Влияние плотности поверхностных V-дефектов на лазерные свойства гетероструктур InGaN/GaN с множественными квантовыми ямами, выращенных на кремниевых подложках
https://doi.org/10.47612/0514-7506-2021-88-6-895-899
Аннотация
Исследованы излучательные свойства гетероструктур InGaN/GaN с множественными квантовыми ямами (МКЯ), выращенных на кремниевых подложках, с различными толщинами квантовых ям при оптическом возбуждении. Установлена корреляция лазерных и фотолюминесцентных свойств с морфологией поверхности покровных слоев нитрида галлия и плотностью V-дефектов. Показано, что с ростом плотности V-дефектов происходит увеличение пороговой плотности мощности возбуждения генерации гетероструктур InGaN/GaN с МКЯ.
Об авторах
А. В. ДанильчикБеларусь
Минск
А. В. Нагорный
Беларусь
Минск
Н. В. Ржеуцкий
Беларусь
Минск
А. Г. Войнилович
Беларусь
Минск
В. Н. Павловский
Беларусь
Минск
Е. В. Луценко
Беларусь
Минск
Список литературы
1. O. Moutanabbir, U. Gösele. Ann. Rev. Mater. Res., 40 (2010) 469—500
2. E. V. Lutsenko, V. N. Pavlovskii, V. Z. Zubialevich, A. I. Stognij, A. L. Gurskii, V. A. Hryshanau, A. S. Shulenkov, G. P. Yablonskii, O. Schön, H. Protzmann, M. Lünenbürger, B. Schineller, Y. Dikme, R. H. Jansen, M. Heuken. Phys. Status Solidi (c), N 1 (2002) 272—275
3. A. L. Gurskii, E. V. Lutsenko, V. N. Pavlovskii, V. Z. Zubialevich, A. G. Ryabtsev, G. I. Ryabtsev, G. P. Yablonskii, Y. Dikme, A. Szymakovski, H. Kalisch, R. H. Jansen, B. Schineller, M. Heuken. Int. Symp. Compd. Semicond. Post-Conf. Proc., 25–27 August, San Diego, USA IEEE (2003) 197—203
4. S. Guha, N. A. Bojarczuk. Appl. Phys. Lett., 73, N 11 (1998) 1487—1489
5. Dabing Li. Sci. Bull., 61, N 22 (2016) 1723—1725
6. E. V. Lutsenko, A. V. Danilchyk, N. P. Tarasuk, A. V. Andryieuski, V. N. Pavlovskii, A. L. Gurskii, G. P. Yablonskii, H. Kalisch, R. H. Jansen, Y. Dikme, B. Schineller, M. Heuken. Phys. Status Solidi, 5, N 6 (2008) 2263—2266
7. V. N. Pavlovskii, E. V. Lutsenko, A. V. Danilchyk, V. Z. Zubialevich, A. V. Muravitskaya, G. P. Yablonskii, H. Kalisch, R. H. Jansen, B. Schineller, M. Heuken. Int. Conf. Adv. Optoelectron. Lasers, 10–14 September, Sevastopol, Ukraine IEEE (2010) 265—267
8. V. Voronenkov, N. Bochkareva, R. Gorbunov, P. Latyshev, Y. Lelikov, Y. Rebane, A. Tsyuk, A. Zubrilov, Y. Shreter. Jpn. J. Appl. Phys., 52, N 8(2) (2013) 10—14
9. H. Wang, Q. Tan, X. He. JETP Lett., 112, N 3 (2020) 157—160
10. S. W. Chen, C. J. Chang, T. C. Lu. Crystals, 10, N 4 (2020) 311—321
11. X. Wang, F. Liang, D. Zhao, Z. Liu, J. Zhu, J. Yang. Nanoscale Res. Lett., 15, N 1 (2020) 191—201
12. Hung Ling Tsai, Ting Yu Wang, Jer Ren Yang, Chang Cheng Chuo, Jung Tsung Hsu, Zhe Chuan Feng, Makoto Shiojiri. Mater. Transact., 48, N 5 (2007) 894—898
Рецензия
Для цитирования:
Данильчик А.В., Нагорный А.В., Ржеуцкий Н.В., Войнилович А.Г., Павловский В.Н., Луценко Е.В. Влияние плотности поверхностных V-дефектов на лазерные свойства гетероструктур InGaN/GaN с множественными квантовыми ямами, выращенных на кремниевых подложках. Журнал прикладной спектроскопии. 2021;88(6):895-899. https://doi.org/10.47612/0514-7506-2021-88-6-895-899
For citation:
Danilchyk A.V., Nagornyi A.V., Rzheutskyi N.V., Voinilovich A.G., Pavlovskyi V.N., Lutsenko E.V. Effect of the density of surface V-defects on laser properties of InGaN/GaN heterosctructures with multiple quantum wells grown on silicon substrates. Zhurnal Prikladnoii Spektroskopii. 2021;88(6):895-899. (In Russ.) https://doi.org/10.47612/0514-7506-2021-88-6-895-899