РЕНТГЕНОВСКАЯ ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ ХЛОРМЕТАЛЛАТНЫХ ИОННЫХ ЖИДКОСТЕЙ: ВИДООБРАЗОВАНИЕ И АНИОННАЯ ОСНОВНОСТЬ

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия использована для обнаружения различных хлорметаллатных анионов и различения электронного окружения каждого элемента, присутствующего в хлорметаллатных анионах. Подробно изучено влияние степени делокализации заряда хлорметаллатических анионов на энергию связи Cl 2p. Основность анионов хлорстанната и хлорферрата оценена с использованием измеренной энергии связи N 1s. Обнаружено, что анионы хлорстанната и хлорферрата можно рассматривать как наименее основные анионы.

рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, хлорметаллатные ионные жидкости, основность, X-ray photoelectron spectroscopy, chlorometallate ionic liquids, basicity

1. R. A. Sheldon, R. M. Lau, M. J. Sorgedrager, F. van Rantwijk, K. R. Seddon, Green Chem., 4, 147-151 (2002).

2. F. Falcioni, A. J. Walker, N. C. Bruce, Abstr. Pap. Am. Chem. Soc., 231, 114 (2006).

3. T. Welton, Coord. Chem. Rev., 248, 2459-2477 (2004).

4. V. I. Pârvulescu, C. Hardacre, Chem. Rev., 107, 2615-2665 (2007).

5. J. P. Mikkola, P. Virtanen, K. Kordas, H. Karhu, T. O. Salmi, Appl. Catal. A - Gen., 328, 68-76 (2007).

6. C. P. Mehnert, Chem.-Eur. J., 11, 50-56 (2004).

7. N. M. Yunus, M. I. A. Mutalib, Z. Man, M. A. Bustam, T. Murugesan, Chem. Eng. J., 189, 94-100 (2012).

8. P. Hapiot, C. Lagrost, Chem. Rev., 108, 2238-2264 (2008).

9. D. R. Macfarlane, M. Forsyth, P. C. Howlett, J. M. Pringle, J. Sun, G. Annat, W. Neil, E. I. Izgorodina, Acc. Chem. Res., 40, 1165-1173 (2007).

10. E. F. Smith, I. J. Villar-Garcia, D. Briggs, P. Licence, Chem. Commun., 5633-5635 (2005).

11. E. F. Smith, F. J. M. Rutten, I. J. Villar-Garcia, D. Briggs, P. Licence, Langmuir, 22, 9386-9392 (2006).

12. K. R. J. Lovelock, E. F. Smith, A. Deyko, I. J. Villar-Garcia, P. Licence, R. G. Jones, Chem. Commun., 4866-4868 (2007).

13. J. M. Gottfried, F. Maier, J. Rossa, D. Gerhard, P. S. Schulz, P. Wasserscheid, H. P. Steinrück, Z. Phys. Chem.-Int. J. Res. Phys. Chem. Chem. Phys., 220, 1439-1453 (2006).

14. K. R. J. Lovelock, C. Kolbeck, T. Cremer, N. Paape, P. S. Schulz, P. Wasserscheid, F. Maier, H.-P. Steinrück, J. Phys. Chem. B, 113, 2854-2864 (2009).

15. I. J. Villar-Garcia, E. F. Smith, A. W. Taylor, F. Qiu, K. R. J. Lovelock, R. G. Jones, P. Licence, Phys. Chem. Chem. Phys., 13, 2797-2808 (2011).

16. S. Men, K. R. J. Lovelock, P. Licence, Phys. Chem. Chem. Phys., 13, 15244-15255 (2011).

17. S. Men, D. S. Mitchell, K. R. J. Lovelock, P. Licence, ChemPhysChem, 16, 2211-2218 (2015).

18. A. P. Abbott, K. J. McKenzie, Phys. Chem. Chem. Phys., 8, 4265-4279 (2006).

19. X. J. Wei, L. P. Yu, D. H. Wang, X. B. Jin, G. Z. Chen, Green Chem., 10, 296-305 (2008).

20. S. Hayashi, H. O. Hamaguchi, Chem. Lett., 33, 1590-1591 (2004).

21. M. Currie, J. Estager, P. Licence, S. Men, P. Nockemann, K. R. Seddon, M. Swadzba-Kwasny, C. Terrade, Inorg. Chem., 52, 1710-1721 (2013).

22. J. Estager, P. Nockemann, K. R. Seddon, M. Swadzba-Kwasny, S. Tyrrell, Inorg. Chem., 50, 5258-5271 (2011).

23. V. Lecocq, A. Graille, C. C. Santini, A. Baudouin, Y. Chauvin, J. M. Basset, L. Arzel, D. Bouchu, B. Fenet, New J. Chem., 29, 700-706 (2005).

24. A. W. Taylor, S. Men, C. J. Clarke, P. Licence, RSC Adv., 3, 9436-9445 (2013).

25. H. Wang, B. Lu, X. G. Wang, J. W. Zhang, Q. H. Cai, Fuel Process. Technol., 90, 1198-1201 (2009).

26. J. Kadokawa, Y. Iwasaki, H. Tagaya, Macromol. Rapid Commun., 23, 758-760 (2002).

27. P. Illner, A. Zahl, R. Puchta, N. van Eikema Hommes, P. Wasserscheid, R. van Eldik, J. Organomet. Chem., 690, 3567-3576 (2005).

28. J. G. Huddleston, A. E. Visser, W. M. Reichert, H. D. Willauer, G. A. Broker, R. D. Rogers, Green Chem., 3, 156-164 (2001).

29. A. W. Taylor, K. R. J. Lovelock, A. Deyko, P. Licence, R. G. Jones, Phys. Chem. Chem. Phys., 12, 1772-1783 (2010).

30. C. D. Wagner, L. E. Davis, M. V. Zeller, J. A. Taylor, R. H. Raymond, L. H. Gale, Surf. Interface Anal., 3, 211-225 (1981).

31. D. Briggs, J. T. Grant, Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy, IMPublications, Manchester (2003).

32. S. Men, J. Jiang, P. Licence, Chem. Phys. Lett., 674, 86-89 (2017).

33. J. F. Moulder, W. F. Stickle, P. E. Sobol, K. D. Bomben, Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy: a Reference Book of Standard Spectra for Identification and Interpretation of XPS Data, Physical Electronics (1995).

34. H. Willemen, D. F. Vandevondel, G. P. Vanderkelen, Inorg. Chim. Acta, 34, 175-180 (1979).

35. S. Men, K. R. J. Lovelock, P. Licence, RSC Adv., 5, 35958-35965 (2015).

36. S. Spange, R. Lungwitz, A. Schade, J. Mol. Liq., 192, 137-143 (2014).