Для цитирования:

Тихий А.А., Николаенко Ю.М., Корнеевец А.С., Свиридова Е.А., Жихарева Ю.И., Жихарев И.В. МОДЕЛИРОВАНИЕ ПЕРЕХОДНЫХ СЛОЕВ НА ГРАНИЦАХ ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ ПОКРЫТИЙ ПРИ ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЯХ. Журнал прикладной спектроскопии. 2019;86(6):942-946.

For citation:

Tikhii A.A., Nikolaenko Yu.M., Kornievets A.S., Svyrydova K.A., Zhikhareva Yu.I., Zhikharev I.V. MODELING OF TRANSITION LAYERS AT THE BOUNDARIES OF THIN-FILM COATINGS AT ELLIPSOMETRIC MEASUREMENTS. Zhurnal Prikladnoii Spektroskopii. 2019;86(6):942-946. (In Russ.)