ОПТИЧЕСКИЕ КОНСТАНТЫ СЕЛЕНИДА ЦИНКА В ВИДИМОМ И ИНФРАКРАСНОМ ДИПАЗОНАХ СПЕКТРА

Спектр пропускания ZnSe в ИК и видимом диапазонах при нормальном падении исследован с помощью спектрометра IR-Tracer-100 и двухлучевого спектрометра видимого диапазона TU-19. Оптические константы ZnSe получены на основе моделирования коэффициентов пропускания двух пластинок ZnSe. Получено, что пропускание пластинки ZnSe выше 0.7 в диапазоне 2.5-15 мкм, однако оно резко падает, когда длина волны >15 мкм. Показатель преломления ZnSe ~2.6-2.8 в диапазоне 0.55-0.85 мкм и ~2.2-2.4 в диапазоне 2.5-20 мкм. Коэффициент экстинкции ZnSe ~10^-8-10^-6 в диапазоне 0.55-0.85 мкм и ~10^-5-10^-4 в диапазоне 2.5-20 мкм.

селенид цинка, оптические константы, спектр пропускания, zinc selenide, optical constants, transmittance spectra

1. H. Morkoc, S. Strite, G. B. Gao, M.E. Lin, B. Serdlov M. Burns, J. Appl. Phys., 76, 1363-1398 (1994).

2. R. M. Park, M. B. Troffer, C. M. Rouleau, J. M. DePuydt, M. A. Haase, Appl. Phys. Lett., 57, 2127-2129 (1990).

3. H. Jeon, J. Ding, W. Patterson, A. V. Nurmikko, W. Xie, D. C. Grillo, M. Kobayashi, R. L. Gunshor, Appl. Phys. Lett., 59, 3619-3621 (1991).

4. P. Reiss, J. Bleuse, A. Pron, Nano Lett., 2, 781-784 (2002).

5. Q. Peng, Y. Dong, Y. Li, Angew. Chem. Int. Ed., 42, 3027-3030 (2003).

6. J. Sharma, S. K. Tripathi, Phys. B: Condens. Matter, 406, 1757-1762 (2011).

7. M. A. Abdel-Rahim, M. M. Hafiz, A. E. B. Alwany, Opt. Laser Technol., 47, 88-941 (2013).

8. K. V. Anikin, N. N. Melnik, A. V. Simakin, G. A. Shafeev, V. V. Voronov, A. G. Vitukhnovsky, Chem. Phys. Lett., 366, 357-360 (2002).

9. G. N. Karanikolos, P. Alexandridis, R. Mallory, A. Petrou, T. J. Mountziaris, Nanotechnology, 16, 2372 (2005).

10. D. Li, H. B. Qi, G. Z. Wu, Optik, 126, 834-837 (2015).

11. S. Adachi, T. Taguchi, Phys. Rev. B, 43, 9569 (1991).

12. M. Aven, D. T. F. Marple, B. Segall, J. Appl. Phys., 32, 2261-2265 (1961).

13. C. C. Kim, S. Sivananthan, Phys. Rev. B, 53, 1475 (1996).

14. J. L. Merz, H. Kukimoto, K. Nassau, J. W. Shiever, Phys. Rev. B, 6, 545 (1972).

15. N. Sankar, K. Ramachandran, J. Cryst. Growth, 247, 157-165 (2003).

16. D. Li, Q. Ai, X. L. Xia, Jpn. J. Appl. Phys., 52, 046602 (2013).

17. D. Li, Q. Ai, X. L. Xia, Optik, 124, 5177-5180 (2013).

18. R. Islam, D. R. Rat, Opt. Mater., 7, 47-50 (1997).

19. M. A. Khashan, A. M. El-Naggar, Opt. Commun., 174, 445-453 (2000).

20. M. S. Selim, E. Metwalli, Mater. Chem. Phys., 78, 94-98 (2002).

21. S. Y. El-Zaiat, M. B. El-Den, S. U. El-Kameesy, Y. A. El-Gammam, Opt. Laser Technol., 44, 1270-1276 (2012).

22. J. M. Gonzalez-Leal, E. Marquez, A. M. Bernal-Oliva, J. J. Ruiz-Perez, R. Jimenez-Garay, Thin Solid Films, 317, 223-227 (1998).

23. A. P. Caricato, A. Fazzi, G. Leggieri, Appl. Surf. Sci., 248, 440-445 (2005).

24. V. Dhanasekaran, T. Mahalingam, J. K. Rhee, J. P. Chu, Optik, 124, 255-260 (2013).

25. C. M. I. Okoye, Phys. B: Condens. Matter, 337, 1-9 (2003).

26. J. Kvietkov, B. Daniel, M. Hetterich, M. Schubert, D. Spemann, Thin Solid Films, 455-456, 228-230 (2004).

27. O. S. Heavens, J. Mod. Opt., 39, 189-189 (1992).