Defect Structure of LiF Single Crystal
Abstract
We studied the substructures of LiF crystal samples grown by the Kiropoulos and Bridgman-Stockbarger methods. Measurements were made using the double-crystal X-ray diffractometry technique. The peak's angular full width at half maximum (FWHM) was calculated for each diffractogram. Statistical processing of the FWHM measurement data indicates that the samples grown by the Bridgman-Stockbarger method have a smaller angular misorientation of the substructure and include areas suitable for manufacturing crystalline X-ray analyzer blanks of the required size.
About the Authors
Y. E. BichRussian Federation
St. Petersburg.
M. T. Kogan
Russian Federation
St. Petersburg.
A. A. Dunaev
Russian Federation
St. Petersburg, 192171.
S. N. Solovyev
Russian Federation
St. Petersburg, 192171.
A. S. Bil
Russian Federation
St. Petersburg.
References
1. А. И. Непомнящих, С. Н. Мироненко, Г. П. Афонин, А. И. Селявко. Атомная энергия, 58, № 4 (1985) 257—259
2. А. И. Непомнящих, А. А. Шалаев, А. К. Субанаков, А. С. Паклин, Н. С. Бобина, А. С. Мясникова, Р. Ю. Шендрик, Б. Г. Базаров. Вестн. Бурят. гос. ун-та, № 3 (2011) 9—13
3. А. А. Дунаев, С. Н. Бороздин, А. В. Сандуленко, С. Н. Соловьев, А. Н. Титов, В. Э. Якобсон. Тр. XXV междунар. науч.-тех. конф. и школы по фотоэлектронике и приборам ночного видения, 24—26 мая 2018 г., Москва (2018) 567—570
4. J. Vierling, J. W. Gilfrich, L. S. Birks. Appl. Spectr., 23 (1969) 342—345
5. А. В. Кузнецов, И. О. Кузьмина. Кристаллография, 21 (1976) 678—682
6. Б. Г. Иванов, М. Т. Коган, В. М. Рейтеров. Опт. журн., 68, № 1 (2001) 41—43
7. Б. Д. Калинин. Аналитика и контроль, 24, № 3 (2020) 201—229
Review
For citations:
Bich Y.E., Kogan M.T., Dunaev A.A., Solovyev S.N., Bil A.S. Defect Structure of LiF Single Crystal. Zhurnal Prikladnoii Spektroskopii. 2021;88(3):415-418. (In Russ.)