Preview

Журнал прикладной спектроскопии

Расширенный поиск

Поиск


Сортировать по:     
 
Выпуск Название
 
Том 87, № 4 (2020) МЕХАНИЗМ АДГЕЗИОННОГО ВЗАИМОДЕЙСТВИЯ ПЛЕНОК ДИАЗОХИНОННОВОЛАЧНОГО ФОТОРЕЗИСТА С МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИМ КРЕМНИЕМ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
С. Д. Бринкевич, Е. В. Гринюк, Д. И. Бринкевич, Р. Л. Свердлов, В. С. Просолович, А. Н. Петлицкий
"... FN9120 diazoquinon-novoloc photoresist films on silicon were studied by the method of IR- Fourier ..."
 
Том 87, № 6 (2020) Спектры нарушенного полного внутреннего отражения пленок диазохинон-новолачного фоторезиста Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
С. Д. Бринкевич, Д. И. Бринкевич, В. С. Просолович, С. Б. Ластовский, А. Н. Петлицкий
"... studied the radiation-induced effects in thin films of diazoquinon-novoloc photoresists on the silicon ..."
 
Том 90, № 6 (2023) Инфракрасная Фурье-спектроскопия структур фоторезист/кремний, используемых для обратной литографии Аннотация  похожие документы
Д. И. Бринкевич, Е. В. Гринюк, С. Д. Бринкевич, В. С. Просолович, В. В. Колос, О. А. Зубова, С. Б. Ластовский
"... Photoresist (PR) NFR 016D4 films deposited on the surface of silicon wafers by centrifugation have ..."
 
Том 86, № 6 (2019) ПРЕОБРАЗОВАНИЕ ПОЛЯРИЗАЦИИ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ПРИ ВОЗБУЖДЕНИИ ПОВЕРХНОСТНЫХ ПЛАЗМОН-ПОЛЯРИТОНОВ НА МЕТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКЕ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
И. З. Индутный, В. И. Минько, Н. В. Сопинский, Е. В. Свеженцова
"... by means of interference lithography using chalcogenide photoresists. The polarization conversion effect ..."
 
Том 84, № 1 (2017) ФОТОЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ ГИБРИДНЫХ СТРУКТУР ПОРИСТЫЙ КРЕМНИЙ-ОКСИД ЦИНКА Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
И. Б. Оленич, Л. С. Монастырский, А. П. Лучечко
"... on the surface of porous silicon by electrochemical deposition. Photoluminescence excitation and emission spectra ..."
 
Том 87, № 6 (2020) Оптические характеристики собственных дефектов 4H-SiC, облученного 10-МэВ электронами с последующим отжигом Аннотация  похожие документы
Y. Zhang, K. Wang, H. Wang, Y. Tian, Y. Wang, J. Li, Y. Chai
 
Том 85, № 1 (2018) СТЕХИОМЕТРИЯ ПЛЕНОК ДИОКСИДА КРЕМНИЯ, ПОЛУЧЕННЫХ ИОННО-ЛУЧЕВЫМ РАСПЫЛЕНИЕМ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Е. В. Телеш, А. П. Достанко, О. В. Гуревич
"... -beam sputtering (IBS) of silicon and quartz targets. Films of 150-390 nm were formed on silicon ..."
 
Том 87, № 1 (2020) СПЕКТРОСКОПИЯ ОПТИЧЕСКОГО ДЕТЕКТИРОВАНИЯ МАГНИТНОГО РЕЗОНАНСА В КАРБИДЕ КРЕМНИЯ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ РАЗВЕРТКИ ТЕМПЕРАТУРЫ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
И. Д. Бреев, А. Н. Анисимов, Р. А. Бабунц, П. Г. Баранов
"... in silicon carbide. The detection process is based on the natural mechanism of optical alignment of spin ..."
 
Том 86, № 1 (2019) АНАЛИЗ ПОВЕРХНОСТИ КРЕМНИЯ, ИМПЛАНТИРОВАННОГО ИОНАМИ КИСЛОРОДА И ГЕЛИЯ, МЕТОДОМ СПЕКТРАЛЬНОЙ ЭЛЛИПСОМЕТРИИ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
В. В. Базаров, В. И. Нуждин, В. Ф. Валеев, Н. М. Лядов
"... The results of studies by the method of spectral ellipsometry of a surface of silicon implanted ..."
 
Том 84, № 5 (2017) АНАЛИЗ ПОВЕРХНОСТИ КРЕМНИЯ, ИМПЛАНТИРОВАННОГО ИОНАМИ СЕРЕБРА, ПО СПЕКТРАМ ОПТИЧЕСКОГО ОТРАЖЕНИЯ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
А. Л. Степанов, В. В. Воробьев, В. И. Нуждин, В. Ф. Валеев, Ю. Н. Осин
"... The optical reflection of surface of silicon implanted with Ag+ ions at low energy of 30 keV ..."
 
Том 86, № 5 (2019) ТРАНСФОРМАЦИЯ СТРУКТУРНЫХ ДЕФЕКТОВ И СОСТОЯНИЯ ВОДОРОДА ПРИ ТЕРМООБРАБОТКЕ ГИДРОГЕНИЗИРОВАННОГО КРЕМНИЯ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
Ю. М. Покотило, А. Н. Петух, О. Ю. Смирнова, Г. Ф. Стельмах, В. П. Маркевич, О. В. Королик, И. А. Свито, A. M. Saad
"... , hydrogen state, and electro-physical properties of silicon treated in a hydrogen plasma. It is established ..."
 
Том 87, № 2 (2020) ИНТЕРФЕРЕНЦИЯ ЛЮМИНЕСЦЕНТНОГО СВЕЧЕНИЯ ДИОКСИДА КРЕМНИЯ ПРИ РЕАКТИВНОМ ИОННО-ПЛАЗМЕННОМ ТРАВЛЕНИИ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
А. В. Абрамов, Е. А. Панкратова, И. С. Суровцев
"... The article presents the results of a study of luminescent glow of silicon dioxide during of its ..."
 
Том 90, № 6 (2023) Спектрально-зарядовые свойства гетероструктуры диоксид титана/кремний при облучении солнечным светом Аннотация  похожие документы
А. А. Курапцова, А. Л. Данилюк
"... (TiO2) film on a p-type silicon substrate in the solar radiation wavelength range of 300–1200 nm ..."
 
Том 89, № 4 (2022) ИК-прозрачность островко- вых структур Si/SiO2/Si3N4/Si, сформированных методом селективного лазерного отжига Аннотация  похожие документы
А. И. Мухаммад, П. И. Гайдук, О. Ю. Наливайко, В. В. Колос
"... alloyed regions of recrystallized silicon in the surface layer. Analysis of dispersion curves obtained ..."
 
Том 90, № 1 (2023) Атомарная и ионная люминесценция диспрозия при сонолизе одиночным движущимся пузырьком коллоидной суспензии наночастиц, содержащих хлорид диспрозия Аннотация  похожие документы
Б. М. Гареев, А. М. Абдрахманов, Л. Р. Якшембетова, Г. Л. Шарипов
 
Том 91, № 2 (2024) ИК-Фурье-спектроскопия нарушенного полного внутреннего отражения пленок полиимида на пластинах монокристаллического кремния Аннотация  похожие документы
В. С. Просолович, Д. И. Бринкевич, Е. В. Гринюк, С. Д. Бринкевич, В. В. Колос, О. А. Зубова, С. Б. Ластовский
"... silicon wafers by centrifugation are studied. The films were irradiated by electrons with energy of 5 MeV ..."
 
Том 91, № 2 (2024) Поглощение ИК-излучения в структурах Ti/(Si)/SiO2/Si3N4/n+-Si с островковым поверхностным слоем различной горизонтальной геометрии Аннотация  похожие документы
А. И. Мухаммад, П. И. Гайдук
"... of bonds  in the dielectric layer. An additional layer of undoped silicon with thickness up to 200 nm ..."
 
Том 91, № 2 (2024) Субстраты для спектроскопии гигантского комбинационного рассеяния на основе покрытого наночастицами серебра пористого кремния для обнаружения низкой концентрации белка денге NS1 Аннотация  похожие документы
N. F. Ismail, K. Y. Lee, N. S. M. Hadis, L. N. Ismail, A. F. A. Rahim, M. H. Abdullah, A. R. M. Radzol
"... surface-enhanced Raman spectroscopy (SERS) and silicon (Si) as a low-cost, abundant material, a nano ..."
 
Том 85, № 5 (2018) ПОВЫШЕНИЕ ТОЧНОСТИ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КР-СДВИГА НА ОСНОВЕ МЕТОДА СРАВНИТЕЛЬНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ В РЕАЛЬНОМ МАСШТАБЕ ВРЕМЕНИ Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
X. . Ding, F. . Li, J. . Li, W. . Liu
"... of monocrystalline silicon and a sample of polystyrene. Experimental results indicate that the accuracy limit ..."
 
Том 86, № 1 (2019) УСИЛЕНИЕ КОМБИНАЦИОННОГО РАССЕЯНИЯ СВЕТА С ПРИМЕНЕНИЕМ Au/Si-Ge- И Au/Ge-НАНОСТРУКТУР Аннотация  PDF (Rus)  похожие документы
А. С. Мацукович, О. Ю. Наливайко, К. В. Чиж, С. В. Гапоненко
"... of chemical deposition of SiGe and Ge layers from the gaseous phase under reduced pressure on silicon ..."
 
1 - 20 из 50 результатов 1 2 3 > >> 

Советы по поиску:

  • Поиск ведется с учетом регистра (строчные и прописные буквы различаются)
  • Служебные слова (предлоги, союзы и т.п.) игнорируются
  • По умолчанию отображаются статьи, содержащие хотя бы одно слово из запроса (то есть предполагается условие OR)
  • Чтобы гарантировать, что слово содержится в статье, предварите его знаком +; например, +журнал +мембрана органелла рибосома
  • Для поиска статей, содержащих все слова из запроса, объединяйте их с помощью AND; например, клетка AND органелла
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или NOT; например. клетка -стволовая или клетка NOT стволовая
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки; например, "бесплатные издания". Совет: используйте кавычки для поиска последовательности иероглифов; например, "中国"
  • Используйте круглые скобки для создания сложных запросов; например, архив ((журнал AND конференция) NOT диссертация)