kahn, F. J. Walker, R. A. McKee. J. Appl. Phys., 96, N 3 (2004) 1601-1606

2. A. Kosola, M. Putkonen, L.-S. Johansson, L. Niinisto. Appl. Surf. Sci., 211 (2003) 102-112

3. Y. Du, M.-S. Zhang, J. Wu, L. Kang, S. Yang, P. Wu, Z. Yin. Appl. Phys. A, 76 (2003) 1105-1108

4. D. Roy, C. J. Peng, S. B. Krupanidhi. Appl. Phys. Lett., 60, N 3 (1992) 2478-2480

5. S. Baba, K. Numata, S. Miyake. Sci. Technol. Adv. Mater., 1 (2000) 211-217

6. T. Hubert, U. Beck, H. Kleinke. J. Non-Cryst. Solids, 196 (1996) 150-154

7. G. Brankovica, Z. Brankovic, J. A. Varela, E. Longo. J. Eur. Ceram. Soc., 24 (2004) 989-991

8. N. Ishizawa, H. Banno, M. Hayashi, S. E. Yoo, M. Yoshimura. Jpn. J. Appl. Phys., 29 (1990) 2467-2472

9. R. Thomas, D. C. Dube. Jpn. J. Appl. Phys., 39 (2000) 1771-1775

10. M. N. Kamalasanan, N. Deepak Kumar, S. Chandra. J. Appl. Phys., 74 (1993) 679-686

11. D. Bao, X. Yao, N. Wakiya, K. Shinozaki, N. Mizutani. Appl. Phys. Lett., 79, N 23 (2001) 3767-3769

12. S. B. Singh, H. B. Sharma. Eur. Phys. J. Appl. Phys., 45 (2009) 30602-1-30602-8

13. Х. Сохраби Анараки, Н. В. Гапоненко, М. B. Руденко, А. Ф. Гук, С. М. Завадский, Д. А. Голосов, Б. С. Колосницын, В. В. Колос, А. Н. Петлицкий, А. С. Турцевич. ФТП, 48, № 12 (2014) 140-142

14. R. Thomas, D. C. Dube, M. N. Kamalasanan, S. Chandra, A. S. Bhalla. J. Appl. Phys., 82 (1997) 4484-4488

15. S. Fuentes, R. A. Zarate, E. Chavez, P. Munoz, D. Diaz-Droguett, P. Leyton. J. Mater Sci., 45 (2010) 1448-1452

16. R. Swanepoel. J. Phps. E: Sci. Instrum., 16 (1983) 1214-1222

17. H. Malitson. J. Opt. Soc. Am., 55 (1965) 1205-1208

18. M. J. Dodge. Refractive Index, in Handbook of Laser Science and Technology, Еd. M. J. Weber, IV, Optical Material: Pt 2, CRC Press, Boca Raton (1986)