Анализ стекол, покрытых тонкими пленками Zn-Cr-Sn-O, методом спектроскопии лазерно-индуцированной плазмы с пикосекундным возбуждением и спектроскопии пропускания

Q. Gao; Sh. Liu; J. Xiu; Zh. Li; Y. Liu; H. Liu

Анализ стекол, покрытых тонкими пленками Zn-Cr-Sn-O, методом спектроскопии лазерно-индуцированной плазмы с пикосекундным возбуждением и спектроскопии пропускания

Q. Gao, Sh. Liu, J. Xiu, Zh. Li, Y. Liu, H. Liu

Полный текст:

PDF (Eng)

сгенерировать QR код

Аннотация

Тонкие пленки ZnO с примесью Sn и Cr (ZCTO) наносились на поверхность стеклянной подложки методом радиочастотного магнетронного распыления. Спектроскопия лазерно-индуцированной плазмы с пикосекундным возбуждением (ps-LIBS) применена для быстрого анализа легирующих элементов в тонкой пленке ZCTO. Спектры пропускания стекол, покрытых тонкими пленками ZCTO, осажденными при разном времени распыления, зарегистрированы с помощью спектрофотометра UV-VIS-NIR. Красный сдвиг на 45±2 нм, отмеченный на крае поглощения спектра пропускания (УФ-полоса 330–400 нм), выделялся с увеличением времени распыления. Определены ширины оптических запрещенных зон тонких пленок ZCTO, которые оказались большими, чем у тонких пленок ZnO. Установлена связь между LIBS-сигналом и оптическими свойствами образцов стекла.