Сортировать по:
| Выпуск | Название | |
| Том 84, № 1 (2017) | ФОТОЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ ГИБРИДНЫХ СТРУКТУР ПОРИСТЫЙ КРЕМНИЙ-ОКСИД ЦИНКА | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| И. Б. Оленич, Л. С. Монастырский, А. П. Лучечко | ||
| "... on the surface of porous silicon by electrochemical deposition. Photoluminescence excitation and emission spectra ..." | ||
| Том 91, № 2 (2024) | Субстраты для спектроскопии гигантского комбинационного рассеяния на основе покрытого наночастицами серебра пористого кремния для обнаружения низкой концентрации белка денге NS1 | Аннотация похожие документы |
| N. F. Ismail, K. Y. Lee, N. S. M. Hadis, L. N. Ismail, A. F. A. Rahim, M. H. Abdullah, A. R. M. Radzol | ||
| "... silver-coated porous silicon SERS substrate was developed for the novel detection of low-concentration NS ..." | ||
| Том 89, № 1 (2022) | Анализ пористого нанокремния на основе спектроскопии комбинационного рассеяния света | Аннотация похожие документы |
| В. М. Ротштейн, Т. К. Турдалиев, Х. Б. Ашуров | ||
| "... The technologies of obtaining nanostructured silicon, including porous nanosilicon are presented ..." | ||
| Том 88, № 3 (2021) | Синтез и спектроскопическое исследование оксидов Si, Ti, Mg, Zn, модифицированных L-пролином | Аннотация похожие документы |
| О. В. Корякова, М. С. Валова, Ю. А. Титова, А. Н. Мурашкевич, О. В. Федорова | ||
| "... колебаний связей кремний-кислород, металл-кислород. Для оксида SiO—TiO2 характерно увеличение количества ..." | ||
| Том 87, № 6 (2020) | Оптические характеристики собственных дефектов 4H-SiC, облученного 10-МэВ электронами с последующим отжигом | Аннотация похожие документы |
| Y. Zhang, K. Wang, H. Wang, Y. Tian, Y. Wang, J. Li, Y. Chai | ||
| Том 85, № 1 (2018) | СТЕХИОМЕТРИЯ ПЛЕНОК ДИОКСИДА КРЕМНИЯ, ПОЛУЧЕННЫХ ИОННО-ЛУЧЕВЫМ РАСПЫЛЕНИЕМ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| Е. В. Телеш, А. П. Достанко, О. В. Гуревич | ||
| "... -beam sputtering (IBS) of silicon and quartz targets. Films of 150-390 nm were formed on silicon ..." | ||
| Том 86, № 6 (2019) | ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ПОРИСТОЙ АЛЮМООКСИДНОЙ КЕРАМИКИ С МИКРОННОЙ ОТКРЫТО-ЯЧЕИСТОЙ СТРУКТУРОЙ | Аннотация похожие документы |
| B. Liu, Ch. Sun, X. Chen, X. Xia | ||
| "... Porous ceramic material is widely used in a great deal of fields. In this work, porous alumina ..." | ||
| Том 87, № 1 (2020) | СПЕКТРОСКОПИЯ ОПТИЧЕСКОГО ДЕТЕКТИРОВАНИЯ МАГНИТНОГО РЕЗОНАНСА В КАРБИДЕ КРЕМНИЯ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ РАЗВЕРТКИ ТЕМПЕРАТУРЫ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| И. Д. Бреев, А. Н. Анисимов, Р. А. Бабунц, П. Г. Баранов | ||
| "... in silicon carbide. The detection process is based on the natural mechanism of optical alignment of spin ..." | ||
| Том 86, № 1 (2019) | АНАЛИЗ ПОВЕРХНОСТИ КРЕМНИЯ, ИМПЛАНТИРОВАННОГО ИОНАМИ КИСЛОРОДА И ГЕЛИЯ, МЕТОДОМ СПЕКТРАЛЬНОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| В. В. Базаров, В. И. Нуждин, В. Ф. Валеев, Н. М. Лядов | ||
| "... The results of studies by the method of spectral ellipsometry of a surface of silicon implanted ..." | ||
| Том 84, № 5 (2017) | АНАЛИЗ ПОВЕРХНОСТИ КРЕМНИЯ, ИМПЛАНТИРОВАННОГО ИОНАМИ СЕРЕБРА, ПО СПЕКТРАМ ОПТИЧЕСКОГО ОТРАЖЕНИЯ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| А. Л. Степанов, В. В. Воробьев, В. И. Нуждин, В. Ф. Валеев, Ю. Н. Осин | ||
| "... The optical reflection of surface of silicon implanted with Ag+ ions at low energy of 30 keV ..." | ||
| Том 86, № 5 (2019) | ТРАНСФОРМАЦИЯ СТРУКТУРНЫХ ДЕФЕКТОВ И СОСТОЯНИЯ ВОДОРОДА ПРИ ТЕРМООБРАБОТКЕ ГИДРОГЕНИЗИРОВАННОГО КРЕМНИЯ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| Ю. М. Покотило, А. Н. Петух, О. Ю. Смирнова, Г. Ф. Стельмах, В. П. Маркевич, О. В. Королик, И. А. Свито, A. M. Saad | ||
| "... , hydrogen state, and electro-physical properties of silicon treated in a hydrogen plasma. It is established ..." | ||
| Том 87, № 2 (2020) | ИНТЕРФЕРЕНЦИЯ ЛЮМИНЕСЦЕНТНОГО СВЕЧЕНИЯ ДИОКСИДА КРЕМНИЯ ПРИ РЕАКТИВНОМ ИОННО-ПЛАЗМЕННОМ ТРАВЛЕНИИ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| А. В. Абрамов, Е. А. Панкратова, И. С. Суровцев | ||
| "... The article presents the results of a study of luminescent glow of silicon dioxide during of its ..." | ||
| Том 87, № 4 (2020) | МЕХАНИЗМ АДГЕЗИОННОГО ВЗАИМОДЕЙСТВИЯ ПЛЕНОК ДИАЗОХИНОННОВОЛАЧНОГО ФОТОРЕЗИСТА С МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИМ КРЕМНИЕМ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| С. Д. Бринкевич, Е. В. Гринюк, Д. И. Бринкевич, Р. Л. Свердлов, В. С. Просолович, А. Н. Петлицкий | ||
| "... FN9120 diazoquinon-novoloc photoresist films on silicon were studied by the method of IR- Fourier ..." | ||
| Том 90, № 6 (2023) | Инфракрасная Фурье-спектроскопия структур фоторезист/кремний, используемых для обратной литографии | Аннотация похожие документы |
| Д. И. Бринкевич, Е. В. Гринюк, С. Д. Бринкевич, В. С. Просолович, В. В. Колос, О. А. Зубова, С. Б. Ластовский | ||
| "... Photoresist (PR) NFR 016D4 films deposited on the surface of silicon wafers by centrifugation have ..." | ||
| Том 90, № 6 (2023) | Спектрально-зарядовые свойства гетероструктуры диоксид титана/кремний при облучении солнечным светом | Аннотация похожие документы |
| А. А. Курапцова, А. Л. Данилюк | ||
| "... (TiO2) film on a p-type silicon substrate in the solar radiation wavelength range of 300–1200 nm ..." | ||
| Том 89, № 4 (2022) | ИК-прозрачность островко- вых структур Si/SiO2/Si3N4/Si, сформированных методом селективного лазерного отжига | Аннотация похожие документы |
| А. И. Мухаммад, П. И. Гайдук, О. Ю. Наливайко, В. В. Колос | ||
| "... alloyed regions of recrystallized silicon in the surface layer. Analysis of dispersion curves obtained ..." | ||
| Том 90, № 1 (2023) | Атомарная и ионная люминесценция диспрозия при сонолизе одиночным движущимся пузырьком коллоидной суспензии наночастиц, содержащих хлорид диспрозия | Аннотация похожие документы |
| Б. М. Гареев, А. М. Абдрахманов, Л. Р. Якшембетова, Г. Л. Шарипов | ||
| Том 91, № 2 (2024) | ИК-Фурье-спектроскопия нарушенного полного внутреннего отражения пленок полиимида на пластинах монокристаллического кремния | Аннотация похожие документы |
| В. С. Просолович, Д. И. Бринкевич, Е. В. Гринюк, С. Д. Бринкевич, В. В. Колос, О. А. Зубова, С. Б. Ластовский | ||
| "... silicon wafers by centrifugation are studied. The films were irradiated by electrons with energy of 5 MeV ..." | ||
| Том 91, № 2 (2024) | Поглощение ИК-излучения в структурах Ti/(Si)/SiO2/Si3N4/n+-Si с островковым поверхностным слоем различной горизонтальной геометрии | Аннотация похожие документы |
| А. И. Мухаммад, П. И. Гайдук | ||
| "... of bonds in the dielectric layer. An additional layer of undoped silicon with thickness up to 200 nm ..." | ||
| Том 85, № 5 (2018) | ПОВЫШЕНИЕ ТОЧНОСТИ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КР-СДВИГА НА ОСНОВЕ МЕТОДА СРАВНИТЕЛЬНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ В РЕАЛЬНОМ МАСШТАБЕ ВРЕМЕНИ | Аннотация PDF (Rus) похожие документы |
| X. . Ding, F. . Li, J. . Li, W. . Liu | ||
| "... of monocrystalline silicon and a sample of polystyrene. Experimental results indicate that the accuracy limit ..." | ||
| 1 - 20 из 82 результатов | 1 2 3 4 5 > >> | |
Советы по поиску:
- Поиск ведется с учетом регистра (строчные и прописные буквы различаются)
- Служебные слова (предлоги, союзы и т.п.) игнорируются
- По умолчанию отображаются статьи, содержащие хотя бы одно слово из запроса (то есть предполагается условие OR)
- Чтобы гарантировать, что слово содержится в статье, предварите его знаком +; например, +журнал +мембрана органелла рибосома
- Для поиска статей, содержащих все слова из запроса, объединяйте их с помощью AND; например, клетка AND органелла
- Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или NOT; например. клетка -стволовая или клетка NOT стволовая
- Для поиска точной фразы используйте кавычки; например, "бесплатные издания". Совет: используйте кавычки для поиска последовательности иероглифов; например, "中国"
- Используйте круглые скобки для создания сложных запросов; например, архив ((журнал AND конференция) NOT диссертация)
