Preview

Журнал прикладной спектроскопии

Расширенный поиск

ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ И ОПТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК НАНОЧАСТИЦ ЛЕГИРОВАННОГО МЕДЬЮ СУЛЬФИДА ЦИНКА

Аннотация

Методом мокрой химии синтезированы наночастицы сульфида цинка, легированного медью. Полученные частицы обладают кристаллической структурой цинковой обманки с размером кристаллита 3.8 нм. Исследованы морфологии и оптические характеристики синтезированных частиц. Обнаружено, что ширина запрещенной зоны изменяется от 3.6 до 4.4 эВ в зависимости от концентрации меди. Исследована фотолюминесценция частиц при комнатной температуре.

Об авторах

P. . Mishra
Технический колледж Парала Махараджа
Россия


K. S. Ojha
Национальный технологический институт
Россия


A. . Khare
Национальный технологический институт
Россия


Список литературы

1. M. Wang, L. Sun, X. Fu, C. Liao, C. Yan, Solid State Commun., 115, 493-496 (2000).

2. H. Y. Lu, S. Y. Chu, J. Cryst. Growth, 265, 476-481 (2004).

3. D. Denzler, M. Olschewski, K. Sattler, J. App. Phys., 84, 2841-2845 (1998).

4. P. Yang, M. Lu, D. Xu, D. Yuan, G. Zhou, Chem. Phys. Lett., 336, 76-80 (2001).

5. K. Jayanthi, S. Chawla, H. Chander, D. Haranath, Cryst. Res.Technol., 42, 976-982 (2007).

6. J. M. Hwang, M. O. Oh, I. Kim, J. K. Lee, C. S. Ha, Curr. Appl. Phys., 5, 31-34 (2005).

7. H. Cho, C. Yun, J. W. Park, S. Yoo, Org. Electron., 10, 1163-1169 (2009).

8. C. W. Lee, C. H. Chou, J. H. Huang, C. S. Hsu, T. P. Nguyen, Mater. Sci. Eng. B, 147, 307-311(2008).

9. X. Liu, X. Cai, J. Mao, C. Jin, Appl. Surf. Sci., 183, 103-110 (2001).

10. V. Dimitrova, J. Tate, Thin Solid Films, 365, 134-138 (2000).

11. D. W. Wang, S. L. Zhao, Z. Xu, C. Kong, W. Gong, Org. Electron., 12, 92-97 (2011).

12. E. A. Mastio, C. B. Thomas, W. M. Cranton, E. Fogarassy, Appl. Surf. Sci., 157, 74-80 (2000).

13. B. L. Zhu, X. Chen, L. M. Xu, Thin Solid Films, 474, 114-118 (2005).

14. C. Ma, D. Moore, J. Li, Z. L. Wang, Adv. Mater., 15, 228-231 (2003).

15. Y. Zhao, Y. Zhang, H. Zhu, G. C. Hadjipanayis, J. Q. Xiao, J. Am. Ceram. Soc., 126, 6874-6875 (2004).

16. W. Chen, J. O. Malm, V. Zwiller, Y. Huang, S. Liu, R. Wallenberg, J. O. Bovin, L. Samuelson, Phys. Rev. B, 61, 11021-11024 (2000).

17. S. J. Xu, S. J. Chua, B. Liu, L. M. Gan, C. H. Chew, G. Q. Xu, Appl. Phys. Lett., 73, 478-480 (1998).

18. B. Y. Geng, L. D. Zhang, G. Z. Wang, T. Xie, Y. G. Zhang, G. W. Meng, Appl. Phys. Lett., 84, 2157-2159 (2004).

19. B. Bhattacharjee, D. Ganguli, K. Iakoubovskii, A. Stesmans, S. Chaudhuri, Bull. Mater. Sci., 25, 175-180 (2002).

20. R. N. Bhargava, D. Gallagher, X. Hong, A. Nurmikko, Phys. Rev. Lett., 72, 416-419 (1994). 681-6

21. A. A. Khosravi, M. Kundu, L. Jatwa, S. K. Deshpande, U. A. Bhagwat, M. Sastry, S. K. Kulkarni, Appl. Phys. Lett., 67, 2702-2704 (1995).

22. S. Lee, D. Song, D. Kim, J. Lee, S. Kim, I. Y. Park, and Y. D. Choi, Mater. Lett., 58, 342-346 (2004).

23. J. Huang, Y. Yang, S. Xue, B. Yang, S. Liu, J. Shen, Appl. Phys. Lett., 70, 2335-2337 (1997).

24. A. A. Bol, J. Ferwerda, J. A. Bergwer, A. Meijerink, J. Lumin., 99, 325-334 (2002).

25. S. Lee, D. Song, J. Lee, S. Kim, I. Y. Park, M. S.Won, Mater. Sci. Eng. B, 103, 241-245 (2003).

26. W. Q. Peng, G. W. Cong, S. C. Qu, Z. G. Wang, Opt. Mater., 29, 313-317 (2006).

27. B. Bodo, P. K. Kalita, Res. J. Phys. Sci., 1, 2-5 (2013).

28. B. Liu, Y. Bando, X. Jiang, C. Li, X. Fang, H. Zeng, T. Terao, C. Tang, M. Mitome, D. Golberg, Nanotechnology, 21, 375601 (2010).

29. S. Ummartyotin, N. Bunnak, J. Juntaro, M. Sain, H. Manuspiya, Solid State Sci., 14, 299-304 (2012).


Рецензия

Для цитирования:


Mishra P., Ojha K.S., Khare A. ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ И ОПТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК НАНОЧАСТИЦ ЛЕГИРОВАННОГО МЕДЬЮ СУЛЬФИДА ЦИНКА. Журнал прикладной спектроскопии. 2018;85(4):681(1)-681(6).

For citation:


Mishra P., Ojha K.S., Khare A. STRUCTURAL AND OPTICAL STUDY OF COPPER DOPED ZINC SULFIDE NANOPARTICLES. Zhurnal Prikladnoii Spektroskopii. 2018;85(4):681(1)-681(6). (In Russ.)

Просмотров: 256


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 0514-7506 (Print)