Preview

Журнал прикладной спектроскопии

Расширенный поиск
Доступ открыт Открытый доступ  Доступ закрыт Только для подписчиков

ОПРЕДЕЛЕНИЕ ОПТИЧЕСКОЙ АНИЗОТРОПИИ НАНОПОРИСТЫХ ПЛЕНОК ОКСИДА АЛЮМИНИЯ МЕТОДАМИ СТОКС-ПОЛЯРИМЕТРИИ И МАТРИЦЫ КОГЕРЕНТНОСТИ

Полный текст:

Аннотация

Методами стокс-поляриметрии и матрицы когерентности исследовано влияние амплитудной анизотропии нанопористых пленок оксида алюминия и деполяризации прошедшего излучения на разность фаз ортогонально поляризованных компонент излучения, прошедшего исследуемые пленки. Образцы освещались под углами от 0 до 60° линейно поляризованным излучением с азимутом поляризации 45° в диапазоне длин волн 400-1000 нм. Определена систематическая погрешность, вносимая в разности фаз ортогонально поляризованных компонент прошедшего излучения вследствие неучета амплитудной анизотропии материала и деполяризации излучения.

Об авторах

В. А. Длугунович
Институт физики НАН Беларуси
Россия


А. Ю. Жумарь
Институт физики НАН Беларуси
Россия


Н. И. Мухуров
ГНПО “Оптика, оптоэлектроника и лазерная техника”
Россия


Список литературы

1. Nanoporous Alumina: Fabrication, Structure, Properties and Applications, Ed. D. Losic, A. Santos, Springer Series in Materials Science, 219 (2015)

2. V. Sokol, S. Gaponenko, V. Yakovtseva, G. Litvinovich, S. Prislopsky, A. Lutich. Proc. SPIE, 7377 (2009) 73770R

3. S. Gaponenko. Introduction to Nanophotonics, Cambridge University Press (2010)

4. S. D. Kulkarni, K. S. Choudhari, C. Santhosh. Proc. Mat. Sci., 5 (2014) 988--994

5. I. Maksymov, J. Ferré-Borrull, J. Pallarès, L. F. Marsal. Photon. Nanostruct. Fundam. Appl., 10 (2012) 459--462

6. A. Santos, T. Kumeria, D. Losic. Materials, 7 (2014) 4297--4320

7. В. А. Длугунович, А. Ю. Жумарь, С. Н. Курилкина, Н. И. Мухуров. Журн. прикл. спектр., 82, № 5 (2015) 766--772

8. Л. А. Головань, В. Ю. Тимошенко, П. К. Кашкаров. УФН, 177 (2007) 619--638

9. М. Борн, Э. Вольф. Основы оптики, Москва, Наука (1973)

10. A. A. Lutich, M. B. Danailov, S. Volchek, V. A. Yakovtseva, V. A. Sokol, S. V. Gaponenko. Appl. Phys., B84 (2006) 327--331

11. A. A. Lutich, I. S. Molchan, N. V. Gaponenko, S. V. Gaponenko. Proc. SPIE, 6258 (2006) 62580J

12. В. Н. Снопко. Поляризационные характеристики оптического излучения и методы их измерения, Минск, Наука и техника (1992)

13. D. H. Goldstein. Polarized Light, Taylor and Francis Group, LLC (2011)

14. N. I. Mukhurov, I. V. Gasenkova, I. M. Andrukhovich. J. Mater. Sci. Nanotechnol., 1 (2014) 110--116

15. В. Н. Снопко. Измерит. техника, № 12 (2008) 19--22


Для цитирования:


Длугунович В.А., Жумарь А.Ю., Мухуров Н.И. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ОПТИЧЕСКОЙ АНИЗОТРОПИИ НАНОПОРИСТЫХ ПЛЕНОК ОКСИДА АЛЮМИНИЯ МЕТОДАМИ СТОКС-ПОЛЯРИМЕТРИИ И МАТРИЦЫ КОГЕРЕНТНОСТИ. Журнал прикладной спектроскопии. 2018;85(5):836-842.

For citation:


Dlugunovich V.A., Zhumar A.Yu., Mukhurov N.I. EVALUATION OF OPTICAL ANISOTROPY OF ALUMINA NANOPOROUS FILMS BY STOKES-POLARIMETRY AND COHERENCE MATRIX METHODS. Zhurnal Prikladnoii Spektroskopii. 2018;85(5):836-842. (In Russ.)

Просмотров: 85


ISSN 0514-7506 (Print)