Для цитирования:

Faheem M., Zhang Y., Dai X. ВЛИЯНИЕ ЛЕГИРОВАНИЯ БОРОМ НА МЕТРОЛОГИЮ ВЫСОКОРАЗРЕШАЮЩЕЙ РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКЦИИ. Журнал прикладной спектроскопии. 2018;85(1):173(1)-173(7).

For citation:

Faheem M., Zhang Y., Dai X. EFFECT OF BORON DOPING ON HIGH RESOLUTION X-RAY DIFFRACTION METROLOGY. Zhurnal Prikladnoii Spektroskopii. 2018;85(1):173(1)-173(7). (In Russ.)