ТЕМПЕРАТУРНАЯ ЗАВИСИМОСТЬ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ СТЕКЛООБРАЗНЫХ СПЛАВОВ СИСТЕМЫ Asx S100-x
Аннотация
Об авторах
И. И. ШпакРоссия
И. И. Росола
Россия
О. И. Шпак
Россия
Список литературы
1. К. К. Шварц. Физика оптической записи в диэлектриках и полупроводниках, Рига (1896)
2. A. Zakery, S. R. Elliot. J. Non-Gryst. Sol., 330 (2003) 1-12
3. J. Pedlikova, J. Zavadil, O. Prochazkova, D. Lezal. J. Optoelectron. Adv. Mater., 9, N 6 (2003) 1679-1682
4. J. Teteris, М. Reifelde. J. Optoelectron. Adv. Mater., 5, N 5 (2006) 1355-1360
5. А. В. Мезенов, Л. Н. Сомс, А. И. Степанов. Термоoптика твердотельных лазеров, Ленинград, Машиностроение (1986)
6. И. Шпак, З. Гадьмаши, И. Росола. Физика и химия стекла, 27, № 6 (2001) 796-799
7. С. В. Свечников, В. В. Химинец, Н. И. Довгошей. Сложные некристаллические халькогениды и халькогалогениды и их применение в оптоэлектронике, Киев, Наукова думка (1992)
8. Г. З. Виноградова. Стеклообразование и фазовые превращения в халькогенидных системах, Москва, Наука (1984)
9. П. П. Пуга, Д. Ш. Ковач, В. А. Зубань, А. Н. Борец. Метрологическое обеспечение производства и контрольно-измерительная техника, Ужгород (1984) 43-47
10. С. С. Бацанов. Структурная рефрактометрия, Москва, Высшая школа (1979)
11. Т. Мосс. Оптические свойства полупроводников, Москва, Иностр. лит. (1961)
12. S. H. Wemple. Phys. Rev. B, 7, N 8 (1973) 3767-3777
13. А. Н. Борец. УФЖ, 25, № 4 (1980) 680-684
14. Л. Г. Айо, Г. С. Горбунова, В. Ф. Кокорина, В. В. Мельников. ОМП, № 11 (1986) 36-38
15. В. Б. Богданов, А. Н. Пихтин, В. Т. Прокопенко, А. Д. Яськов. ФТП, 16, № 3 (1988) 454-469
16. Y. Tsay, B. Bendov, S. S. Mitra. Phys. Rev. B, 8, N 11 (1973) 2688-2694
Рецензия
Для цитирования:
Шпак И.И., Росола И.И., Шпак О.И. ТЕМПЕРАТУРНАЯ ЗАВИСИМОСТЬ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ СТЕКЛООБРАЗНЫХ СПЛАВОВ СИСТЕМЫ Asx S100-x . Журнал прикладной спектроскопии. 2017;84(1):158-161.
For citation:
Shpak I.I., Rosola I.I., Shpak O.I. THE DEPENDENCE ON TEMPERATURE OF THE REFRACTIVE INDEX OF GLASSY ALLOYS OF THE Asx S100-x SYSTEM. Zhurnal Prikladnoii Spektroskopii. 2017;84(1):158-161. (In Russ.)