ПОВЫШЕНИЕ ТОЧНОСТИ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КР-СДВИГА НА ОСНОВЕ МЕТОДА СРАВНИТЕЛЬНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ В РЕАЛЬНОМ МАСШТАБЕ ВРЕМЕНИ

Предложен метод сравнительных измерений в реальном масштабе времени для повышения точности определения сдвигов комбинационного рассеяния (КР) в нескольких экспериментальных конфигурациях. Проанализированы источники ошибок КР-сдвигов. Метод испытан на образцах монокристаллического кремния и полистирола с использованием спектрометра комбинационного рассеяния. Предел точности метода 0.07 см^{- 1} . Неопределенность измерения КР-сдвига в кремнии 0.2 см^{- 1} (k = 2). Улучшена также точность измерения сдвига в полистироле. Показано, что метод сравнительных измерений в реальном масштабе времени может значительно повысить точность измерения КР-сдвига.

комбинационное рассеяние света, сдвиг, точность, сравнение, кремний, атомная спектральная линия, Raman shift, high accuracy, intercomparison, silicon, atomic spectral line

1. B. T. Bowie, D. B. Chase, P. R. Griffiths, Appl. Spectrosc., 54, No. 5, 164A-173A (2000).

2. B. T. Bowie, D. B. Chase, P. R. Griffiths, Appl. Spectrosc., 54, No. 6, 200A-207A (2000).

3. Standard Guide for Raman Shift Standards for Spectrometer Calibration, ASTM E1840-96 (2007), in: Annual Book of ASTM Standards, West Conshohocken, Pennsylvania.

4. M.R. Pollard, S. Duraipandian, R. Møller-Nilsen, L. Nielsen, Spectroscopy, 32, No. 6, 38-44 (2017).

5. A. W. Fountain III, C. K. Mann, T. J. Vickers, Appl. Spectrosc., 49, No. 7, 1048-1053 (1995).

6. W. Fountain III, T. J. Vickers, C. K. Mann, Appl. Spectrosc., 52, No. 3, 462-468 (1998).

7. T. J. Vickers, C. K. Mann, Appl. Spectrosc., 53, No. 12, 1617-1622 (1999).

8. I. Chou, J. Raman Spectrosc., 46, No. 10, 987-988 (2015).

9. Q. Wang, Z. Li, Z. Ma, L. Liang, Sensor Actuat. B-Chem., 202, No.10, 426-432 (2016).

10. T. W. Bocklitz, T. Dörfer, R. Heinke, M. Schmitt, J. Popp, Spectrochim. Acta A: Mol. Biomol. Spectrosc., 149, 544-549 (2015).

11. D. A. Carter, J. E. Pemberton, Appl. Spectrosc., 49, No. 11, 1550-1560 (1995).

12. D. A. Carter, W. R. Thompson, C. E. Taylor, J. E. Pemberton, Appl. Spectrosc., 49, No.11, 1561-1576 (1995).

13. X. Ding, F. Li, J. Zhang, W. Liu, Proc. SPIE, 10155, 101551D-1 (2016).

14. S. B. Kim, R. M. Hammaker, W. G. Fateley, Appl. Spectrosc., 40, No. 3, 412-415 (1986).

15. W. Persson, Phys. Scr., 3, 133-155 (1971).

16. E. B. Saloman, C. J. Sansonetti, J. Phys. Chem. Ref. Data, 33, No. 4, 1113-1158 (2004).

17. Joint Committee for Guides in Metrologoy (JCGM) 100:2008 Evaluation of Measurement Data-Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement (GUM 1995 with minor corrections).