Preview

Журнал прикладной спектроскопии

Расширенный поиск
Доступ открыт Открытый доступ  Доступ закрыт Только для подписчиков

ОПТИЧЕСКАЯ И ДИЭЛЕКТРИЧЕСКАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА НАНОСТЕРЖНЕЙ ZnSe С ПЛЕНОЧНЫМ ПОКРЫТИЕМ

Полный текст:

Аннотация

Пассивированные ПВА наностержни ZnSe синтезированы с использованием сольвотермального метода. Рентгеноструктурный анализ синтезированных наностержней подтверждает характерную для цинковой обманки кубическую структуру со средним размером частиц 14 нм, исследования с помощью растровой электронной микроскопии (РЭМ) свидетельствуют об образовании стержней с большим диапазоном длин. На РЭМ-изображениях наряду с обычными стержневыми наноструктурами наблюдаются сдвоенные наностержни. Оптические характеристики синтезированных наностержней получены с использованием УФ-видимой и фотолюминесцентной спектроскопии. Запрещенная зона шириной 3.89 эВ смещена в синюю область спектра относительно положения указанной зоны в объемном образце ZnSe. Проведены исследования диэлектрических свойств наностержней ZnSe.

Об авторах

K. S. Ojha
Национальный технологический институт Раипур
Индия


A. K. Shrivastav
Национальный технологический институт Раипур
Индия


Список литературы

1. L. S. Li, N. Pradhan, Y. Wang, X. Peng, Nano Lett., 4, No. 11, 2261–2264 (2004).

2. M. A. Rafea, J. Mater. Sci.: Mater. Electron., 18, 415–420 (2007).

3. A. C. Deshpande, S. B. Singh, M. K. Abyaneh, R. Pasricha, S. K. Kulkarni, Mater. Lett., 62, 3803–3805 (2008).

4. S. Jana, I. C. Baek, M. A. Lim, S. I. Seok, J. Colloid Interface Sci., 322, 473–477 (2008).

5. J. Archana, M. Navaneethan, S. Ponnusamy, Y. Hayakawa, C. Muthamizhchelvan, Appl. Surf. Sci., 257, 7699–7703 (2011).

6. Ch. Rajesh, C. Phadnis, K. G. Sonawane, S. Mahamuni, J. Exp. Nanosci., 10, No. 14, 1082–1092 (2015).

7. N. K. Nasab, A. R. Dehnad, H. Salimizand, D. Taherzadeh, D. Prakash, K. D. Verma, M. Darroudi, Ceram. Int., 42, 12115–12118 (2016).

8. M. S. Gudiksen, L. J. Lauhon, J. Wang, D. C. Smith, C. M. Leiber, Nature, 415, 617–620 (2002).

9. C. Thelander, T. Martensson, M. T. Bjork, B. J. Ohlsson, M. W. Larsson, L. R. Wallenberg, L. Samuelson, Appl. Phys. Lett., 83, 2052–2054 (2003).

10. C. Yang, Z. H. Zhong, C. M. Lieber, Science, 310, 1304–1307 (2005).

11. A. B. Panda, S. Acharya, S. Efrima, Adv. Mater., 17, No. 20, 2471–2474 (2005).

12. S. L. Xiong, J. Shen, Q. Xie, Y. Q. Gao, Q. Tang, Y. T. Qian, Adv. Funct. Mater., 15, No. 11, 1787–1792 (2005).

13. D. D. Fanfair, B. A. Korgel, Chem. Mater., 19, No. 20, 4943–4948 (2007).

14. A. Dong, R. Tang, W. E. Buhro, J. Am. Chem. Soc., 129, No. 40, 12254–12262 (2007).

15. J. W. L. Yim, D. Chen, G. F. Brown, J. Wu, Nano Res., 2, 931–937 (2009).

16. D. Han, C. Song, X. Li, J. Nanomater., 290763 (1–4) (2010); doi:10.1155/2010/290763.

17. L. Zhang, H. Yang, App. Phys. A: Mater. Sci. Proc., 98, No. 4, 801–810 (2010).

18. N. Petchsang, L. Shapoval, F. Vietmeyer, Y. Yu, J. H. Hodak, I.-M. Tang, T. H. Kosel, M. Kuno, Nanoscale, 3, No. 8, 3145–3151 (2011).

19. T. Yao, Q. Zhao, Z. Qiao, F. Peng, H. Wang, H. Yu, C. Chi, J. Yang, Chem. A Eur. J. 17, No. 31, 8663–8670 (2011).

20. J. Wang, H. Feng, W. Fan, K. Chen, Q. Yang, Adv. Mater. Phys. Chem., 3, 289–294 (2013).

21. W. E. Mahmoud, H. M. El-Mallah, J. Phys. D: Appl. Phys., 42, 1–5 (2009).

22. M. Sharma, S. K. Tripathi, J. Phys. Chem. Solids, 73, 1075–1081 (2012).

23. A. J. Ahamed, K. Ramar, P. V. Kumar, J. Nanosci. Nanotechnol., 2, No. 3, 148–150 (2016).

24. H. Y. Chang, C. T. Lin, S. J. Chiu, Desalination, 233, 137–146 (2008).

25. C. G. Koops, Phys. Rev., 83, 121–124 (1951).

26. G. Yellaiah, T. Shekharam, K. Hadasa, M. Nagabhushanam, J. Alloys. Compd., 609, 192–200 (2014).

27. H. Demiryont, J. Appl. Phys., 49, 2898–2904 (1978).


Рецензия

Для цитирования:


Ojha K.S., Shrivastav A.K. ОПТИЧЕСКАЯ И ДИЭЛЕКТРИЧЕСКАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА НАНОСТЕРЖНЕЙ ZnSe С ПЛЕНОЧНЫМ ПОКРЫТИЕМ. Журнал прикладной спектроскопии. 2020;87(1):148-153.

For citation:


Ojha K.S., Shrivastav A.K. OPTICAL AND DIELECTRIC CHARACTERIZATION OF PVA CAPPED ZnSe NANORODS. Zhurnal Prikladnoii Spektroskopii. 2020;87(1):148-153.

Просмотров: 160


ISSN 0514-7506 (Print)