Preview

Журнал прикладной спектроскопии

Расширенный поиск
Доступ открыт Открытый доступ  Доступ закрыт Только для подписчиков

БЫСТРОЕ ОПРЕДЕЛЕНИЕ ОПТИЧЕСКИХ КОНСТАНТ И ТОЛЩИНЫ ТОНКИХ ЖИДКОСТНЫХ ОБРАЗЦОВ МЕТОДОМ ТЕРАГЕРЦОВОЙ СПЕКТРОСКОПИИ С ВРЕМЕННЫМ РАЗРЕШЕНИЕМ

Полный текст:

Аннотация

С использованием терагерцовой спектроскопии с временным разрешением и особенностей тонких жидкостных образцов предложен трехмерный алгоритм оптимизации, позволяющий одновременно получать оптические константы и толщину образца при значительном сокращении времени вычислений. Измерены терагерцовые сигналы слоя воды толщиной 200 мкм в кювете с известными параметрами. С помощью разработанного алгоритма определены его толщина и оптические константы воды с высокой точностью, что подтвердило эффективность предложенного подхода.

Об авторах

F. . Yang
Гуйчжоуский институт метрологии
Россия


L. -P. Liu
Школа фармации, Технологический институт Гуйчжоу
Россия


M. -J. Song
Гуйчжоуский институт метрологии
Россия


F. . Zhang
Гуйянский профессионально-технический колледж
Россия


Список литературы

1. J. L. Duvillaret, F. Garet, J.-L. Coutaz, Appl. Opt., 38, 409-415 (1999).

2. T. Dorney, R. Baraniuk, D. Mittleman, J. Opt. Soc. Am. A, 18, 1562-1571 (2001).

3. Ioachim Pupeza, Rafal Wilk, Martin Koch, Opt. Express, 15, 4335-4350 (2007).

4. Benjamin Born, Martina Havenith, J. Infrared Millim. Terahertz Waves, 30, 1245-1254 (2009).

5. Robert J. Falconer, Andrea G. Markelz, J. Infrared Millim. Terahertz Waves, 33, 973-988 (2012).

6. C. Rønne, L. Thrane, P. O. Åstrand, A. Wallqvist, K. V. Mikkelsen, S. R. Keiding, J. Chem. Phys., 107, 5319-5331(1997).

7. Peter Uhd Jepsen, Uffe Møller, Hannes Merbold, Opt. Express, 15, 14717-14737 (2007).

8. Atsushi Nakanishi, Yoichi Kawada, Takashi Yasuda, Koichiro Akiyama, Hironori Takahashi, Rev. Sci. Instrum., 83, 033103 (2012).

9. A. Soltani, T. Probst, S. F. Busch, M. Schwerdtfeger, E. Castro-Camus, M. Koch, J. Infrared Millim. Terahertz Waves, 35, 5, 468-477 (2014).

10. Maik Scheller, Christian Jansen, Martin Koch, Opt. Commun., 282, 1304-1306 (2009).

11. P. U. Jepsen, D. G. Cooke, M. Koch, Laser Photon. Rev., 5, 1,124-166 (2011).

12. R. Wilk, I. Pupeza, R. Cernat, M. Koch, IEEE J. Select. Top. Quantum Electron., 14, 392-398 (2008).

13. M. Scheller, Opt. Express, 19, 11, 10647-10655 (2011).

14. T. Wang, P. Klarskov, P. U. Jepsen, IEEE Trans. Terahertz Sci. Technol., 4, 425-431 (2014).

15. M. Scheller, J. Infrared Millim. Terahertz Waves, 35, No. 8, 638-648 (2014).

16. Withayachumnankul, Withawat, M. Naftaly, J. Infrared Millim. Terahertz Waves, 35, 610-637 (2014).

17. J. C. Lagarias, J. A. Reeds, M. H. Wright, P. E. Wright, SIAM J. Optim., 9, 112-147 (1998).


Для цитирования:


Yang F..., Liu L.-., Song M.-., Zhang F... БЫСТРОЕ ОПРЕДЕЛЕНИЕ ОПТИЧЕСКИХ КОНСТАНТ И ТОЛЩИНЫ ТОНКИХ ЖИДКОСТНЫХ ОБРАЗЦОВ МЕТОДОМ ТЕРАГЕРЦОВОЙ СПЕКТРОСКОПИИ С ВРЕМЕННЫМ РАЗРЕШЕНИЕМ. Журнал прикладной спектроскопии. 2018;85(5):790-795.

For citation:


Yang F..., Liu L.-., Song M.-., Zhang F... FAST DETERMINATION OF OPTICAL CONSTANTS AND SAMPLE THICKNESS OF THIN LIQUID SAMPLES IN TERAHERTZ TIME-DOMAIN SPECTROSCOPY. Zhurnal Prikladnoii Spektroskopii. 2018;85(5):790-795. (In Russ.)

Просмотров: 89


ISSN 0514-7506 (Print)